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C 5101-18-1 : 2010 (IEC 60384-18-1 : 2007)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D b) 試験条件a) 試料数及び 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 合格判定数c)
ND p b) n b) c b)
副群 : C3.1(続き) D 6 18 0
4.11.3 温湿度サイクル
(試験Db),最初のサイ
クル
4.11.4 低温 温度 : カテゴリ下限温度
試験時間 : 2 h
4.11.5 温湿度サイクル 後処理時間 : 1 h2 h
(試験Db),残りのサイ
クル
4.11.6 最終測定 外観 外観に損傷がなく,表示は,
明りょうとする。
漏れ電流 初期規格値以下
静電容量 4.11.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接(tan δ) 初期規定値の1.2倍以下
副群C3.2 D 6 9 0
4.12 高温高湿(定常) 後処理時間 : 1 h2 h
4.12.1 初期測定 静電容量(副群3での測定値
を用いてもよい。)
4.12.3 最終測定 外観 外観に損傷がなく,表示は,
明りょうとする。
漏れ電流 初期規定値以下
静電容量 4.12.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接(tan δ) 初期規定値の1.2倍以下
インピーダンス この規格の表3の規定値の1.2
倍以下
副群C3.3 D 3 24 0
4.15 耐久性 試験時間 : 1 000 h
試験温度 : カテゴリ上限温度
印加電圧 : ··· V
後処理時間 : 1 h2 h
4.15.1 初期測定 静電容量(副群3での測定値 4.15.1の測定値に対して
を用いる。) |ΔC/C|≦10 %
4.15.3 最終測定 外観 外観に損傷がなく,表示は,
明りょうとする。
漏れ電流 初期規定値以下
静電容量 4.15.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接(tan δ) 初期規定値の1.2倍以下
インピーダンス この規格の表3の規定値の1.2
倍以下
――――― [JIS C 5101-18-1 pdf 11] ―――――
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C 5101-18-1 : 2010 (IEC 60384-18-1 : 2007)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D b) 試験条件a) 試料数及び 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 合格判定数c)
ND p b) n b) c b)
副群C3.4 D 6* 15* 0*
4.13 高温及び低温特 コンデンサを段階順に測定
性 する。
段階1 : 20 ℃
静電容量(個別規格に規定が 比較用に用いる。
ある場合)
インピーダンス(段階2と同 比較用に用いる。
じ測定周波数)
損失角の正接(tan δ)(個別
規格に規定がある場合)
段階2 : カテゴリ下限温度
静電容量(個別規格に規定が 段階1の測定値に対して
ある場合) |ΔC/C|≦20 %
インピーダンス 段階1の測定値の2倍以下
損失角の正接(tan δ)(個別 初期規定値の2倍以下
規格に規定がある場合)
段階3 : カテゴリ上限温度
漏れ電流 125 ℃(UR)で
4.5.1規定値の15倍以下
125 ℃(UC)で
4.5.1規定値の8倍以下
105 ℃(UR)で
4.5.1規定値の12.5倍以下
100 ℃(UR)で
4.5.1規定値の12.5倍以下
85 ℃(UR)で
4.5.1規定値の10倍以下
静電容量(個別規格に規定が 段階1の測定値に対して
ある場合) |ΔC/C|≦20 %
損失角の正接(tan δ)(個別 初期規定値以下
規格に規定がある場合)
4.19 充放電(個別規格 温度 : 20 ℃
に規定がある場合) サイクル数 : 106回
充電時間 : 0.5 s
放電時間 : 0.5 s
4.19.1 初期測定 静電容量
4.19.3 最終測定 漏れ電流 初期規定値以下
静電容量 4.13の段階3の測定値に対し
て|ΔC/C|≦5 %
注* 対応国際規格の明らかな記載漏れのため,p=周期(月),n=試料数,c=合格判定数(許容不適合数)を追加
した。
――――― [JIS C 5101-18-1 pdf 12] ―――――
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C 5101-18-1 : 2010 (IEC 60384-18-1 : 2007)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D b) 試験条件a) 試料数及び 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 合格判定数c)
ND p b) n b) c b)
副群C3.5A D 12 6 0
4.17 高温保存 温度 : カテゴリ上限温度
時間 : 96 h±4 h
後処理時間 : 16 h以上
4.17.1 初期測定 静電容量(副群C3での測定
値を用いる。)
4.17.3 最終測定 外観 外観に損傷がない。
漏れ電流 初期規定値以下
静電容量 4.17.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦5 %
損失角の正接(tan δ) 初期規定値以下
4.14 サージ サイクル数 : 1 000回
温度 : ··· ℃
充電電圧 : 1.15 UR又は1.15
UC
保護抵抗 : RC=0.1 s±0.05 s
充電時間 : 30 s
無負荷時間 : 5 min 30 s
4.14.3 最終測定 外観 外観に損傷がない。
漏れ電流 初期規定値以下
静電容量 4.17.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接(tan δ) 初期規定値以下
副群C3.5 B D 12 6 0
4.16 逆電圧(個別規格 カテゴリ上限温度で0.15UC
に規定がある場合) の直流電圧を極性と逆方
向に125時間印加する。引
き続いてカテゴリ上限温
度でカテゴリ電圧を極性
と正方向に125時間印加す
る。
4.16.1 初期測定 静電容量(副群C3での測定
値を用いる。)
4.16.3 最終測定 漏れ電流 初期規定値以下
静電容量 4.16.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接(tan δ) 初期規定値以下
――――― [JIS C 5101-18-1 pdf 13] ―――――
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C 5101-18-1 : 2010 (IEC 60384-18-1 : 2007)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
注a) 細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は,JIS C 5101-18及びこの規格の箇条1による。
b) この表の記号は,次による。
IL : 検査水準,p=周期(月),n=試料数,c=合格判定数(許容不適合数),D=破壊試験,ND=非破壊試験
c) 合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。
d) 製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他の仕
組みを取り入れている場合には,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
e) この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水準
は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するために抜
取試料をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質水
準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は累積した検査データによって算出する
f) 試料数(n)は,JIS Z 9015-1に規定の付表1の検査水準(IL)とロットサイズとで割り当てるサンプル文字に
従い,付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
g) この試験は,コンデンサをプリント配線板の上に取り付けた状態で行ってもよい。
h) 個別規格にアルミナ基板に装着することを規定しているコンデンサには,適用しない。
i) 各副群で異なった材料のプリント配線板を用いる場合には,そのプリント配線板材料は,個別規格に規定する。
JIS C 5101-18-1:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-18-1:2007(IDT)
JIS C 5101-18-1:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.50 : アルミニウム電解コンデンサ
JIS C 5101-18-1:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式