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C 5101-22 : 2014 (IEC 60384-22 : 2011)
表5−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験条件 試料数(n) 要求性能
試験項目 ND (注記1参照) 及び (注記1参照)
(注記1参照) 合格判定数
(c)
副群3.3 D 特殊な前処理は4.1による。 表4による。
4.14 耐久性
時間 : ··· h
温度 : ··· ℃
電圧 : ··· V
4.14.2 初期測定 静電容量
後処理時間 : 24 h±2 h
4.14.5 最終測定 外観 損傷がなく表示が明瞭で
ある。
静電容量 ΔC/Cは4.14.5による。
誘電正接 4.14.5による。
絶縁抵抗 4.14.5による。
副群3.4 D 表4による。
4.18 加速耐湿性(定常) 時間 : ··· h
(適用する場合) 温度 : 85 ℃±2 ℃
相対湿度 : (85±3)%
4.18.1 初期測定 絶縁抵抗 4.18.1による。
後処理時間 : 24 h±2 h
4.18.4 最終測定 絶縁抵抗 4.18.4による。
群4 ND 表4による。
4.6 静電容量の温度特性
特殊な前処理は4.1による。 ΔC/Cは4.6.3による。
注記1 試験の細分箇条番号,試験条件及び要求性能は,箇条4を参照。
注記2 この表で,Dは破壊試験,NDは非破壊試験を表す。
注記3 “...”で示す値は,この規格では規定せずに,個別規格で規定することを示す。
注a) この試験は,コンデンサをプリント配線板に取り付けた状態で実施してもよい。
b) 各副群で異なるプリント配線板材料を用いる場合は,それぞれの副群で用いるプリント配線板材料を個別規
格に規定する。
3.5 品質確認検査
3.5.1 検査ロットの構成
3.5.1.1 群A検査及び群B検査
これらの検査は,ロットごとに実施する。
製造業者は,次の条件の下にコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
1) 検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2参照)。
2a) 検査試料は,検査ロットに含まれる公称静電容量と定格電圧との組合せ及び外形寸法を代表するよ
うに選び,試料数に関しては1組合せ当たり5個以上とする。
2b) EC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,1組合せ当たりの試料数が4個以下のとき,製造業
者は,認証機関(CB)の承認が必要である。
3.5.1.2 群C検査
この検査は,定期的に実施する。
試料は,特定の期間に工程に流れている製品を代表するものとし,外形寸法を小,中及び大に分類する。
いかなる期間でも認証の範囲を対象とするために,外形寸法の分類ごとに一つの定格電圧のものを試験す
る。
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C 5101-22 : 2014 (IEC 60384-22 : 2011)
その後の期間では,認証の全ての範囲を対象とするために,製造中のその他の外形寸法及び/又は定格
電圧のものを試験する。
3.5.2 試験計画
ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画は,ブランク個別規格の箇条2の表4に
規定する。
3.5.3 長期保管後の出荷
JIS C 5101-1のQ.10(長期保管後の出荷)に従い,はんだ付け性及び静電容量について,群A及び群B
の再検査を実施する。
3.5.4 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,表6A及び表6Bから選定することが望ましい。
表6A−ロットごとの品質確認検査
検査副群d) 評価水準 EZ
IL a) n a) c a)
A0 100 % b)
c)
A1 S-4 0
c)
A2 S-3 0
c)
B1 S-3 0
c)
B2 S-2 0
注a) L=検査水準
n=試料数
c=合格判定数
b) この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査で
ある。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するために,抜取試料を全
て検査する。抜取水準は,製造業者が選定する。その場合,JIS C 5005-2の附属書A[信頼水準60 %
における100万個当たりの不適合品率(ppm)で示す統計的工程品質限界(SVQL)の推定]によ
ることが望ましい。抜取試料中に1個以上の不適合を発見した場合には,このロットは不合格とす
るが,品質水準を算出するために,不適合品の数を全て数える。ppmで示す出荷品質水準は,JIS C
5005-2の6.2(SVQLの算出)に規定する方法によって,累積した検査データから算出する。
c) 試料数は,JIS C 5005-2の4.3.2(なみ検査による抜取検査方式)によって決定する。
d) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2による。
表6B−定期的品質確認検査
検査副群b) 評価水準 EZ
p a) n a) c a)
C1 3 12 0
C2 3 12 0
C 3.1 6 27 0
C 3.2 6 15 0
C 3.3 3 15 0
C 3.4 c) 6 15 0
C4 6 9 0
注a) =検査周期(月)
n=試料数
c=合格判定数
b) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2に規定する。
c) 要求がある場合に実施する。
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C 5101-22 : 2014 (IEC 60384-22 : 2011)
