JIS C 5101-15:1998 電子機器用固定コンデンサ―第１５部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ | ページ 5

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4.9.2  最終測定及び要求性能 コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。表IIに規定
する要求性能を満足しなければならない。

4.10 一連耐候性

 JIS C 5101-1の4.21(一連耐候性)によるほか,次による。
4.10.1 初期測定 静電容量を,4.2.2によって測定する。
4.10.2 高温 JIS C 5101-1の4.21.2(高温)による。
4.10.3 温湿度サイクル(12+12時間サイクル),最初のサイクル JIS C 5101-1の4.21.3[温湿度サイク
ル(12+12時間サイクル),最初のサイクル]による。
4.10.4 低温 JIS C 5101-1の4.21.4(低温)による。
4.10.5 減圧(個別規格に規定がある場合) JIS C 5101-1の4.21.5(減圧)によるほか,次による。
4.10.5.1 個別規格に規定がある場合に試験を行い,試験温度15℃から35℃及び8.5kPaで行う。試験時間
は,5分間とする。
4.10.5.2 試験の最後の1分間は,定格電圧 (UR) を印加する。
4.10.5.3 要求性能 試験中及び最終測定後コンデンサは,表IIに規定の要求性能を満足しなければならな
い。
4.10.6 温湿度サイクル(12+12時間サイクル),残りのサイクル JIS C 5101-1の4.21.6[温湿度サイク
ル(12+12時間サイクル),残りのサイクル]による。
4.10.7 最終測定及び要求性能 コンデンサは,標準状態に1時間から2時間放置し,その後目視によって
外観検査し,電気的測定を行う。表IIに規定の要求性能を満足しなければならない。
4.10.8 封止(個別規格に規定がある場合) JIS C 5101-1の4.20(封止)によるほか,次による。
  試験は,一連耐候性の最後に行う。
4.10.8.1 個別規格にいずれの試験又は方法を適用するかを規定する。
4.10.8.2 後処理 コンデンサを液体に浸せきした場合は,余分な液体を振り落とし,標準状態に1時間か
ら2時間放置する。コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。表IIに規定する要求性能
を満足しなければならない。

4.11 高温高湿(定常)

 JIS C 5101-1の4.22[高温高湿(定常)]によるほか,次による。
4.11.1 初期測定 4.2.2によって静電容量を測定する。
4.11.2 最終測定及び要求性能 後処理後,コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。表
IIに規定する要求性能を満足しなければならない。

4.12 耐久性

 JIS C 5101-1の4.23(耐久性)によるほか,次による。
4.12.1 初期測定 静電容量を4.2.2によって測定する。
4.12.2 試験時間 : 長寿命等級コンデンサ 2 000時間
                 一般等級コンデンサ  1 000時間
       試験温度 : カテゴリ上限温度
       試験電圧 : 個別規格に規定がない場合は,カテゴリ電圧
    備考 カテゴリ電圧及び/又はカテゴリ上限温度が,定格電圧及び/又は定格温度と異なる場合は,
          試料を2分割し定格温度で定格電圧印加及びカテゴリ上限温度でカテゴリ電圧印加の両方の試
          験を行う。
  双極性コンデンサの試験は,印加電圧の極性を168時間±24時間ごとに反転する。
  個別規格に規定がある場合は,50Hz,60Hz,100Hz又は120Hzの規定の周波数の正弦波交流電圧を直流
電圧に重畳する。この場合,ピーク電圧が定格電圧を超えてはならない。また,定格リプル電流を超えて

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はならない。
a) 固体電解コンデンサの場合の試験電圧は,徐々に(2分間以上5分間以内)電圧を上昇するか,又は5
    分間以内に短絡する抵抗器を通じてかのどちらかの方法で印加する。コンデンサの端子からみたイン
    ピーダンスを3  坎   下とする。
b) 非固体電解コンデンサの場合の試験電圧は,低い内部抵抗のサージがない安定化電源によって印加し,
    かつ,分離抵抗器によって各コンデンサ又はコンデンサ群ごとに印加する。この抵抗器の値は,コン
    デンサの1個又は1群が短絡した場合に残りの試料に影響がない値を選定するが,1 000  坎   下とする。
4.12.3 最終測定及び要求性能 最低16時間の後処理後に,コンデンサを目視によって外観検査し,電気
的測定を行う。表IIに規定する要求性能を満足しなければならない。

4.13 サージ

 JIS C 5101-1の4.26(サージ)によるほか,次による。
4.13.1 初期測定 4.2.2によって静電容量を測定する。
4.13.2 試験方法 コンデンサは,5分30秒間の無負荷の後,次の充電を行うのを1サイクルとして,1 000
サイクル印加する。コンデンサと電源を直列として総抵抗が1 000  圀  100   地          抗器を通じてサージ
電圧に等しい電圧を30秒間印加する。
  試験は,次の温度で行う。
                    カテゴり上限温度                試験温度
                         85℃       全試料をカテゴリ上限温度
                         >85℃      試料の半数は85℃,残る半数はカテゴリ上限温度
  サージのサイクルは,30秒間印加の終点で約1 000    地     抗器を通じたコンデンサの放電によって終了
する。
  試験は,サイクルの放電部で終わる。双極性コンデンサの場合は,500サイクル後に極性を反転する。
4.13.3 最終測定及び要求性能 後処理後に,コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。
表IIに規定する要求性能を満足しなければならない。

