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C 5101-14-1 : 2020
C5
2
附属書JA
10
(参考)
1-
14
JISと対応国際規格との対比表
-1 : 2020
IEC 60384-14-1:2016,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14-1: Blank
JIS C 5101-14-1:2020 電子機器用固定コンデンサ−第14-1部 : ブランク個別規
格−電源用電磁障害防止固定コンデンサ−評価水準DZ detail specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and
connection to the supply mains−Assessment level DZ
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
国際規 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
格番号
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 番号 の評価
0 ブランク 0.1 一般事項 0.1 JISとほぼ同じ 追加 評価水準DZの説明を追加した。 次回IEC規格改訂時に追加を提案
個別規格 する。
0.2 個別規格の識別 0.2 JISとほぼ同じ 追加 規格番号の表記について説明を追 JIS規格番号を記載する場合の記
[3],[4] [3] 加した。 載方法が必要なため。
[4]
表枠[1] 0, JISとほぼ同じ 変更 記入内容を具体例に置き換えた。 この規格の表枠が用いられる場合
表枠 の具体的記載例を示すため。
[1]
表枠[2] 0, JISとほぼ同じ 変更 記入例を記入内容の説明に置き換 この規格の表枠が用いられる場合
表枠 えた。 の記載方法を示すため。
[2]
表枠[8] 0, JISとほぼ同じ 変更 記入内容を具体例に置き換えた。 この規格の表枠が用いられる場合
表枠 の具体的記載例を示すため。
[8]
1 一般事項 1.0A 適用範囲 1 1.0A 適用範囲以外は 追加 対応国際規格にない適用範囲の細 次回IEC規格改訂時に適用範囲の
JISとほぼ同じ 分箇条を追加した。 箇条の追加を提案する。
表2−外形寸法と定 表4 JISとほぼ同じ。 追加 注記として記入方法の補足説明を 次回IEC規格改訂時に追加又は表
格電圧及び公称静 追加した。 の見直しを提案する。
電容量との組合せ
――――― [JIS C 5101-14-1 pdf 16] ―――――
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C 5101-14-1 : 2020
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
国際規 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
格番号
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 番号 の評価
1 一般事項 1.4 引用規格 1.4 JIS C 5101-1の対応国 変更 JIS C 5101-1(対応国際規格IEC この規格はJIS C 5101-1の要求事
(続き) 際規格IEC 60384-1の記 60384-1)を引用規格から参考文献項を直接引用していないため。
載 へ移動した。 次回IEC規格改訂時に変更を提案
する。
1.8 追加情報(非検 1.8 JISとほぼ同じ。 追加 注記として説明を追加した。 次回IEC規格改訂時に追加を提案
査目的) する。
2 検査要求 表4−ロットごとの 表4 JISとほぼ同じ。 追加 次回IEC規格改訂時に追加を提案
“試料数”欄を追加し,“試料数”
事項 品質確認検査の試 の記号を設定した。 する。
験計画(群A及び群
B検査)−評価水準
DZ
表4 表4 JISとほぼ同じ。 追加 各群の試料数の根拠となるJISを 次回IEC規格改訂時に試料数の根
注d) 追加した。 拠となるIEC規格の追加を提案す
る。
表5−定期的品質確 表5 記載なし。 追加 次回IEC規格改訂時に追加を提案
引用元の細分箇条を追加した。(対
認検査の試験計画 群C1B, 応国際規格の記載漏れ) する。
(群C検査)−評価 4.9.2
水準DZ
群C1B,
4.9.2 最終測定,
試験条件(誘電正
接)要求事項
表5 表5 JISとほぼ同じ 変更 次回IEC規格改訂時に変更を提案
“Specify limit”を“4.9.2による。”
群C1B, 群C1B, へ変更した。 する。
4.9.2 最終測定, 4.9.2
C5
試験条件(抵抗値)
1
要求事項
01-
表5 表5 JISとほぼ同じ 変更 “No measurements”を“4.11.2によ
実施する試験の条件を明確にする
14-
群C1, 群C1, る。”へ変更した。 ため。
1 : 2
4.11.2 高温, 4.11.2 次回IEC規格改訂時に変更を提案
0
試験条件 する。
20
2
――――― [JIS C 5101-14-1 pdf 17] ―――――
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C 5101-14-1 : 2020
C5
2
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
国際規 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
101
格番号
-
1
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
4-1
及び題名 番号 の評価
: 2
2 検査要求 表5 表5 記載なし。 変更 “4.11.3による。”と追加した。 次回IEC規格改訂時に追加を提案
02
群C1,
事項(続き) 群C1, する。
0
4.11.3温湿度サイク 4.11.3
ル(試験 Db),最
初のサイクル
試験条件
表5 表5 JISとほぼ同じ 変更 “No measurements”を“4.11.4によ
実施する試験の条件を明確にする
群C1, 群C1, る。”へ変更した。 ため。
4.11.4 低温 4.11.4 次回IEC規格改訂時に変更を提案
試験条件 する。
表5 表5 JISとほぼ同じ 変更 “No measurements”を“4.11.5によ
実施する試験の条件を明確にする
群C1, 群C1, る。”へ変更した。 ため。
4.11.5温湿度サイク 4.11.5 次回IEC規格改訂時に変更を提案
ル(試験 Db),残 する。
りのサイクル
試験条件
表5 表5 JISとほぼ同じ 追加 補足説明を追加した。 次回IEC規格改訂時に追加を提案
群C3, 群C3, する。
4.13 インパルス電 4.13,
圧,試験条件 試験条
件
表5 表5 JISとほぼ同じ 変更 試験条件の引用元を変更した。 引用元が容易に理解できるように
群C4, 群C4, するため変更した。
4.15.1 初期測定, 4.15.1, 次回IEC規格改訂時に変更を提案
試験条件 試験条 する。
件
――――― [JIS C 5101-14-1 pdf 18] ―――――
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C 5101-14-1 : 2020
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
国際規 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
格番号
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 番号 の評価
2 検査要求 最終段落(文末) 2 JISとほぼ同じ 変更 対応国際規格において,箇条0は
“See also Introduction”を“箇条0
事項(続き) 参照”へ変更した。 Introductionに含まれているが,こ
の規格において,参照している箇
所は,Introductionではなく,箇条
0であるため。
参考文献 参考文献 参考文 記載なし。 追加 JIS C 5101-1及びJIS C 5101-14-2次回IEC規格改訂時に記載を提案
献 を記載した。 する。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60384-14-1:2016,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD 国際規格を修正している。
C5 101-
14-1 : 2020
2
JIS C 5101-14-1:2020の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-14-1:2016(MOD)
JIS C 5101-14-1:2020の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5101-14-1:2020の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称