この規格ページの目次
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C 5101-14-1 : 2020
[1] 個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議(IEC)の名称
[2] 個別規格の国内規格番号,西暦年及び国内制度で要求される追加事項又はIEC規格番号,版及び西
暦年
[3] 品目別通則又は品種別通則のJIS規格番号及び西暦年,又はIEC規格番号,版及び西暦年
[4] ブランク個別規格のJIS規格番号又はIEC規格番号
0.3 コンデンサの識別
次の[5][9]の事項は,この規格の次の二つの表枠の括弧内の数字と対応している。
[5] コンデンサの品種についての要約説明
個別規格に規定する文は,IECQ認証登録での記載事項に適合することが望ましい。
[6] 代表的な構造の説明(適用可能な場合)
個別規格に規定する文は,IECQ認証登録での記載事項に適合することが望ましい。
[7] 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関するJIS又はIEC規格の引用。
この図は,個別規格の附属書としてもよい。ただし,[7]には,部品の一般的な外形図が含まれてい
ることが望ましい。
[8] 適用範囲若しくは適用グループの範囲及び/又は評価水準
[9] 同一又は類似の用途を対象とした様々な部品タイプ間の比較を可能とする,部品の最も重要な特性
に関する情報を提供する参照データ
例 一般社団法人電子情報技術産業協会 [1] 個別規格番号 [2]
電子機器用固定コンデンサ [3] JIS C 5101-14-1(ブランク個別規格) [4]
第1部 : 品目別通則 : JIS C 5101-1:2019 電源用電磁障害防止固定コンデンサ [5]
第14部 : 品種別通則 : JIS C 5101-14:2014 (評価水準DZ)
外形図(表1参照) [7]
(第三角法) 構造の説明 [6]
(規定寸法内であれば外形は異なってもよい。) 評価水準 : DZ [8]
JIS C 5101-14-1に基づく個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は,品質認証電子部品一覧表(QPL)に示
されている。 [9]
注記 上記の表枠内の[1][9]は,0.2及び0.3の該当する番号を参照することを示している。
――――― [JIS C 5101-14-1 pdf 6] ―――――
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C 5101-14-1 : 2020
1 一般事項
1.0A 適用範囲
この規格は,JIS C 5101-14を品種別通則とするブランク個別規格で,電源用電磁障害防止固定コンデン
サ(以下,コンデンサという。)の評価水準DZについて規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60384-14-1:2016,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14-1: Blank detail
specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the
supply mains−Assessment level DZ(MOD)
なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
ことを示す。
1.1 推奨する取付方法(実装する場合)
取付けは,JIS C 5101-14:2014の1.4.2による。
1.2 寸法
寸法は,表1による。
表1−外形寸法記号及び寸法
外形寸法記号 寸法 mm
L1 W H L2 L3 L4 ...
外形寸法記号がない場合は,表1は削除してもよい。その場合,外形寸法は表2に記載して,それを表
1とする。
外形寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。
1.3 定格及び特性
定格及び特性は,次の項目のとおりである。
a) 公称静電容量範囲 (表2による。)
b) 公称静電容量許容差
c) 定格電圧 (表2による。)
d) 耐候性カテゴリ
e) 定格温度
f) 誘電正接(tan
g) 絶縁抵抗
表2−外形寸法と定格電圧及び公称静電容量との組合せ
定格電圧 V
公称静電容量 外形寸法 外形寸法 外形寸法 外形寸法
pF及び/又はnF
注記 外形寸法の欄は,該当する寸法を記載し,下の空欄には外形寸法ごとの公称静電容量の対象範囲を
記載する。
――――― [JIS C 5101-14-1 pdf 7] ―――――
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C 5101-14-1 : 2020
1.4 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
注記 対応国際規格 : IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of
sampling plans for inspection of electronic components and packages(IDT)
JIS C 5101-14:2014 電子機器用固定コンデンサ−第14部 : 品種別通則 : 電源用電磁障害防止固定コ
ンデンサ
注記1 対応国際規格 : IEC 60384-14:2013,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14:
Sectional specification−Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and
connection to the supply mains(IDT)