4.14 逆電圧(個別規格に規定がある場合)

4.14.1 初期測定 4.3.1の規定によって初期測定を行う。
4.14.2 コンデンサに次の試験を行う。
a) サブファミリ1(はく電極形非固体電解コンデンサ)
    試験温度 :      定格温度
    試験逆電圧 :                                              圀
                   3Vd. c. (個別規格に規定がない場合)を1 000    100  地    抗器を通じて印加する。
    試験時間 :      逆極性の方向に試験逆電圧を125時間印加し,続いて正極性方向に定格電圧を125
                   時間印加する。
b) サブファミリ2(焼結形非固体電解コンデンサ)
      適用する場合は,サブファミリ1と同じ条件を適用する。
c) サブファミリ3(焼結形固体電解コンデンサ)
    試験温度 :      定格温度
    試験逆電圧 :    定格電圧の0.1倍。ただし,最大3Vd. c. を超えない(個別規格に規定がない場合)。
                   各コンデンサヘの電圧は,0.1  圀一囿    ただし,最大3  地               ンピーダンスの電
                   源から供給する[電圧は,4.12.2 a)に規定のように徐々に印加する。]。
    試験時間 :      逆極性の方向に試験逆電圧を125時間印加し,続いて正極性方向に定格電圧を125時
                   間印加する。

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4.14.3 最終測定及び要求性能 後処理後,コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。表
IIに規定する要求性能を満足しなければならない。

4.15 高温及び低温特性

 JIS C 5101-1の4.29(高温及び低温特性)によるほか,次による。
4.15.1 測定及び要求性能 コンデンサの測定を行い,表IIに規定の要求性能を満足しなければならない。

4.16 充放電(個別規格に規定がある場合)

 JIS C 5101-1の4.27(充放電)によるほか,次による。
4.16.1 初期測定 4.2.2によって静電容量を測定する。
4.16.2 個別規格に規定がない場合,コンデンサに,周囲温度20℃で,各サイクルがa)の充電の後b)の放
電を規定のサイクル数行う。
  コンデンサの最大許容発熱以下とするため,充電時間を変えないでサイクル間隔を延ばす場合には,こ
のことを個別規格に規定する。
a) 充電
    試験電圧                               :  定格直流電圧
    電源の内部抵抗と外部直列抵抗の和 :     個別規格の規定による。
    時間 :                                 0.5秒間
b) 放電
    電圧印加なし
    放電抵抗 :                             個別規格の規定による。
    時間 :                                 0.5秒間
    サイクル数 :                           106回
    後処理 :                               24時間
4.16.3 最終測定及び要求性能 コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。表IIに規定
する要求性能を満足しなければならない。

4.17 部品の耐溶剤性

 JIS C 5101-1の4.31(部品の耐溶剤性)による。

4.18 表示の耐溶剤性

 JIS C 5101-1の4.32(表示の耐溶剤性)による。

4.19 大電流サージ

関連規格

 JIS C 5062 抵抗器及びコンデンサの表示記号
          JIS Z 9015 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)

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C 5101-15 : 1998
                             電子部品JIS原案作成第1委員会 構成表
                                     氏名                         所属
        (委員長)             平 山 宏 之       東京都立科学技術大学
        (委員)               吉 田 裕 道       東京都立工業技術センター
                               中 西 忠 雄       防衛庁装備局
                               岩 田     武
                               村 岡 桂次郎
                               竹田原 昇 司      通商産業省機械情報産業局電子機器課
                               藤 井 隆 宏       工業技術院標準部電気規格課
                               福 原     隆      沖電気工業株式会社
                               勝 田 明 彦       株式会社ケンウッド
                               山 本 克 己       ソニー株式会社
                               西 林 和 男       株式会社東芝
                               清 水 正 弘       日本電気株式会社
                               大 平 昌 司       松下通信工業株式会社
                               三 宅 敏 明       松下電器産業株式会社
                               山 本 佳 久       三菱電機株式会社
                               三 宅 邦 彦       松尾電機株式会社
                               白 井 洋 一       日通工株式会社
                               尾 村 博 幸       日本ケミコン株式会社
                               川 井 一 成       ルビコン株式会社
                               曽我部 浩 二      株式会社村田製作所
                               秦    考 生       松下電子部品株式会社
                               江 口 正 則       東京コスモス電機株式会社
                               会 田     洋      東光株式会社
                               山 本 圭 一       進工業株式会社
        (事務局)             塚 田 潤 二       社団法人日本電子機械工業会
                               高 梨 健 一       社団法人日本電子機械工業会
                             JTS C 5101-15 (JIS C 5142) 分科会 構成表
                                     氏名                         所属
        (主査)               三 宅 邦 彦       松尾電機株式会社
        (委員)               北 島 義 正       日本電気株式会社
                               高 久 侑 也       エルナー株式会社
                               山 内 良 夫       株式会社高純度物質研究所
                               井 二     仁      三洋電機株式会社
                               鵜 沢 一 夫       ニチコン株式会社
                               尾 村 博 幸       日本ケミコン株式会社
                               飯 田 和 幸       日立エーアイシー株式会社
                               山 崎     正      富士通東和エレクトロン株式会社
                               栗 林 孝 志       松下電子部品株式会社
                               小 松 間兵衛      マルコン電子株式会社
                               村 岡 桂次郎
        (事務局)             塚 田 潤 二       社団法人日本電子機械工業会
                               高 梨 健 一       社団法人日本電子機械工業会