JIS C 5101-18-2:2010 電子機器用固定コンデンサ―第１８－２部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ―評価水準ＥＺ | ページ 3

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                                                           C 5101-18-2 : 2010 (IEC 60384-18-2 : 2007)
                              表5−品質確認検査の試験計画(続き)
    細分箇条番号     D            試験条件a)         試料数及び合格判         要求性能a)
   及び試験項目a)   又は                                  定数c)
                    ND b)                            p b)  n b)  c b)
副群 : C3.1(続き)    D                               6     18  0
4.11.3 温湿度サイク
ル(試験Db),最初の
サイクル
4.11.4 低温               温度 : カテゴリ下限温度
                          試験時間 : 2 h
4.11.5 温湿度サイク       後処理時間 : 1 h2 h
ル(試験Db),残りの
サイクル
4.11.6 最終測定           外観                                         外観に損傷がなく,電解液の
                                                                         漏れがない。表示は,明り
                                                                         ょうとする。
                          漏れ電流                                     初期規格値以下
                          静電容量                                     4.11.1の測定値に対して
                                                                         |ΔC/C|≦10 %
                          損失角の正接(tan δ)                       初期規定値の1.2倍以下
副群C3.2              D                               6     9   0
4.12 高温高湿(定常)     後処理時間 : 1 h2 h
4.12.1 初期測定           静電容量(副群3での測定値
                            を用いてもよい。)
4.12.3 最終測定           外観                                         外観に損傷がなく,電解液の
                                                                         漏れがない。表示は,明り
                                                                         ょうとする。
                          漏れ電流                                     初期規定値以下
                          静電容量                                     4.12.1の測定値に対して
                                                                         |ΔC/C|≦10 %
                          損失角の正接(tan δ)                       初期規定値の1.2倍以下
                          インピーダンス                               この規格の表3の規定値の1.2
                                                                         倍以下
副群C3.3              D                               3     24  0
4.15 耐久性               試験時間 : 1 000 h
                          試験温度 : カテゴリ上限温度
                          印加電圧 : ··· V
                          後処理時間 : 1 h2 h
4.15.1 初期測定           静電容量(副群3での測定値
                            を用いる。)

――――― [JIS C 5101-18-2 pdf 11] ―――――

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C 5101-18-2 : 2010 (IEC 60384-18-2 : 2007)
                              表5−品質確認検査の試験計画(続き)
    細分箇条番号     D            試験条件a)         試料数及び合格判         要求性能a)
   及び試験項目a)   又は                                  定数c)
                    ND b)                            p b)  n b)  c b)
副群C3.3(続き)      D                               3     24  0
4.15.3 最終測定           外観                                         外観に損傷がなく,電解液の
                                                                         漏れがない。表示は,明り
                                                                         ょうとする。
                          漏れ電流                                     初期規定値以下
                          静電容量                                     4.15.1の測定値に対して
                                                                          定格電圧     ΔC/C
                                                                             V           %
                                                                          UR≦6.3    +25−40
                                                                         6.3                          損失角の正接(tan δ)                       初期規定値の2倍以下又は0.4
                                                                         のうちいずれか大きい値以
                                                                         下。
                          インピーダンス                               この規格の表3の規定値の4
                                                                         倍以下
副群C3.4              D                               6     15  0
4.13 高温及び低温特       コンデンサを段階順に測定す
性                          る。
                          段階1 : 20 ℃
                          静電容量(個別規格に規定が                   比較用に用いる。
                            ある場合)
                          インピーダンス(段階2と同                    比較用に用いる。
                            じ測定周波数)
                          損失角の正接(tan δ)(個別規
                            格に規定がある場合)
                          段階2 : カテゴリ下限温度
                          インピーダンス                               段階1の測定値の2倍以下
                                                                         定格電圧    インピー
                                                                            V        ダンス比
                                                                          UR≦6.3     ≦10
                                                                        6.3                                                                        16                          段階3 : カテゴリ上限温度
                          漏れ電流                                     125 ℃(UR)で
                                                                         4.5.1規定値の10倍以下
                                                                       105 ℃(UC)で
                                                                         4.5.1規定値の8倍以下
                                                                       100 ℃(UR)で
                                                                         4.5.1規定値の8倍以下
                                                                       85 ℃(UR)で
                                                                         4.5.1規定値の5倍以下
                          静電容量(個別規格に規定が                   個別規格の規定による。
                            ある場合)
                          損失角の正接(tan δ)(個別規               個別規格の規定による。
                            格に規定がある場合)

