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C 2143-3 : 2013 (IEC 60216-3 : 2006)
表D.1−実施例1−不完全データ(保証試験)(続き)
k
ik
0.886 814 007 835 (29)
i 1
k
2
nixi 0.000 170 463 415 664
i 1
k
2
niyi 2986.411 838 81
i 1
k
niy
xi i 0.711 293 042 041
i 1
k
M mi 63 (28)
i1
k
in
N 49 (25)
i1
k
nixi N 0.001 864 375 319 83 (26)
i 1
k
niyi N 7.761 832 390 07 (27)
i1
b 15327.985 78 (33)
a −20.815 286 004 4 (34)
2
1s
0.647 296 300 122 (30)
2
2s
0.395 498 398 826 (36)
F 0.611 000 555 311 (40)
χ2 0.554 692 947 413 (38)
c 1.031 619 329 65 (39)
t0.95, N−2
1.677 926 722 (43)
tc 1.738 953 340 31 (43)
μ2(x) 2.949 884 440 3×10−9 (31)
s2 0.641 938 897 967 (41)
TI 225.827 791 333 (50)
TC c 214.550 619 764 (50)
HIC 11.518 995 303 8 (53)
(TI−TC)/HIC 0.979 006 525 432
TIa 221.462 017 221 (55)
結果 TI (HIC): 221.5 (11.5)
――――― [JIS C 2143-3 pdf 31] ―――――
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C 2143-3 : 2013 (IEC 60216-3 : 2006)
表D.2−実施例2−完全データ(非破壊試験)
椀 180 200 220
xi 0.002 206 774 799 0.002 113 494 663 0.002 027 780 594
j τij yij τij yij τij yij
1 7 410 8.910 585 718 3 200 8.070 906 089 1 100 7.003 065 459
2 6 610 8.796 338 933 2 620 7.870 929 597 740 6.606 650 186
3 6 170 8.727 454 117 2 460 7.807 916 629 720 6.579 251 212
4 5 500 8.612 503 371 2 540 7.839 919 360 620 6.429 719 478
5 8 910 9.094 929 520 3 500 8.160 518 247 910 6.813 444 599
mi 5 5 5
ni 5 5 5
攀椀 1 1 1
ni
ijy
44.141 811 66 39.750 189 92 33.432 130 93
j 1
ni
2
ijy
389.835 529 1 316.113 013 5 223.741 618
j 1
iy
8.828 362 332 7.950 037 984 6.686 426 187
2
1is
0.033 905 452 03 0.002 437 344 2 0.005 003 578 14
――――― [JIS C 2143-3 pdf 32] ―――――
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C 2143-3 : 2013 (IEC 60216-3 : 2006)
表D.2−実施例2−完全データ(非破壊試験)(続き)
k
ik
1 (29)
i 1
k
2
nixi 6.724 304 421 1×10−5
i 1
k
2
niyi 929.256 902 85
i 1
k
niy
xi i 0.249 215 878 14
i 1
k
M mi 15 (28)
i1
k
in
N 15 (25)
i1
k
nixi N 2.116 016 685 4×10−3 (26)
i 1
k
niyi N 7.821 608 834 4 (27)
i1
b 11929.077 582 (33)
a −17.420 518 37 (34)
2
1s
0.036 104 891 8 (30)
2
2s
0.188 563 697 29 (36)
F 5.222 663 409 (40)
F0 4.747
χ2 0.466 116 435 248 (38)
c 1.111 111 111 1 (39)
t0.95, N−21.770 933 396 2 (43)
tc 1.770 933 396 2 (43)
μ2(x) 5.343 001 171 0×10−9 (31)
2
as
0.051 199 586 08 (42)
TI 163.428 648 665 (50)
TCa c 158.670 330 155 (50)
HIC 11.363 255 775 6 (53)
(TI−TCa)/HIC 0.418 746 053 44
結果 TI (HIC): 163 (11.4) (54)
――――― [JIS C 2143-3 pdf 33] ―――――
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C 2143-3 : 2013 (IEC 60216-3 : 2006)
a) 実施例1
b) 実施例2
注記 a)の図では,直線は回帰方程式を,破線は推定温度の下側95 %信頼限界を示している。b)の図は,コンピュー
タ処理によって作成した。
図D.1−熱的耐久グラフ
――――― [JIS C 2143-3 pdf 34] ―――――
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C 2143-3 : 2013 (IEC 60216-3 : 2006)
表D.3の実施例は,破壊試験データに特有の計算の例証を与え,単一の試験温度との関連を説明する。
この計算からのデータ及びその他の試験温度からのデータは,実施例2(表D.2参照)と同様の計算に取
り込まれている。
表D.3−実施例3−完全データ(破壊試験)
終点70.0
τg 288 336 432 624 720
pgh 139.5 121.9 101.2 77.8 69.6
125 109.3 99.5 74.6 69.4
120.8 98.3 98.4 71.4 67.2
112.7 96.5 92.4 68.2 60.4
112 93 78.1 60.5 59.4
ng 5 5 5 5 5
pg 122.00 103.80 93.92 70.50 65.20
2
s1g 125.795 139.510 89.197 44.050 24.420
log τg 5.662 96 5.817 111 6.068 426 6.436 15 6.579 251
ni 25
z 6.112 8
p 91.084
bp −59.493 7
ap 454.756
2
1s
84.594
2
2s
77.266
F 0.913
F1 3.098
zgh 6.831 151 6.689 472 6.592 851 6.567 257 6.572 528
6.587 428 6.477 685 6.564 276 6.513 469 6.569 166
6.516 832 6.292 792 6.545 787 6.459 682 6.532 187
6.380 683 6.262 536 6.444 936 6.405 895 6.417 89
6.368 917 6.203 707 6.204 574 6.276 47 6.401 081
――――― [JIS C 2143-3 pdf 35] ―――――
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JIS C 2143-3:2013の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60216-3:2006(IDT)
JIS C 2143-3:2013の国際規格 ICS 分類一覧
- 19 : 試験 > 19.020 : 試験条件及び手順一般
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.220 : 電気学.磁気学.電気的及び磁気的測定 > 17.220.99 : 電気及び磁気学に関するその他の規格
JIS C 2143-3:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC2143-1:2015
- 電気絶縁材料―熱的耐久性―第1部:劣化処理手順及び試験結果の評価
- JISC2143-2:2011
- 電気絶縁材料―熱的耐久性―第2部:熱的耐久性の測定―評価指標の選択