JIS C 3660-505:2019 電気・光ファイバケーブル―非金属材料の試験方法―第５０５部：機械試験―絶縁体及びシースの低温伸び試験

                                                            C 3660-505 : 2019 (IEC 60811-505 : 2012)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 試験方法・・・・[2]
•  4.1 一般・・・・[2]
•  4.2 絶縁体の低温伸び試験・・・・[2]
•  4.3 シースの低温伸び試験・・・・[3]
•  5 試験報告書・・・・[4]

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C 3660-505 : 2019 (IEC 60811-505 : 2012)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本電線工業会(JCMA)及び
一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本産業規格を制定すべきとの申出があ
り,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本産業規格である。これによって,JIS
C 3660-1-4:2003は廃止され,その一部を分割して制定したこの規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 3660の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 3660-100 第100部 : 一般事項
    JIS C 3660-201 第201部 : 一般試験−絶縁体厚さの測定
    JIS C 3660-202 第202部 : 一般試験−非金属シース厚さの測定
    JIS C 3660-203 第203部 : 一般試験−仕上寸法の測定
    JIS C 3660-301 第301部 : 電気試験−充コンパウンドの23 ℃における誘電率の測定
    JIS C 3660-302 第302部 : 電気試験−充コンパウンドの23 ℃及び100 ℃における直流抵抗率の測
        定
    JIS C 3660-401 第401部 : 各種試験−加熱老化試験方法−エアオーブンによる加熱老化
    JIS C 3660-402 第402部 : 各種試験−耐水性試験
    JIS C 3660-403 第403部 : 各種試験−架橋コンパウンドのオゾン試験
    JIS C 3660-404 第404部 : 各種試験−シースの耐油試験
    JIS C 3660-405 第405部 : 各種試験−PVC絶縁体及びPVCシース材料の熱安定性試験
    JIS C 3660-406 第406部 : 各種試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの耐環境応力亀
        裂性試験
    JIS C 3660-407 第407部 : 各種試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの質量増加率
    JIS C 3660-408 第408部 : 各種試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの長期安定性試
        験
    JIS C 3660-409 第409部 : 各種試験−熱可塑性絶縁体及びシース材料の加熱減量試験
    JIS C 3660-410 第410部 : 各種試験−銅導体を被覆するポリオレフィン絶縁材料の銅触媒による酸化
        劣化試験
    JIS C 3660-411 第411部 : 各種試験−充コンパウンドの低温ぜい化
    JIS C 3660-412 第412部 : 各種試験−加熱老化試験方法−加圧空気による加熱老化
    JIS C 3660-501 第501部 : 機械試験−絶縁体及びシース用コンパウンドの機械的特性試験
    JIS C 3660-502 第502部 : 機械試験−絶縁体の収縮試験
    JIS C 3660-503 第503部 : 機械試験−シースの収縮試験
    JIS C 3660-504 第504部 : 機械試験−絶縁体及びシースの低温曲げ試験
    JIS C 3660-505 第505部 : 機械試験−絶縁体及びシースの低温伸び試験

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                                                            C 3660-505 : 2019 (IEC 60811-505 : 2012)
    JIS C 3660-506 第506部 : 機械試験−絶縁体及びシースの低温衝撃試験
    JIS C 3660-507 第507部 : 機械試験−架橋した材料のホットセット試験
    JIS C 3660-508 第508部 : 機械試験−絶縁体及びシースの加熱変形試験
    JIS C 3660-509 第509部 : 機械試験−絶縁体及びシースの巻付加熱試験
    JIS C 3660-510 第510部 : 機械試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの試験方法−加
        熱による前処理後の巻付試験
    JIS C 3660-511 第511部 : 機械試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドのメルトフロー
        インデックスの測定
    JIS C 3660-512 第512部 : 機械試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの試験方法−加
        熱による前処理後の引張強さ及び破断時の伸び試験
    JIS C 3660-513 第513部 : 機械試験−ポリエチレン及びポリプロピレンコンパウンドの試験方法−前
        処理後の巻付試験
    JIS C 3660-601 第601部 : 物理試験−充コンパウンドの滴下点の測定
    JIS C 3660-602 第602部 : 物理試験−充コンパウンドの油分離
    JIS C 3660-603 第603部 : 物理試験−充コンパウンドの全酸価の測定
    JIS C 3660-604 第604部 : 物理試験−充コンパウンド中の腐食成分試験
    JIS C 3660-605 第605部 : 物理試験−ポリエチレンコンパウンド中のカーボンブラック及び無機充
        剤の含有量測定
    JIS C 3660-606 第606部 : 物理試験−密度測定法
    JIS C 3660-607 第607部 : 物理試験−ポリエチレン及びポリプロピレン中のカーボンブラック分散測
        定方法

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                                       日本産業規格                             JIS
                                                                       C 3660-505 : 2019
                                                                       (IEC 60811-505 : 2012)