注記2 対応国際規格IEC 60384-14のAmendment 1:2016に対応するJIS C 5101-14の追補1:2019
が発行されている。
1.5 表示
適用する場合,コンデンサ及び包装への表示は,JIS C 5101-14:2014の1.6による。
部品及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定する。
1.6 発注情報
個別規格のコンデンサの発注情報には,明瞭な文字又は記号で,次の事項が含まれていなければならな
い。
a) 公称静電容量
b) 公称静電容量許容差
c) 定格電圧
d) 製造業者名又はその商標
e) 製造業者の形名又は個別規格に記載する形名
1.7 出荷対象ロットの成績証明書
顧客からの試験成績証明書要求の有無を明記する。
1.8 追加情報(非検査目的)
注記 非検査目的とは検査目的以外のことであり,検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に限定することが望ましく,表3によるのがよい。
表3−その他の特性
この表は,JIS C 5101-1及び/又はJIS C 5101-14への追加又は
より厳しい特性を規定するために使用している。
2 検査要求事項
品質認証の手順は,JIS C 5101-14:2014の3.4による。
品質確認検査の試験計画(表4及び表5)は,サンプリング,周期,厳しさ及び要求事項を示す。検査
ロットの構成は,JIS C 5101-14:2014の3.5.1による。
――――― [JIS C 5101-14-1 pdf 8] ―――――
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C 5101-14-1 : 2020
表4−ロットごとの品質確認検査の試験計画(群A及び群B検査)−評価水準DZ
細分箇条番号及び D 試験条件a) 検査水準,試料数及び 要求事項a)
試験項目a) 又は 合格判定数b)
ND b) IL n c
d)
群A1 ND S-4 0
4.1 外観 損傷がない。
表示は,明瞭とする。
4.1 寸法(ゲージ法) この規格の表1による。
d)
群A2 ND I 0
4.2.2 静電容量 規定の許容差以内
4.2.4 抵抗値 規定の許容差以内
(適用可能な場合)
4.2.3 誘電正接(tan 周波数 : ... Hz 規定値以内
(メタライズドコン
デンサ及び磁器コンデン
サに適用)
4.2.1 耐電圧c) 方法 : ... 永久破壊又はフラッシオ
(試験A) ーバがない。
4.2.5 絶縁抵抗 方法 : ... 表12による。
(試験A)
d)
群B1 D S-3 0
4.5 はんだ付け性 エージングなし 方法1及び方法2 : はんだ
(適用可能な場合) 方法 : ... が良好に付着している。
はんだ槽平衡法 : 3秒未満
試料数(n)は,JIS C 5005-2:2010の表1に規定するロットサイズで割り当てるサンプルサイズとすることが望ま
しい。
注a) 試験の細分箇条番号及び要求事項は,JIS C 5101-14による。
b) この表の記号は,次による。
D=破壊試験,ND=非破壊試験
IL=検査水準,n=試料数,c=合格判定数
c) 耐電圧試験は,絶縁抵抗試験での不適合を検知するための適切な監視方法を用いて実施しなければならない。
d) IS C 5005-2:2010の4.3による。
――――― [JIS C 5101-14-1 pdf 9] ―――――
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C 5101-14-1 : 2020
表5−定期的品質確認検査の試験計画(群C検査)−評価水準DZ
細分箇条番号及び D 試験条件a) 周期,試料数及 要求事項a)
試験項目a) 又は び合格判定数b)
ND b) p n c
群C1A D 6 6 0
4.1 寸法(詳細) 表9及びこの規格の表1
による。
4.4.1 初期測定 静電容量
誘電正接(tan (適用可能な場合)
抵抗値(適用可能な場合)
4.3 端子強度 厳しさ : ...
外観 損傷がない。
4.4 はんだ耐熱性d) 予備乾燥なし
方法 : ...
4.19 部品の耐溶剤性 溶剤 : ...
(適用可能な場合) 溶剤の温度 : ...
方法2
後処理時間 : ...
4.4.2 最終測定 外観 損傷がない。
静電容量 表13による。
誘電正接(tan (適用可能な場合) 参考値
抵抗値(適用可能な場合) 表13による。
群C1B D 6 12 0
4.5 はんだ付け性 エージングなし 方法1及び方法2 : はんだ
(適用可能な場合) 方法 : ... が良好に付着している。
はんだ槽平衡法 : 3秒未満
4.20 表示の耐溶剤性 溶剤 : ... 表示は,明瞭とする。
溶剤の温度 : ...
方法1
ラビングの材質 : 脱脂綿
後処理時間 : ...
4.6 温度急変d) TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
5サイクル
保持時間t=30 min
4.6.1 最終検査 外観 損傷がない。
4.7 振動c) 取付方法は,この規格の1.1によ
る。
厳しさ : ...
4.7.2 最終検査 外観 損傷がない。
――――― [JIS C 5101-14-1 pdf 10] ―――――
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JIS C 5101-14-1:2020の引用国際規格 ISO 一覧
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JIS C 5101-14-1:2020の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5101-14-1:2020の関連規格と引用規格一覧
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