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C 5101-13 : 2009 (IEC 60384-13 : 2006)
JIS C 5101-1 : 1998 電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則
注記 対応国際規格 : IEC 60384-1 : 1982,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1 : Generic
specification並びにAmendment 2 : 1987,Amendment 3 : 1989及びAmendment 4 : 1992 (MOD)
なお,JIS C 5101-1 : 1998は,対応国際規格 : IEC 60384-1 : 1999,Fixed capacitors for use in
electronic equipment−Part 1 : Generic specificationの最新版として制定されておらず,該当する
事項の項番は,JIS C 5101-1の該当事項のものと一致しない場合がある。両者で引用する項
番に相違がある場合は,IEC 60384-1 : 1999の項番を注記に示す。
JIS C 5101-13-1 : 2009 電子機器用固定コンデンサ−第13-1部 : ブランク個別規格 : 固定ポリプロピ
レンフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
注記 対応国際規格 : IEC 60384-13-1 : 2006,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 13-1 :
Blank detail specification−Fixed polypropylene film dielectric metal foil d.c. capacitors−Assessment
level E (IDT)
JIS C 5101-14 : 2009 電子機器用固定コンデンサ−第14部 : 品種別通則 : 電源用電磁障害防止固定コ
ンデンサ
注記 対応国際規格 : IEC 60384-14 : 2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14 :
Sectional specification: Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection
to the supply mains (IDT)
JIS C 60068-1 : 1993 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格 : IEC 60068-1 : 1988,Environmental testing−Part 1 : General and guidance及び
Amendment 1 : 1992 (IDT)
JIS Z 8601 : 1954 標準数
注記 対応国際規格 : ISO 3 : 1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)
JIS Z 9015-1 : 2006 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指
標型抜取検査方式
注記 対応国際規格 : IEC 60410 : 1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)
1.4 個別規格に規定する事項
個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。個別規格は,JIS C 5101-1(品目別通則),この
規格及びJIS C 5101-13-1(ブランク個別規格)の要求性能よりも低い水準の内容を規定してはならない。
より厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格の1.9に記載し,更に,試験計画の中に,例
えば,アステリスク (*) を付けて明示する。
注記 1.4.1の外形図及び寸法は,一覧表で示してもよい。
各個別規格には次の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。
1.4.1 外形図及び寸法
外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ
の互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべての寸法値は,
ミリメートル (mm) で規定する。
寸法は,本体の長さ,幅及び高さ並びに端子間隔とする。円筒形の場合は,本体の直径及び長さ,並び
に端子の長さ及び直径を規定する。“寸法及び定格静電容量と定格電圧との組合せ範囲”のように幾つかの
組合せを個別規格に規定する場合は,必要に応じてそれぞれの寸法及び寸法許容差を図の下に表で示す。
形状が異なる場合は,そのコンデンサを適切に表す寸法を個別規格に規定する。
――――― [JIS C 5101-13 pdf 6] ―――――
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C 5101-13 : 2009 (IEC 60384-13 : 2006)
コンデンサがプリント配線板用でない場合には,個別規格の中にその旨を明記する。
1.4.2 取付け
個別規格に,通常に用いる場合の取付方法並びに振動及びバンプ又は衝撃の各試験を行う場合の取付方
法を規定する。コンデンサは,その規定した方法で取り付ける。コンデンサの設計上特別な取付具を必要
とする場合には,個別規格にその取付具を規定し,振動及びバンプ又は衝撃の各試験には,この取付具を
用いてコンデンサを取り付ける。
1.4.3 定格及び特性
定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,次による。
1.4.3.1 定格静電容量範囲
定格静電容量の範囲は,2.2.1による。