――――― [JIS C 5101-18-2 pdf 12] ―――――

                                                                                              9
                                                           C 5101-18-2 : 2010 (IEC 60384-18-2 : 2007)
                              表5−品質確認検査の試験計画(続き)
    細分箇条番号     D            試験条件a)         試料数及び合格判         要求性能a)
   及び試験項目a)   又は                                  定数c)
                    ND b)                            p b)  n b)  c b)
副群C3.4(続き)      D                               6     15  0
4.19 充放電(個別規       温度 : 20 ℃
格に規定がある場合)      試験のサイクル数 : 106回
                          充電時間 : 0.5 s
                          放電時間 : 0.5 s
                          外観                                         外観に損傷がなく,電解液の
                                                                         漏れがない。表示は,明り
                                                                         ょうとする。
4.19.1 初期測定           静電容量
4.19.3 最終測定           漏れ電流                                     初期規定値以下
                          静電容量                                     4.13の段階3の測定値に対し
                                                                         て|ΔC/C|≦10 %
副群C3.5A             D                               12    6   0
4.17 高温保存             温度 : カテゴリ上限温度
                          時間 : 96 h±4 h
                          後処理時間 : 16 h以上
4.17.1 初期測定           静電容量(副群C3での測定値
                            を用いる。)
4.17.3 最終測定           外観                                         外観に損傷がなく,電解液の
                                                                         漏れがない。表示は,明り
                                                                         ょうとする。
                          漏れ電流                                     初期規定値の2倍以下
                          静電容量                                     4.17.1の測定値に対して
                                                                         |ΔC/C|≦10 %
                          損失角の正接(tan δ)                       初期規定値の1.2倍以下
4.18 低温保存i)           時間 : 16時間又は熱平衡に到
                            達後4時間(いずれか短い
                            方)
                          温度 : −40 ℃
                          後処理時間 : 1 h2 h
4.18.1 初期測定           静電容量
4.18.2 最終測定           外観                                         外観に損傷がなく,電解液の
                                                                         漏れがない。表示は,明り
                                                                         ょうとする。
                          漏れ電流                                     初期規定値以下
                                                                       4.18.1の測定値に対して
                                                                         |ΔC/C|≦10 %
                          損失角の正接(tan δ)                       初期規定値以下
4.14 サージ               サイクル数 : 1 000回
                          温度 : ··· ℃
                          印加電圧 : 1.15 UR又は1.15 UC
                          保護抵抗 : RC=0.1 s±0.05 s
                          充電時間 : 30 s
                          無負荷時間 : 5 min 30 s

――――― [JIS C 5101-18-2 pdf 13] ―――――

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C 5101-18-2 : 2010 (IEC 60384-18-2 : 2007)
                              表5−品質確認検査の試験計画(続き)
    細分箇条番号     D            試験条件a)         試料数及び合格判         要求性能a)
   及び試験項目a)   又は                                  定数c)
                    ND b)                            p b)  n b)  c b)
副群C3.5A(続き)     D                               12    6   0
4.14.3 最終測定           外観                                         外観に損傷がなく,電解液の
                                                                         漏れがない。
                          漏れ電流                                     初期規定値以下
                          静電容量                                     4.17.3又は4.18.2の測定値に対
                                                                         して|ΔC/C|≦15 %
                          損失角の正接(tan δ)                       初期規定値以下
副群C3.5 B            D                               6     12  0
4.16 逆電圧(個別規       カテゴリ上限温度で0.15UCの
格に規定がある場合)        直流電圧を極性と逆方向に
                            125時間印加する。
                          引き続いてカテゴリ上限温度
                            でカテゴリ電圧を極性と正
                            方向に125時間印加する。
4.16.1 初期測定           静電容量(副群C3での測定値
                            を用いる。)
4.16.3 最終測定           漏れ電流                                    初期規定値以下
                          静電容量                                    個別規格の規定による。
                          損失角の正接(tan δ)                      初期規定値以下
注a) 細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は,JIS C 5101-18及びこの規格の箇条1による。
   b) この表の記号は,次による。
       IL : 検査水準,p=周期(月),n=試料数,c=合格判定数(許容不適合数),D=破壊試験,ND=非破壊試験
   c) 合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。
   d) 製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他の仕
     組みを取り入れている場合には,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
   e) 試料数(n)は,JIS Z 9015-1に規定の付表1の検査水準(IL)とロットサイズとで割り当てるサンプル文字に
     従い,付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
   f) この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で行ってもよい。
   g) 個別規格にアルミナ基板に装着することを規定しているコンデンサには,適用しない。
   h) 各副群で異なった材料のプリント配線板を用いる場合には,そのプリント配線板材料は,個別規格に規定する。
   i) 非固体電解コンデンサで,かつ,カテゴリ下限温度が−10 ℃及び−25 ℃の場合に適用する。