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C 5101-14-1 : 2020
表5−定期的品質確認検査の試験計画(群C検査)−評価水準DZ(続き)
細分箇条番号及び D 試験条件a) 周期,試料数及 要求事項a)
試験項目a) 又は び合格判定数b)
ND b) p n c
4.8 バンプ
(バンプ試験は衝撃試
験に統合され,試験規
格が廃止になったた
め,この規格では適用
しない。)
4.9 衝撃c) 取付方法は,この規格の1.1による。
厳しさ : ...
4.9.2 最終測定 外観 損傷がない。
静電容量 4.9.2による。
誘電正接(tan (適用可能な場合) 4.9.2による。
抵抗値(適用可能な場合) 4.9.2による。
群C1 D 6 18 0
4.10 封止 試験Qc又は試験Qdを適用する。 漏れの痕跡がない。
(適用可能な場合又は
要求がある場合)
4.11 一連耐候性
4.11.1 初期測定d) 4.4.2又は4.9.2のいずれかによって
測定する。
4.11.2 高温 4.11.2による。
4.11.3 温湿度サイク 4.11.3による。
ル
(試験Db),最初のサ
イクル
4.11.4 低温 4.11.4による。
4.11.5 温湿度サイク 4.11.5による。
ル
(試験Db),残りのサ
イクル
4.11.6 最終測定 外観 損傷がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 表14による。
抵抗値(適用可能な場合) 表14による。
誘電正接(tan (適用可能な場合) 表14による。
耐電圧 表14による。
絶縁抵抗 表14による。
――――― [JIS C 5101-14-1 pdf 11] ―――――
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C 5101-14-1 : 2020
表5−定期的品質確認検査の試験計画(群C検査)−評価水準DZ(続き)
細分箇条番号及び D 試験条件a) 周期,試料数及 要求事項a)
試験項目a) 又は び合格判定数b)
ND b) p n c
群C2 D 6 10 0
4.12 高温高湿(定常)
4.12.1 初期測定d) 静電容量
抵抗値(適用可能な場合)
誘電正接(tan (メタライズドコ
ンデンサに適用)
4.12.2 試験条件 磁器コンデンサ : 試料の半数に定格
電圧URを印加し,残りの半数は印
加しない。
その他のコンデンサ : 電圧印加しな
い。
4.12.3 最終測定 外観 損傷がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 表15による。
抵抗値(適用可能な場合) 表15による。
誘電正接(tan (適用可能な場合) 表15による。
耐電圧 表15による。
絶縁抵抗 表15による。
群C3 D
Xコンデンサ 3 12 0
Yコンデンサ 3 12 0
貫通コンデンサ 3 6 0
4.13.1 初期測定d) 静電容量
抵抗値(適用可能な場合)
誘電正接(tan (メタライズドコ
ンデンサに適用)
4.13 インパルス電圧 インパルスの回数 : 3回 4.13.2及び4.13.3による。
(連続して適合を示す波形が現れ
た場合,又は3回以上適合を示す波
形が現れるまで最大24回)
ピーク電圧 : 表1及び表2による。
4.14 耐久性 時間 : 1 000 h
電圧,電流及び温度 :
4.14.3,4.14.4,4.14.5及び4.14.6に
よる。
――――― [JIS C 5101-14-1 pdf 12] ―――――
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C 5101-14-1 : 2020
表5−定期的品質確認検査の試験計画(群C検査)−評価水準DZ(続き)
細分箇条番号及び D 試験条件a) 周期,試料数及び 要求事項a)
試験項目a) 又は 合格判定数b)
ND b) p n c
4.14.7 最終測定 外観 損傷がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 表16による。
抵抗値(適用可能な場合) 表16による。
誘電正接(tan (適用可能な場合) 表16による。
耐電圧 表16による。
絶縁抵抗 表16による。
群C4 D 6 6 0
4.15 充放電 メタライズドコンデンサ及び磁器
(適用可能な場合) コンデンサ並びにこれらのコンデ
ンサを用いたRCユニットに適用。
4.15.1 初期測定 この規格の表4の群A2の測定値
を用いてもよい。ただし,RCユニ
ットを除いて,誘電正接 (tan
は次の条件で測定する。
CN≦1 F : 10 kHz
CN>1 F : 1 kHz
4.15.3 最終測定 静電容量 表17による。
初期測定と同じ周波数の誘電正接 表17による。
(tan (RCユニットには適用し
ない。)
抵抗値(適用可能な場合) 表17による。
絶縁抵抗 表17による。
群C5 ND 12 4 0
4.16 無線周波数特 規定の方法による。 規定限界値による。
性
(要求がある場合)
群C6 D 12 618 0
4.17 耐炎性 4.17.1による。
群C7 D 12 24 0
4.18 発炎性 4.18.4による。
注a) 試験の細分箇条番号及び要求事項は,JIS C 5101-14による。
b) この表の記号は,次による。
D=破壊試験,ND=非破壊試験,p=検査周期(月単位),n=試料数,c=合格判定数
c) これらの試験は,12か月ごとに実施される。
d) 磁器コンデンサで,静電容量のずれの正確な測定が要求される場合は,製造業者が推奨する前処理をJIS C
5101-14:2014の附属書Gに従って実施することが望ましい。
附属書Aによって宣言する設計を変更する場合,再認証試験を認証機関は要求してもよい。
認証機関は,意図された変更に関して通知を受け,再認証試験の実施について決定する。
最大限として,附属書Aに完全に一致する再認証が必要となる場合がある(箇条0参照)。
――――― [JIS C 5101-14-1 pdf 13] ―――――
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C 5101-14-1 : 2020
附属書A
(規定)
設計の宣言
この宣言は製造業者及び認証機関の機密事項であることに注意する。
この規定は,認証を得ようとするコンデンサの基本設計及び必要なデータを登録することが目的である。
次の事項を記載した書類を,全ての認証試験に先立って関連する認証機関に提出する。その他の機関へ
の配布は,製造業者の決定に任される。
宣言した設計の変更は,書面で認証機関に通知した後にだけ許可される。この場合,認証機関は,講じ
る必要な措置を決める。最も厳しい場合,全面的な再認証を要求される場合がある。
登録番号 :
(登録番号は,認証機関が付与する。)
1 出願者
2 製造業者
3 生産地
4 形式の指定
5 クラス/サブクラス
6 回路図
7 誘電体
7.1 材質
7.2 厚さ
7.3 密度(紙コンデンサだけに適用)
7.4 個々の層の数
8 電極
8.1 材質
8.2 種類(例えば,ホイル,フィルム又は紙上への蒸着など)
9 コンデンサ素子,個々の層の配置など
10 含浸剤(適用可能な場合)
11 封止
11.1 ケース,樹脂などの材質(該当するもの)
11.2 外側絶縁の材質(適用可能な場合)
12 外形寸法
場所 日付 氏名 自署
――――― [JIS C 5101-14-1 pdf 14] ―――――
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C 5101-14-1 : 2020
参考文献
JIS C 5101-1:2019 電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則
注記 対応国際規格 : IEC 60384-1:2016,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
Generic specification
JIS C 5101-14-2:2020 電子機器用固定コンデンサ−第14-2部 : ブランク個別規格 : 電源用電磁障害防
止固定コンデンサ−安全性試験
注記 対応国際規格 : IEC 60384-14-2:2016,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14-2:
Blank detail specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and
connection to the supply mains−Safety tests only
――――― [JIS C 5101-14-1 pdf 15] ―――――
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JIS C 5101-14-1:2020の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-14-1:2016(MOD)
JIS C 5101-14-1:2020の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5101-14-1:2020の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称