電気・光ファイバケーブル−非金属材料の試験方法−第505部 : 機械試験−絶縁体及びシースの低温伸び試験

Electric and optical fibre cables-Test methods for non-metallic materials-Part 505: Mechanical tests-Elongation at low temperature for insulations and sheaths

序文

  この規格は,2012年に第1版として発行されたIEC 60811-505を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本産業規格である。

1 適用範囲

  この規格は,電線,光ファイバ及びそれらからなるケーブルに用いる,押出された絶縁体及びシースの
低温伸び試験を行う手順について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60811-505:2012,Electric and optical fibre cables−Test methods for non-metallic materials−Part
              505: Mechanical tests−Elongation at low temperature for insulations and sheaths(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 3660-100 電気・光ファイバケーブル−非金属材料の試験方法−第100部 : 一般事項
      注記 対応国際規格 : IEC 60811-100:2012,Electric and optical fibre cables−Test methods for
             non-metallic materials−Part 100: General
    JIS C 3660-501 電気・光ファイバケーブル−非金属材料の試験方法−第501部 : 機械試験−絶縁体及
        びシース用コンパウンドの機械的特性試験
      注記 対応国際規格 : IEC 60811-501,Electric and optical fibre cables−Test methods for non-metallic
             materials−Part 501: Mechanical tests−Tests for determining the mechanical properties of insulating
             and sheathing compounds
    JIS C 3660-504 電気・光ファイバケーブル−非金属材料の試験方法−第504部 : 機械試験−絶縁体及
        びシースの低温曲げ試験

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2
C 3660-505 : 2019 (IEC 60811-505 : 2012)
      注記 対応国際規格 : IEC 60811-504,Electric and optical fibre cables−Test methods for non-metallic
             materials−Part 504: Mechanical tests−Bending tests at low temperature for insulation and sheaths

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 3660-100の箇条3による。

4 試験方法

4.1 一般

  この規格は,JIS C 3660-100と併せて用いる。
  全ての試験は,絶縁体及びシース用コンパウンドの押出し後,16時間以上経過後に行う。
  試験は,関連ケーブル規格で規定された温度で行う。
  絶縁体の場合,12.5 mmを超える仕上外径をもつ円形断面の線心及びダンベルを準備するのに十分な大
きさをもつ扇形線心に適用する。ダンベルを準備できない場合,より小さな外径の線心の性能を試験する
のに適した曲げ試験がJIS C 3660-504に規定されている。
  この試験は,JIS C 3660-504で規定している曲げ試験で指定されていないケーブルのシースに適用する。
試験は,仕上外径が12.5 mmを超えるケーブル,長径が12.5 mmを超える平形ケーブルに適用する。仕上
外径12.5 mm以下のケーブルは,JIS C 3660-504で規定している低温曲げ試験を行わなければならない。

4.2 絶縁体の低温伸び試験

4.2.1  試料採取
  試験する線心は,適切な長さの2個の試料とする。
4.2.2  試験片の準備
  全ての被覆物(外部半導層があればそれを含む。)を取り除いた後,絶縁体は,軸方向に切り開き,更に,
導体及び内部半導電層がある場合は,それらを取り除く。
  絶縁体の内面及び外面が平滑であって,かつ,平均厚さが2.0 mm以下であれば,絶縁体を研削又は切
削する必要はない。絶縁体の厚さが2.0 mmを超える試料,又は内面に刻印若しくは隆起がある試料は,
平行かつ平滑な表面にするために研削又は切削を行う。このとき絶縁体の厚さは2.0 mm以下でなければ
ならない。研削又は切削後,絶縁体の最小厚さは0.8 mm以上とするが,絶縁体の初期厚さが0.8 mm以上
でない場合は,最小厚さとして0.6 mmまでを許容する。研削又は切削は,絶縁体に過度の加熱及び機械
的応力を加えないように注意して作業する。
  全ての試料は,室温に3時間以上放置する。
  この後,各試料から,図1に示す,又は,必要な場合は図2に示す,2個のダンベル状試験片を各試料
の軸方向に打ち抜く。可能な限り,2個のダンベル状試験片は,並べて打ち抜く。
  扇形線心の場合には,ダンベル状試験片は,線心の背面(曲面)の部分から打ち抜く。
  試験中に標線間の距離を直接測定できる装置を用いる場合,ダンベル状試験片は,JIS C 3660-501によ
って標線を付ける。
4.2.3  装置
  試験は,冷却装置を備えた試験機又は低温室に設置した試験機によって行う。
  冷却剤として液体を用いる場合,規定された試験温度の状態にする時間は,10分以上とする。
  空冷の場合には,装置及び試験片の冷却調整時間は4時間以上とする。装置があらかじめ冷却されてい
る場合は,2時間とする。装置及び試験片があらかじめ冷却されている場合,試験片が装置に固定された

――――― [JIS C 3660-505 pdf 5] ―――――

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