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C 5101-17-1 : 2009 (IEC 60384-17-1 : 2005)
表4−品質確認検査の試験計画−評価水準E及びEZ(続き)
細分箇条番号 D又は 試験条件a) 試料数及び合格判定数c) 要求性能a)
及び試験項目a) ND c) 評価水準 評価水準
E EZ
p n c p n c
誘電正接 (tan tan 湘青 は4.12.1.1の
測定値に対して
CR≦1 F
等級1 : ≦0.001 5
等級2 : ≦0.003
CR>1 F :
個別規格の規定による。
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %
以上
副群C3B D 3 d) 5 1 e) 6 5 0
4.12.2 正弦波電流又は 時間
正弦波電圧による耐 等級1 : 2 000 h
久性 等級2 : 1 000 h
h)
(適用する場合) 周波数 : ···Hz
静電容量
4.12.2.1 初期測定 誘電正接 (tan
CR>1 F : 1 kHz
CR≦1 F : 10 kHz
外観 外観に損傷がない。
4.12.2.3 最終測定 表示は明りょうとする。
静電容量 4.12.2.1の測定値に対す
る| 一
等級1 : ≦ 5 %
等級2 : ≦10 %
誘電正接 (tan tan 湘青 は4.12.2.1の
測定値に対して
CR≦1 F
等級1 : ≦0.001 5
等級2 : ≦0.003
CR>1 F : 個別規格の規
定による。
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %
以上
――――― [JIS C 5101-17-1 pdf 16] ―――――
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C 5101-17-1 : 2009 (IEC 60384-17-1 : 2005)
表4−品質確認検査の試験計画−評価水準E及びEZ(続き)
細分箇条番号 D又は 試験条件a) 試料数及び合格判定数c) 要求性能a)
及び試験項目a) ND c) 評価水準 評価水準
E EZ
p n c p n c
副群C3C D 3 d) 5 1 e) 6 5 0
4.12.3 パルスによる耐 試験時間 : 1 000 h
久性(適用する場合) パルス周波数 : ···Hz
f) )
放電時定数 :
4.12.3.2による
印加ピーク電圧は,
定格ピーク電圧と
同じ
(この規格の表2)
4.12.3.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan
CR>1 F : 1 kHz
CR≦1 F : 10 kHz
4.12.3.3 最終測定 外観 外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
静電容量 4.12.3.1の測定値に対す
る| 一
等級1 : ≦ 5 %
等級2 : ≦10 %
誘電正接 (tan tan 湘青 は4.12.3.1の
測定値に対して
CR≦1 F
等級1 : ≦0.001 5
等級2 : ≦0.003
CR>1 F : 個別規格の規
定による。
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %
以上
副群C4 D 3 9 1 6 10 0
4.2.6 温度特性 静電容量
h)
(適用する場合) 絶縁抵抗 4.2.6による。
――――― [JIS C 5101-17-1 pdf 17] ―――――
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C 5101-17-1 : 2009 (IEC 60384-17-1 : 2005)
表4−品質確認検査の試験計画−評価水準E及びEZ(続き)
細分箇条番号 D又は 試験条件a) 試料数及び合格判定数c) 要求性能a)
及び試験項目a) ND c) 評価水準 評価水準
E EZ
p n c p n c
4.13 充放電(パルスに
よる耐久性試験を適
用する場合には行わ
ない。)
4.13.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan
CR>1 F : 1 kHz
CR≦1 F : 10 kHz
充電時間 : ···s
放電時間 : ···s
4.13.3 最終測定 静電容量 4.13.1の測定値に対する
| 一
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦3 %
等級2 : ≦5 %
誘電正接 (tan tan 湘青 は4.13.1の測
定値に対して
CR≦1 F
等級1 : ≦0.003
等級2 : ≦0.005
CR>1 F : 個別規格の規
定による。
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %
以上
副群C5 ND 12 6 1 6 10 0
4.2.5 インダクタンス L≦···mH
h)
(適用する場合)
――――― [JIS C 5101-17-1 pdf 18] ―――――
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C 5101-17-1 : 2009 (IEC 60384-17-1 : 2005)
表4−品質確認検査の試験計画−評価水準E及びEZ(続き)
注a) 細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は,品種別通則JIS C 5101-17及びこの規格の箇条1による。
b) 試料数 (n) は,JIS Z 9015-1に規定する付表1[サンプル(サイズ)文字]に従い,付表2-A[なみ検査の1
回抜取方式(主抜取表)]のサンプル文字に対応する試料数とする。
c) この表の記号は,次による。
p : 検査周期(月)
n : 試料数
c : 合格判定数(許容不適合数)
D : 破壊試験
ND : 非破壊試験
IL : 検査水準
AQL : 合格品質限界
d) 二つ以上の耐久性試験の場合は,個別規格は,一つの耐久性試験だけが3か月ごとに行われるような方法に
試験周期を変更してもよい。
e) 1個の不適合が生じた場合,2度目の試験は行えるが,不適合は許されない。
f) 個別規格には,4.12.2及び4.12.3のいずれか又は両方の耐久性試験を規定してもよい。
g) この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水
準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するため
に抜取試料をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質
水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。
h) 適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。
JIS C 5101-17-1:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-17-1:2005(IDT)
JIS C 5101-17-1:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-17-1:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称