4 試験及び測定方法
この箇条は,JIS C 5101-1の箇条4(試験及び測定手順)に規定する事項を補足する。
4.1 特殊な前処理
前処理を適用する項目で,個別規格に条件の規定がない場合は,この特殊な前処理を試験前又は試験に
続いて実施する。
コンデンサをカテゴリ上限温度又は個別規格に規定する高温度に1時間放置し,その後,標準状態に24
時間±1時間放置する。
注記 コンデンサ種類2の静電容量には,時間経過とともに指数関数的に減少するエージング現象が
ある。ただし,コンデンサを誘電体のキュリー点温度を超える温度で熱すると,例えば,エー
ジングで減少した静電容量が回復し,脱エージングが起こる。コンデンサが冷やされると,そ
のときから,エージングが再度始まる。特殊な前処理の目的は,コンデンサに履歴の影響がな
い状態とすることである(詳細は,B.4参照)。
4.2 測定条件
測定条件は,JIS C 5101-1の4.2.1[測定及び試験のための標準大気条件(標準状態)]による。
4.3 取付け
取付けは,JIS C 5101-1の4.33(取付け)による。
4.4 外観及び寸法検査
外観及び寸法の検査は,JIS C 5101-1の4.4(外観検査及び寸法検査)によるほか,次による。
4.4.1 外観
外観は,供試品及び要求する品質水準に適切な照明及び約10倍の拡大鏡を用いて検査する。
注記 検査員は,適切な測定設備に加えて直接又は間接照明の設備を用意することが望ましい。
4.4.2 要求事項
次の要求事項の数値は,個別規格又は製造業者の仕様書に規定してもよい。
4.4.2.1 磁器部についての要求事項
コンデンサの磁器部については,次による。
a) 表面の小さな損傷を除き,コンデンサの性能を損なうようなクラック又は亀裂があってはならない(例
えば,図1及び図2参照)。
図1−不適合 : クラック又は亀裂
注記 一つの側面にある又は一つの面から角を越えて他の面に伸びているクラック又は亀裂を示している。
図2−不適合 : クラック又は亀裂
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b) コンデンサの層間に目に見える分離又は離があってはならない(図3参照)。
図3−不適合 : 層間の分離又は離
c) 二つの端子電極間に内部電極の露出があってはならない(図4参照)。
図4−不適合 : 内部電極の露出
d) 附属書Aの寸法L4で示す端子電極間の最短距離の磁器部に,導電性の汚れがあってはならない。
4.4.2.2 金属化部についての要求事項
コンデンサの金属化部については,次による。
a) 金属化電極面には,目に見える電極切れがなく,かつ,いかなる内部電極の露出があってはならない
(図4参照)。
b) 図5の記号A,B及びCは主要な面とし,正方形の断面をもつコンデンサの場合は,面D及び面Eも
また主要面とみなす。
各主要面上の金属化していない電極部の最大面積は,それぞれの電極面の15 %以下とする。金属化して
いない部分は,一箇所に集中してはならない。
金属化していない部分では二つの主要りょう(稜),又は正方形の断面をもつコンデンサでは四つの主要
りょう(稜)の機能に,影響を与えてはならない。めっきなどの電極表面処理層の付着していない部分は,
主要りょう(稜)の全長の25 %以下とする。
図5−主要面
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4.5 電気的試験
4.5.1 静電容量
静電容量は,JIS C 5101-1の4.7(静電容量)によるほか,次による。
4.5.1.1 測定条件
個別規格に規定がない場合は,表7による。
表7−測定条件
公称静電容量 定格電圧 周波数 測定電圧 判定に疑義が生じ
UR V(実効値) た場合の測定電圧
V(実効値)
a)
CN<100 pF 1 MHz 1.0±0.2 1.0±0.02
100 pF≦CN≦10 UR>6.3 V 1 kHz 1.0±0.2 1.0±0.02
UR≦6.3 V 1 kHz 0.5±0.2 0.5±0.02
CN>10 a)
100 Hz又は120 Hz 0.5±0.2 0.5±0.02
注a) 全ての定格電圧(UR)
4.5.1.2 要求性能
プリント配線板に取り付けない状態で測定した静電容量値は,公称静電容量に対して,規定の許容差内
とする。
群3に規定するプリント配線板に取り付けた状態での測定値は,その後に実施する試験の初期値として
用いる。
個別規格に規定がない場合,静電容量値の判定は,1 000時間のエージング後を想定して実施する(附属
書B参照)。1 000時間以外のエージング時間を適用する場合,個別規格に規定してもよい。
4.5.2 誘電正接(tan
誘電正接は,JIS C 5101-1の4.8(誘電正接)によるほか,次による。
4.5.2.1 測定条件
測定条件は,4.5.1.1による。
測定装置の確度は,1×10−3以下とする。
4.5.2.2 要求性能
プリント配線板に取り付けない状態で測定した誘電正接値は,表8に規定する値以下とする。
表8−誘電正接の許容値
定格電圧 サブクラス 誘電正接
UR
UR≧10 V 全てのサブクラス 0.035以下,又は個別規格の
規定する値以下とする。
UR<10 V 2B,2C,2R 0.1
2D,2E 0.15
2F 0.2
注記 サブクラスの記号は2.2.5の表3を参照
プリント配線板取付後の群3での誘電正接の測定値は,その後に実施する試験の初期値として用いる。
4.5.3 絶縁抵抗(Ri)
絶縁抵抗は,JIS C 5101-1の4.5(絶縁抵抗)によるほか,次による。
――――― [JIS C 5101-22 pdf 20] ―――――
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JIS C 5101-22:2014の引用国際規格 ISO 一覧
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