この規格ページの目次
7
C 5101-17-1 : 2009 (IEC 60384-17-1 : 2005)
表4−品質確認検査の試験計画−評価水準E及びEZ(続き)
細分箇条番号 D又は 試験条件a) 試料数及び合格判定数c) 要求性能a)
及び試験項目a) ND c) 評価水準 評価水準
E EZ
p n c p n c
群C検査(定期的)
副群C1A D 6 9 1 1 6 5 0
副群C1の試料の一部
4.1 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.3.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan
CR>1F : 1 kHz
CR≦1F : 10 kHz
4.3 端子強度 外観 外観に損傷がない。
4.4 はんだ耐熱性 方法 : ···
後処理時間 : ···
4.4.2 最終測定 外観 外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
静電容量 4.3.1の測定値に対する
| 一
等級1.1 : ≦1%
等級1.2 : ≦2%
等級2 : ≦3 %
誘電正接 (tan tan 湘青 は4.3.1の測
定値に対して
CR≦1 F
等級1.1 : ≦0.001
等級1.2 : ≦0.002
等級2 : ≦0.004
CR>1 F : 個別規格の規
定による。
4.14 部品の耐溶剤性 溶剤 : ··· 個別規格の規定による。
h)
(適用する場合) 溶剤の温度 : ···
方法2 : ···
後処理時間 : ···
――――― [JIS C 5101-17-1 pdf 11] ―――――
8
C 5101-17-1 : 2009 (IEC 60384-17-1 : 2005)
表4−品質確認検査の試験計画−評価水準E及びEZ(続き)
細分箇条番号 D又は 試験条件a) 試料数及び合格判定数c) 要求性能a)
及び試験項目a) ND c) 評価水準 評価水準
E EZ
p n c p n c
副群C1B D 6 18 1 1 6 5 0
副群C1の残りの試料
4.6.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan
CR>1 F : 1 kHz
CR≦1 F : 10 kHz
4.6 温度急変 TA=カテゴリ下限温
度
TB=カテゴリ上限温
度
5 サイクル
時間t1=30 min
外観 外観に損傷がない。
4.7 振動 取付方法 : この規格
の1.1による。
周波数範囲 :
···Hz···Hz
振幅0.75 mm又は加
速度100 m/s2(い
ずれか緩い方)
試験時間の合計 : 6 h
4.7.2 最終測定 外観 外観に損傷がない。
4.8 バンプ(又は4.9衝 取付方法 : この規格
撃) の1.1による。
バンプ回数 : ···
ピーク加速度 : ···
m/s2
作用時間 : ···ms
4.9 衝撃(又は4.8バン 取付方法 : この規格
プ) の1.1による。
ピーク加速度 : ···
m/s2
作用時間 : ···ms
――――― [JIS C 5101-17-1 pdf 12] ―――――
9
C 5101-17-1 : 2009 (IEC 60384-17-1 : 2005)
表4−品質確認検査の試験計画−評価水準E及びEZ(続き)
細分箇条番号 D又は 試験条件a) 試料数及び合格判定数c) 要求性能a)
及び試験項目a) ND c) 評価水準 評価水準
E EZ
p n c p n c
4.8.3又は4.9.3 最終測 外観 6 18 1 1 6 5 0 外観に損傷がない。
定 静電容量 4.6.1の測定値に対する
| 一
等級1.1 : ≦1%
等級1.2 : ≦2%
等級2 : ≦3 %
誘電正接 (tan tan 湘青 は4.6.1の測
定値に対して
CR≦1 F
等級1.1 : ≦0.001
等級1.2 : ≦0.002
等級2 : ≦0.004
CR>1 F : 個別規格の規
定による。
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %
以上
副群C1 D 6 27 2 6 10 0
副群C1AとC1Bとを合
わせた試料
4.10 一連耐候性
4.10.2 高温 温度 : カテゴリ上限
温度
時間 : 16 h
4.10.3 温湿度サイクル
試験Db最初のサイク
ル
4.10.4 低温 温度 : カテゴリ下限
温度
時間 : 2 h
4.10.5 減圧 圧力 : 8 kPa
(個別規格に規定があ
る場合)
――――― [JIS C 5101-17-1 pdf 13] ―――――
10
C 5101-17-1 : 2009 (IEC 60384-17-1 : 2005)
表4−品質確認検査の試験計画−評価水準E及びEZ(続き)
細分箇条番号 D又は 試験条件a) 試料数及び合格判定数c) 要求性能a)
及び試験項目a) ND c) 評価水準 評価水準
E EZ
p n c p n c
4.10.5.3 中間測定 外観 6 27 2 6 10 0 永久破壊,フラッシオー
バ又はケースの有害
な変形がない。
4.10.6 温湿度サイクル
試験Db残りのサイク
ル
4.10.6.2 最終測定 外観 外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
静電容量 4.4.2,4.8.3又は4.9.3の
測定値に対する
| 一
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦3 %
等級2 : ≦5 %
誘電正接 (tan tan 湘青 は4.3.1又は
4.6.1の測定値に対し
て
CR≦1 F
等級1.1 : ≦0.001 5
等級1.2 : ≦0.003
等級2 : ≦0.005
CR>1 F : 個別規格の規
定による。
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %
以上
副群C2 D 6 15 1 6 10 0
4.11 高温高湿(定常)
4.11.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan
1 kHz
――――― [JIS C 5101-17-1 pdf 14] ―――――
11
C 5101-17-1 : 2009 (IEC 60384-17-1 : 2005)
表4−品質確認検査の試験計画−評価水準E及びEZ(続き)
細分箇条番号 D又は 試験条件a) 試料数及び合格判定数c) 要求性能a)
及び試験項目a) ND c) 評価水準 評価水準
E EZ
p n c p n c
4.11.3 最終測定 D 外観 6 15 1 6 10 0 外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
静電容量 4.11.1の測定値に対する
| 一
等級1.1 : ≦1 %
等級1.2 : ≦3 %
等級2 : ≦5 %
誘電正接 (tan tan 湘青 は4.11.1の測
定値に対して
CR≦1 F
等級1 : ≦0.001
等級2 : ≦0.002
CR>1 F : 個別規格の規
定による。
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %
以上
副群C3A D 3 d) 20 1 6 5 0
4.12.1 50 Hz又は60 Hz 時間
の交流電圧による耐 等級1 : 2 000 h
久性 等級2 : 1 000 h
h)
(適用する場合)
4.12.1.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan
CR>1F : 1 kHz
CR≦1F : 10 kHz
4.12.1.3 最終測定 外観 外観に損傷がない。
表示は明りょうとする。
静電容量 4.12.1.1の測定値に対す
る| 一
等級1 : ≦ 5 %
等級2 : ≦10 %
――――― [JIS C 5101-17-1 pdf 15] ―――――
次のページ PDF 16
JIS C 5101-17-1:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-17-1:2005(IDT)
JIS C 5101-17-1:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-17-1:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称