この規格ページの目次
JISC0030:1995の概要
JIS C 0030:1995の規格概要
閲覧 情報
発熱のない供試品及び発熱のある供試品の両者に適用する低温[急激な又は緩やかな温度変化を伴う。]及び減圧を複合した試験方法について規定。試験の目的は,部品,機器又は他の製品を低温及び減圧を同時複合した状態で貯蔵したり,使用することができる能力を判定すること。この複合試験は,通常,複合環境の影響が,単一の環境で供試品を試験しても現れ
JISC0030:1995 規格票全文情報
- 規格番号
- JIS C 0030:1995
- 規格名称
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 低温・減圧複合試験方法
- 規格名称英語訳
- Environmental testing Part 2: Tests, Test Z/AM: Combined cold/low air pressure tests
- 規格の状態
- 有効
- 公示の種類
- 移行
- 公示の説明
- 制定年月日
- 1990年01月01日
- 最新改正年月日
- 1995年06月01日
- 最新確認年月日
- 2001年02月20日
- 主務大臣
- -
- JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。
- 改訂:履歴
- 1990-01-01(制定), 1995-06-01(改正), 2001-02-20(確認), 2004-03-20(移行)
- JIS 規格票
- C0030, JIS C 0030
- 引用JIS規格
- C0010,C0020,C0029,C0095
- 引用国際規格
- IEC 68,IEC 68-1,IEC 68-2-1,IEC 68-2-13,IEC 68-3-1,IEC 68-3-2
- 対応国際規格
- IEC 60068-2-40:1976(IDT),IEC 60068-2-40:1976/AMENDMENT 1:1983(IDT)
- 同等性に関する説明 (IDT)
- IDT: identical(一致)
- 以下の場合、地域又は国家規格は国際規格と一致している。
- a) 地域又は国家規格が、技術的内容、構成及び文言において一致している。又は、
- b) 地域又は国家規格が、ISO/IEC GUIDE 21-1:2005の4.2節に規定した最小限の編集上の変更はあるが、技術的内容において一致している。「逆も同様の原理」があてはまる。
- 国際規格分類
ICS
- 19.040,19.080
- 関連法規
- -
- 正誤票・訂正票
- -
- JISハンドブック
- -
- ページ
- JIS C 0030:1995 PDF [8ページ]
- 原案作成団体
- [一般財団法人] 日本電子部品信頼性センター
JISC0030:1995 改訂 履歴 一覧
- JIS C 0030:1995
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 低温・減圧複合試験方法
JISC0030:1995 関連規格と引用規格一覧
- JIS C 0010:1993
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 通則
- JIS C 0020:1995
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 低温(耐寒性)試験方法
- JIS C 0029:1989
- 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
- JIS C 0095:1995
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 低温試験及び高温試験を理解するための必す(須)情報
JISC0030:1995 引用 国際規格 一覧
- IEC 68
- IEC 68-1
- IEC 68-2-1
- IEC 68-2-13
- IEC 68-3-1
- IEC 68-3-2
JISC0030:1995 対応 国際規格 一覧
- IEC 60068-2-40:1976(IDT)
- IEC 60068-2-40:1976/AMENDMENT 1:1983(IDT)