JIS C 1612:2000 放射温度計の性能試験方法通則 | ページ 9

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                        x c2
                    A
                        y
                           z
                        x
                        y
                    B     A
                        x
                            1
                    C   exp
                            x
c) 銅点又は銀点黒体炉での校正値による定数Cの再決定 附属書2の4.1 d)又は4.2 b)で求めた定数A,
    Bを用い,銅点又は銀点(温度Tc)黒体炉による校正値をVcとして定数Cを次の式で再決定する。
                                     c2
                        C  Vc  exp           (78)
                                   ATc  B

9. 定点黒体炉の種類及び構成例

 定点黒体炉の種類と凝固温度及び標準温度計による測定値のばらつき
は,次による。
                                 附属書3表4 定点黒体炉の種類
                     種類                   凝固温度               ばらつき (2
                亜鉛点             692.677 K         419.527 ℃     ±0.5℃
                アルミニウム点     933.473 K         660.323 ℃     ±0.2℃
                銀点              1 234.93 K         961.78 ℃      ±0.2℃
                銅点              1 357.77 K        1 084.62 ℃     ±0.2℃

――――― [JIS C 1612 pdf 41] ―――――

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                               附属書3図21 定点黒体炉の構成例

10. 構造の表示

10.1 構成

 検出器と変換器が分離した分離形,検出器と表示器機能が一体となった一体形のいずれかを
表示する。手持ち測定するものは,携帯形を表示する。

10.2 光学系

 集光方式はレンズ式,ミラー式,ライトガイド式,光ファイバ式又はこれらを併用した方
式のいずれかを表示する。必要に応じて,レンズなどの材質及び構成を併記する。結像方式は,レンズ又
はミラーと検出素子の距離が固定されている固定焦点式又はその距離を調節できる可動焦点式のいずれか
を表示する。

――――― [JIS C 1612 pdf 42] ―――――

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10.3 照準

 標的を正しく視定する機構(附属書3の1.4参照)をもつ場合は,その方式を表示する。

10.4 フィルタ

 フィルタを使用している場合には,種類,構成及び主な特性を表示する。主な特性とし
て,帯域フィルタは中心波長及び半値幅を,カットフィルタは遮断波長を表示し,必要に応じて透過率を
併記する。

10.5 検出素子

 検出素子の名称又は略称を表示する。名称又は略称は,熱電形検出素子のサーモパイル,
サーミスタ・ボロメータ,焦電素子及び光電形検出素子のSi,InGaAs,Ge,PbS,PbSe,InAs,InSb,HgCdTe
などとする。

10.6 信号処理系

 放射率補正機構,信号の一定時間内の最高値,平均値,最低値などの保持機構,外部
同期機構,設定値に対する制御,警報などの電気信号発生機構及び検出信号のリニアライザの有無を表示
する。

10.7 入出力系

 温度表示及び電気信号の有無並びにそれぞれについてアナログ,ディジタルの別とその
形態を表示する。ディジタルの場合は通信方式を明示する。

10.8 附属品

 次に示す附属品のうち,採用しているものの名称を表示する。必要に応じて機能又は性能
を併記する。
a) 検出器固定用金具及び架台
b) 検出器保護筒
c) 水冷ジャケット
d) エアパージ機構
e) のぞき筒(サイティングチューブ)
f)  その他,補助光学系など

――――― [JIS C 1612 pdf 43] ―――――

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                                    原案作成委員会 構成表
                                   氏名                           所属
     (委員長)              藤 村 貞 夫       東京大学工学部
     (副委員長)            小 野     晃      工業技術院計量研究所
     (主査)                後 藤 昌 彦       玉川大学工学部
                             大 塚 美枝子      東亜大学大学院総合技術専攻
                             永 松 荘 一       通商産業省機械情報産業局
                             橋 爪 邦 隆       工業技術院標準部
                             橋 本     進      財団法人日本規格協会技術部
                             佐久間 史 洋      工業技術院計量研究所
                             斉 藤 尚 子       日本電気計器検定所
                             堀    友 繁       雪印乳業株式会社技術研究所
                             平 本 一 男       住友金属工業株式会社システム事業部
                             上    義 明       松下電子工業株式会社技術本部電子総合研究所
                             福 高 善 己       川崎製鉄株式会社水島製鉄所
                             高 田     章      旭硝子株式会社中央研究所
                             小 川 実 吉       株式会社横河総合研究所
     (幹事)                高 橋 克 友       大倉電気株式会社計測制御事業部
                             笠 井     豊      NEC三栄株式会社技術本部
                             芝 田 智 夫       川惣電機工業株式会社計測第一事業部
                             服 部     晋      株式会社チノー品質管理本部
                             佐々木 正 直      東京精工株式会社生産部
                             野 村 俊 行       株式会社堀場製作所分析システム統括部
                             村 田 敏 廣       ミノルタ株式会社計測機器事業部
                             若曽根 和 之      社団法人日本電気計測器工業会
     (事務局)              勝 田 敏 江       社団法人日本電気計測器工業会