注記 IEC電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合は,個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた範
囲とが異なるときは,次の文章を追加する。
“各定格電圧での定格静電容量の範囲は,品質認証電子部品一覧表 (QPL) による。”
1.4.3.2 特殊な特性
設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合には,追加の規定をしてもよい。
1.4.3.3 はんだ付け
はんだ付け性及びはんだ耐熱性で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格の規定による。
1.4.4 表示
コンデンサ及びその包装に対する表示項目は,個別規格に規定する。この規格の1.6と異なる場合には,
その事項を個別規格に明記する。
1.5 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1によるほか次による。
1.5.1
安定性区分 (stability class)
規定された試験後の静電容量の許容変化値と温度係数の許容値との組合せ。
1.5.2
定格電圧 (rated voltage) (UR)
定格温度でコンデンサに連続的に印加できる直流電圧の最大値。
注記 コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧のピーク値との和は,定格電圧を超えないことを示
している。また,交流電圧の最大値は,次に示すそれぞれの周波数での定格電圧に対する割合
又は280 Vを超えてはならないことを示している。
50 Hz : 20 %
100 Hz : 15 %
1 kHz : 3 %
10 kHz : 1 %
1.6 表示
表示は,JIS C 5101-1の2.4(表示)によるほか,次による。
1.6.1 表示事項は,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順とする。
a) 定格静電容量
b) 定格電圧(直流電圧を表す記号d.c. は,記号 又は で表してもよい。)
――――― [JIS C 5101-13 pdf 7] ―――――
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C 5101-13 : 2009 (IEC 60384-13 : 2006)
c) 定格静電容量の許容差
d) 製造年月(又は年週)
e) 製造業者名又はその商標
f) 温度係数又は安定性区分
g) 耐候性カテゴリ
h) 製造業者の形名
i) 引用個別規格
1.6.2 コンデンサの本体には,1.6.1のa),b) 及びc) 並びに必要な項目をできるだけ多く明りょうに表
示する。コンデンサの表示内容の重複は,避けることが望ましい。
1.6.3 コンデンサの包装には,1.6.1のすべての事項を明りょうに表示する。
1.6.4 表示を追加する場合には,混乱しないように行う。
2 推奨特性及び定格
2.1 推奨特性
個別規格に規定する値は,次の中から選定するのが望ましい。
2.1.1 推奨耐候性カテゴリ
この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 60068-1の8.(部品耐候性カテゴリ)によっ
て分類する。
カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。
カテゴリ下限温度 : −55 ℃,−40 ℃,−25 ℃及び−10 ℃,
カテゴリ上限温度 : +85 ℃,及び+100 ℃
高温高湿(定常)の試験期間 : 10日,21日及び56日
低温及び高温の試験温度は,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
注記 高温高湿(定常状態)の試験条件は,温度40 ℃,相対湿度90 %95 %である。
2.1.2 試験前に乾燥を適用する場合は,温度55 ℃±2 ℃,相対湿度20 %以下で1時間6時間行う。
注記 適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。
2.2 推奨定格値
2.2.1 定格静電容量 (CR)
定格静電容量の推奨値は,JIS C 5063に規定するE6,E12,E24,E48及びE96の標準数列並びにそれら
の10n倍(×10n,nは整数)から選定する。
2.2.2 定格静電容量の許容差
定格静電容量の標準数列と定格静電容量の許容差との相関は,表1による。
表1−定格静電容量の標準数列と定格静電容量の許容差との相関
推奨標準数列 推奨許容差 許容差の記号
E6 ±20 % M
E12 ±10 % K
E24 ±5 % J
E48 ±2 % G
E96 ±1 % F
いずれの場合にも,最小の許容差は±1 pFとする。E96の標準数列以外の追加静電容量値及び追加許容
――――― [JIS C 5101-13 pdf 8] ―――――
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C 5101-13 : 2009 (IEC 60384-13 : 2006)
差を規定してもよい。
2.2.3 定格電圧 (UR)
定格電圧の推奨値は,JIS Z 8601に規定するR5 標準数列で,40 V,63 V,100 V,160 V,250 V及びこ
れらの数値の10n倍(×10n,nは整数)とする。
ただし,コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧とのピーク値の和は,定格電圧を超えてはならない。
また,交流電圧の最大値も,個別規格に規定がない場合は,次に示すそれぞれの周波数での定格電圧に対
する割合を超えてはならない。このとき280 Vを上限とする。
50 Hz : 20 %
100 Hz : 15 %
1 kHz : 3 %
10 kHz : 1 %
この値は,個別規格に規定がない場合に適用する。
2.2.4 温度係数及び静電容量変化に関係する安定性区分
温度係数 ( 愀 ‰ 奨値及びそれと組み合わせる温度係数許容差並びに静電容量の許容変化の推奨値を,
