JIS C 3660-401:2019 電気・光ファイバケーブル―非金属材料の試験方法―第４０１部：各種試験―加熱老化試験方法―エアオーブンによる加熱老化 | ページ 3

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C 3660-401 : 2019 (IEC 60811-401 : 2012,Amd.1 : 2017)
                 図A.1−方法2におけるエアオーブン中の空気流制御のための流量計

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                                               C 3660-401 : 2019 (IEC 60811-401 : 2012,Amd.1 : 2017)
                図A.2−方法2におけるエアオーブン中の空気流制御のための流量計の
                            毛細管(d=2 mm,l=70 mm)の校正図表

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C 3660-401 : 2019 (IEC 60811-401 : 2012,Amd.1 : 2017)
                                          附属書B
                                          (規定)
           銅導体付き試験片又は金属めっき銅導体付き試験片の準備
B.1   導体付き線心試験片の準備
  老化の後に,絶縁体を損傷せずに導体及びセパレータを除去できる場合は,十分な長さに切断した線心
の試験片を,老化なしの引張試験用として採取した試料に可能な範囲で隣接した位置からJIS C 3660-501
によって採取する。試験片は,4.2.3.2に示すように老化し,老化後,導体を取り去り,試験片の断面積を
JIS C 3660-501によって測定する。
B.2   老化後に導体と絶縁体又はセパレータとが接着している場合の試験片の準備
B.2.1 一般
  導体又はセパレータが除去できない場合は,絶縁体を損傷しないように老化し,表B.1に示す適切な準
備及び試験方法を適用する。
    表B.1−老化中に導体又はセパレータが接着し,試験片の準備が難しい場合の線心の老化試験概要
      JIS C 3664による銅導体のクラス及び導体の形状                   試験方法
  クラス1 : めっきなし導体                           B.2.2.1による,又はこの方法で接着問題が生じる場
                                                    合は,4.3による。老化後の巻付試験は,疑義が生じ
                                                    た場合に受け入れられる手順である。
  クラス1 : 金属めっき導体又はセパレータを巻いた導体 4.3による。
                                                    4.3による。
  クラス2 : めっきなし又は金属めっき線でセパレータあり又
           はなしの16 mm2以下の円形導体
  クラス2 : めっきなし又は金属めっき線で16 mm2を超える
                                                    4.2.3.3による。
           円形又は扇形導体
                                                    B.2.2.2による,又はこの試験方法で接着問題が生じ
  クラス5及びクラス6 : めっきなし又は金属めっき線でセパ
               レータあり又はなしの16 mm2以下の導体 る場合は,4.3による。老化後の巻付試験は,疑義が
                                                    生じた場合に受け入れられる手順である。
  クラス5及びクラス6 : めっきなし又は金属めっき線で164.2.3.3による。
               mm2を超える導体
  注記 巻付試験の場合(4.3),老化条件は,引張特性の測定要求と相違が生じる場合がある(B.1及びB.2.2)。関連
       ケーブル規格による。
B.2.2 外径を減じた導体を用いた管状試験片の準備
B.2.2.1 外径を減じた単線めっきなし導体
  JIS C 3660-501によって五つの管状試験片を準備した後,10 %以内で外径を減じた単線めっきなし導体
を再挿入する。導体は,元の導体を伸長して外径を減じるか,又は元の外径よりも10 %以内の範囲で細い
導体を用いる。
  管状試験片は,4.2.3.2によって老化し,その後,外径を減じた導体を取り去り,管状試験片の断面積を
JIS C 3660-501によって測定する。
B.2.2.2 素線数を減じたクラス5及びクラス6の導体
  JIS C 3660-501によって五つの管状試験片を準備する。試験のために,導体を構成する素線の約30 %を

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絶縁体から取り去るか,管状試験片に導体を構成する素線の約70 %を再挿入してもよい。
  管状試験片は,4.2.3.2によって老化し,その後,素線数を減じた導体を取り去り,管状試験片の断面積
をJIS C 3660-501によって測定する。
B.2.3 導体断面積が16 mm2を超える導体付き試験片の準備
B.2.3.1 老化用試験片の採取及び準備
  約200 mmの長さの三つの試験片は,老化なしの引張試験用として採取した試料に可能な範囲で隣接し
た位置から採取する(JIS C 3660-501による。)。
  扇形の場合,幅10 mm以上の細片を導体軸に沿って扇形に切り抜き,導体から分離する。
  次に,この細片は,同じ場所に戻し,図B.1のように細片が導体と十分に接触するように試験片の中央
及び両端末から約20 mmの所を適切な針金でとめる。
  円形導体の線心の場合は,同様の手順を用いる。小さいサイズの場合は(例 25 mm2),絶縁体を半分
まで分離できる。
B.2.3.2 老化後のダンベル状試験片の準備
  図B.2のとおり,老化した試験片を解体し,各試験片から二つのダンベル状試験片をJIS C 3660-501に
よって準備し,断面積をJIS C 3660-501によって測定する。
                                  図B.1−特別に準備した試験片

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                            図B.2−老化後に準備したダンベル状試験片

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