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B 6210-2 : 2021 (ISO 3070-2 : 2016)
目的及び試験条件 G3
ラム運動(Z軸)の真直度誤差の試験
a) 垂直YZ面内で(EYZ)
b) 水平ZX面内で(EXZ)
測定方法図
a) b)
許容値 測定値
測定長さ a)
≦1 000 ≦1 500 ≦2 000 b)
a)及びb) 0.02 0.03 0.04
部分許容値 : 測定長さ300について0.006
測定長さが2 000を超える場合,その許容値は受渡当事者間の協定による。
測定器
直定規,ダイヤルゲージ及びブロックゲージ,又は光学式測定器
測定手順
JIS B 6190-1:2016の8.2.2.1及び8.2.2.3参照。
直定規の使用面は,a)については水平にし,b)については垂直にして,テーブル上でラム運動(Z軸)と平行に定
置しなければならない。そうしない場合は,測定においては平行度の狂いを考慮しなければならない。
ダイヤルゲージは,主軸を固定できる場合は,主軸に取り付け,主軸を固定できない場合は,ラム端面に取り付
ける。測定子は,直定規の使用面に対して直角に当てなければならない。
測定は,移動に沿って少なくとも六つの位置で,300を超えないピッチで等間隔に行わなければならない。
測定した位置は,記録する。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 11] ―――――
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B 6210-2 : 2021 (ISO 3070-2 : 2016)
目的及び試験条件 G4
ラム(Z軸)運動の角度誤差の試験
a) 垂直YZ面内で(EAZ)(ピッチ)
b) 垂直XY面内で(ECZ)(ロール)
c) 水平ZX面内で(EBZ)(ヨー)
測定方法図
1 2 X X
Z Z
-Z -Z
+Z +Z
3 4
a)及びb) c)
記号説明
1 基準用精密水準器
2 測定用精密水準器
3 オートコリメータ
4 反射鏡
許容値 測定値
測定長さ a)
≦1 000 ≦1 500 ≦2 000 b)
a) AZ 0.06/1 000 0.08/1 000 0.10/1 000 c)
b) CZ及びc) BZ 0.04/1 000 0.05/1 000 0.06/1 000
測定長さが2 000を超える場合,その許容値は受渡当事者間の協定による。
測定器
a) 精密水準器,レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器
b) 精密水準器
c) レーザ干渉計又は光学式角度偏差測定器
測定手順
JIS B 6190-1:2016の3.4.16及び8.4参照。
測定用精密水準器はラム上に定置し,反射鏡はラム端面に取り付けなければならない。
a) 軸方向(EAZ)(ピッチ)(光学式測定器は,垂直面内に設置)
b) 軸方向(ECZ)(ロール)
c) X面内(EBZ)(ヨー)(光学式測定器は,水平面内に設置)
基準用精密水準器は,Z軸運動が工作物側の固定部分が角度変位を起こさないことを確認するために,固定テー
ブル(工作物定盤)上に定置する。角度変位が検出された場合は,それぞれの角度変位の差も測定し,それを記録
する。
a),b)及びc)について,測定は,移動に沿って等間隔に少なくとも六つの位置で行わなければならない。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 12] ―――――
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B 6210-2 : 2021 (ISO 3070-2 : 2016)
目的及び試験条件 G5
主軸頭運動(Y軸)の真直度誤差の試験
a) 主軸に平行な垂直YZ面内で(EZY)
b) 主軸に直角な垂直XY面内で(EXY)
測定方法図
2 X
Z
1
+Y +Y Y
Z
-Y -Y
a) b)
記号説明
1 鋼線
2 測微顕微鏡
許容値 測定値
測定長さ a)
≦2 000 ≦3 000 ≦4 000 ≦5 000 ≦6 000 b)
a)及びb) 0.03 0.04 0.05 0.07 0.09
測定長さが6 000を超える場合,その許容値は受渡当事者間の協定による。
測定器
測微顕微鏡及び鋼線,又は光学式測定器
測定手順
JIS B 6190-1:2016の8.3,8.2.2.2又は8.2.2.3参照。
ラム(Z軸)は,主軸を引っ込めたまま,移動範囲の中央に置かなければならない。
鋼線は,固定テーブル(工作物定盤)とコラムから離れた機械の固定部分との間に強く張らなければならない。
測微顕微鏡又はアライメント望遠鏡の反射鏡は,主軸を固定できる場合は,主軸に取り付け,主軸を固定できな
い場合は,ラム端面に取り付ける。
測定した位置は,記録する。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 13] ―――――