安定性区分として表2に示す。この表は,定格静電容量50 pF未満の場合には適用しない。
表2−推奨値及び組合せ
安定性区分 温度係数α及びその許容差 静電容量変化の許容値 a)
10−6/℃ カテゴリ上限温度
−80 −100 −125 −160 −250 85 ℃ 100 ℃
1 ±40 ± 50 ± 60 ± 80 ±120 ±(0.5 %+0.5 pF) ±(1 %+0.5 pF)
2 ±100 ±125 ±160 ±250 ±(1 %+1 pF) ±(2 %+1 pF)
3 ±160 ±250 ±(2 %+2 pF) ±(5 %+2 pF)
注a) 次の各試験後の静電容量変化の許容値である。
− はんだ耐熱性
− 温度急変
− 振動
− バンプ又は衝撃
− 温湿度サイクル
− 高温高湿(定常)
− 耐久性
2.2.5 カテゴリ電圧 (UC)
85 ℃のカテゴリ電圧は,定格電圧 (UR) とする。
カテゴリ上限温度が100 ℃の場合のカテゴリ電圧は,0.7 URとする。
2.2.6 定格温度
定格温度は,85 ℃とする。
3 品質評価手順
3.1 製造の初期工程
製造の初期工程は,コンデンサ素子の巻取り又はそれと同等な工程とする。
3.2 構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,本質的に同じ生産工程及び材
――――― [JIS C 5101-13 pdf 9] ―――――
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C 5101-13 : 2009 (IEC 60384-13 : 2006)
料で製造されたコンデンサとする。
3.3 出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で,かつ,購入者から要求がある場合には,JIS C 5101-1の3.5.1(出荷対象
ロットの成績証明書)によって,出荷対象ロットの成績証明書を提出する。耐久性試験後の要求性能は,
静電容量の変化,誘電正接 (tan び絶縁抵抗とする。
注記 JIS C 5101-1 : 1998の3.5.1は,IEC 60384-1 : 1999の3.9と同等である。
3.4 品質認証
品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1の3.4(品質認証手順)による。
注記 JIS C 5101-1 : 1998の3.4は,IEC 60384-1 : 1999の3.5と同等である。
ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は,この規格の3.5の規定による。定
数抜取手順は,3.4.1.1,3.4.1.2及び3.4.1.2Aの規定による。
3.4.1 定数抜取手順に基づく品質認証
3.4.1.1 抜取方法
定数抜取手順は,JIS C 5101-1の3.4.2 b) の規定による。試料は,認証を得ようとするコンデンサのす
べての範囲を代表するものとし,個別規格に規定するすべての範囲,又はその一部でもよい。
注記 JIS C 5101-1 : 1998の3.4.2 b) は,IEC 60384-1 : 1999の3.5.3 b) と同等である。
抜き取る試料は,最低及び最高の定格電圧のものと,それぞれの電圧に対応する最小及び最大の定格静
電容量のものとする。定格電圧が4種類を超える場合は,中間の定格電圧のものも追加して試験する。こ
のように一つの認証範囲の試験には,4組合せ(定格静電容量と定格電圧との組合せ)又は6組合せのも
のを試料とする。認証範囲からの試料が,4組合せ未満で構成される場合には,試料数は4組合せの場合
と同数とする。
予備の試料は,次による。
a) 群 “0” での許容不適合品の置換え用として1組合せごとに1個
b) 製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに1個
群 “0” に規定する試料は,すべての群の試験を適用する場合の試料数であり,すべての試験を適用しな
い場合には,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に,群を追加する場合の群 “0” の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験のための各群及び副群で試験する試料数並びに合格判定数を,表3及び表3Aに示す。
注記 適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。
3.4.1.2 試験(評価水準Eの場合)
表3及び表4に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,
各群の試験は,記載の順に従って行う。
すべての試料は,群 “0” の試験を行った後に,その他の群に配分する。
群 “0” の試験中に発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが,一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても,“不適合品数は1個”と数え
る。
品質認証は,各群又は各副群での不適合数が合格判定数以下であり,かつ,不適合数の合計が総合格判
定数を超えない場合に,合格とする。
注記 表3及び表4は,定数抜取手順に基づく品質認証試験の計画を構成する。表3は,各試験又は
試験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。表4は,箇条4に規定する試
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JIS C 5101-13:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-13:2006(IDT)
JIS C 5101-13:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-13:2009の関連規格と引用規格一覧
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