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B 6210-2 : 2021 (ISO 3070-2 : 2016)
目的及び試験条件 G6
主軸頭運動(Y軸)の角度誤差の試験
a) 主軸と平行な垂直YZ面内で(EAY)
b) 主軸と直角な垂直XY面内で(ECY)
c) 水平ZX面内(EBY)(ロール)
測定方法図
記号説明
1 基準用精密水準器
2 測定用精密水準器
3 円筒スコヤ
2d 測定距離
a)及びb) a),b)及びc)
許容値 測定値
測定長さ a)
≦2 000 ≦3 000 ≦4 000 ≦5 000 ≦6 000 b)
0.04/1 000 0.04/1 000 0.04/1 000 0.05/1 000 0.06/1 000 c)
測定長さが6 000を超える場合,その許容値は受渡当事者間の協定による。
測定器
a)及びb) 精密水準器又は光学式角度偏差測定器
c) 定盤,円筒スコヤ,精密水準器及びダイヤルゲージ,鋼線及び測微顕微鏡,又は走査形アライメントレーザ
測定手順
JIS B 6190-1:2016の3.4.16及び8.4参照。
a),b)及びc)について,測定は,移動に沿って少なくとも六つの位置で,500を超えないピッチで等間隔に行わな
ければならない。
a)及びb)について : 精密水準器は,a)についてはZ軸方向に,b)についてはX軸方向にそれぞれ主軸頭上に水平
に定置する。基準用精密水準器は,Y軸運動が工作物側の固定部分に角度変位を起こさないことを確認するために,
測定用精密水準器と同じ方向に固定テーブル(工作物定盤)上に定置しなければならない。Y軸運動は,固定テー
ブル(工作物定盤)の任意の部分又は回転テーブルのベッドが角度変位を起こすかどうかを確認するために,両方
の精密水準器でY軸を何回か運動させる必要がある。このとき,二つの角度変位の差も測定し,記録する。
c)について : 主軸から水平に距離dだけ離して特殊ジグに取り付けた測定器を用いてY軸の真直度偏差EZYを測
定する。測定は,次のいずれかで行う。
1) 定盤上に立てた円筒スコヤにダイヤルゲージを当てて測定する。
2) 垂直に張った鋼線を対象として測微顕微鏡で測定する。
3) 光学的なXY平面を生成する走査形アライメントレーザによって測定する。
主軸頭の移動量(Y軸)の読みと関連する測定位置に注意する。特殊ジグを取り付けたままで主軸を反対側まで
回し,同じ基準に対して同じ読みが得られるようにするためにX軸を約2d移動させる。起こり得るX軸運動のロ
ールを測定し,考慮しなければならない。3)については,X軸運動の移動は必要ない。測定器をリセットし,新し
い測定値を以前のものと同じ高さで測定し,記録する。各測定位置について,二つの読みの差を計算し,角度誤差
を求めるために距離2dで除した値の最大差を計算する。
ソフトウェア補正していない工作機械については,Y軸のロールは,Z軸オフセットを用いて2回のEXY測定を
行って測定することが可能である。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 14] ―――――
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B 6210-2 : 2021 (ISO 3070-2 : 2016)
7.2 二つの直進軸間の直角度誤差及び平行度誤差
目的及び試験条件 G7
主軸頭運動(Y軸)とコラム運動(X軸)との直角度誤差[EC(0X) Y]の試験
測定方法図
Y
+Y
X
-Y
許容値 測定値
0.04/1 000
測定器
直角定規,直定規,調整ブロック及びダイヤルゲージ
測定手順
JIS B 6190-1:2016の10.3.2参照。
直定規は,調整ブロックを使用してテーブル上にコラム運動(X軸)と平行に定置しなければならない。そうし
ない場合は,測定値に平行度の狂いを考慮しなければならない。
ダイヤルゲージは,主軸を固定できる場合は,主軸に取り付け,主軸を固定できない場合は,ラム端面に取り付
ける。
ダイヤルゲージの測定子を直角定規に当て,X軸方向の読みを取る。Y軸を直角定規の一端に近づくように配置
し,ダイヤルゲージをゼロにする。
直角定規のもう一方の端に近づくようにY軸を移動させて,読みを取る。測定した直角度誤差EC(0X) Yは,ダイヤ
ルゲージの読みとY軸の移動距離との比である。
――――― [JIS B 6210-2 pdf 15] ―――――
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- ISO 3070-2:2016(IDT)
JIS B 6210-2:2021の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.080 : 工作機械 > 25.080.20 : 中ぐり盤及びフライス盤
JIS B 6210-2:2021の関連規格と引用規格一覧
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