JIS C 5101-22:2014 電子機器用固定コンデンサ―第２２部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類２ | ページ 6

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                                                              C 5101-22 : 2014 (IEC 60384-22 : 2011)
4.11.2 初期測定
  静電容量を4.5.1によって測定する。
4.11.3 サイクル数
  サイクル数は,5回とする。
  カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度に放置する時間は,30分間とする。
4.11.4 後処理
  コンデンサは24時間±2時間放置する。
4.11.5 最終測定及び要求性能
  コンデンサは,外観検査を実施し,目に見える損傷があってはならない。静電容量を4.5.1によって測定
したとき,その変化は表13に規定する値以下とする。
                                    表13−最大静電容量変化
                                 サブクラス           要求性能
                                 2B及び2C              ±10 %
                                 2D及び2R              ±15 %
                                 2E及び2F              ±20 %
                             注記 サブクラスの記号は2.2.5の表3を参照

4.12 一連耐候性

  一連耐候性は,JIS C 5101-1の4.21(一連耐候性)によるほか,次による。
4.12.1 特殊な前処理
  特殊な前処理は,4.1による。
4.12.2 初期測定
  静電容量を4.5.1によって測定する。
4.12.3 高温
  高温は,JIS C 5101-1の4.21.2(高温)による。
4.12.4 温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクル
  JIS C 5101-1の4.21.3[温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクル]による。
4.12.5 低温
  低温は,JIS C 5101-1の4.21.4(低温)によるほか,次による。
4.12.5.1 最終検査及び要求性能
  コンデンサは,外観検査を実施し,目に見える損傷があってはならない。
4.12.6 温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクル
  JIS C 5101-1の4.21.6[温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクル]によるほか,次による。
4.12.6.1 試験条件
  電圧は,印加しない。
  残りのサイクルは,表14による。
                            表14−温湿度サイクル,残りのサイクル数
                                  カテゴリ    24時間のサイクル数
                                 − /− / 56          5
                                 − /− / 21          1
                                 − /− / 10          1
                                 − /− / 04          0

――――― [JIS C 5101-22 pdf 26] ―――――

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C 5101-22 : 2014 (IEC 60384-22 : 2011)
4.12.6.2 後処理
  コンデンサは,24時間±2時間放置する。
4.12.7 最終検査,測定及び要求性能
  コンデンサは,外観検査を実施し,目に見える損傷があってはならない。
  コンデンサは,電気的性能を測定し,次の要求事項を満足しなければならない。
  試験後の静電容量値が,表15に規定する許容値の最低値よりも低い場合は,その他の性能を測定後に
4.1の特殊な前処理を実施し,再度静電容量値を測定したとき,表15の要求性能を満足しなければならな
い。
                                  表15−最終測定及び要求性能
  測定項目    測定条件                                  要求性能
                            サブクラス2B      サブクラス2D     サブクラス2E     サブクラス2F
                               及び2C            及び2R
  静電容量  4.5.1による。        一     10 %       一     15 %      一     20 %      一     30 %
  誘電正接  4.5.2による。4.5.2の表8の2倍以下
  絶縁抵抗  4.5.3による。 Ri≧1 000 MΩ又はRi×CN≧25 sのいずれか小さい値以上
 注記 サブクラスの記号は2.2.5の表3を参照

4.13 高温高湿(定常)

  高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1の4.22[高温高湿(定常)]によるほか,次による。
  コンデンサは,4.3によってプリント配線板に取り付ける。
4.13.1 特殊な前処理
  4.1による。
4.13.2 初期測定
  静電容量を4.5.1によって測定する。
4.13.3 試験条件
  個別規格に規定がない場合は,電圧は印加しない。
  試験の厳しさは,表16及び個別規格に規定する試験条件から選定することが望ましい。
  試験期間は,2.1に従って選定することが望ましく,個別規格に規定する。
                               表16−高温高湿(定常)の試験条件
                               厳しさ      温度        相対湿度
                                            ℃            %
                                 1       +85±2        85±3
                                 2       +60±2        93±3
                                 3       +40±2        93±3
  電圧印加の規定がある場合は,試料の半数は定格電圧を印加し,その他の半数は印加しない。
  高温高湿(定常)試験後に槽から取り出し,15分間以内に耐電圧試験を4.5.4によって実施する。ただ
し,この場合の電圧は,定格電圧とする。
    注記 安全上の理由によって,定格電圧1 kV以上のコンデンサについては,別の電圧印加条件を個別
          規格に規定してもよい。
4.13.4 後処理
  コンデンサは24時間±2時間放置する。

――――― [JIS C 5101-22 pdf 27] ―――――

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                                                              C 5101-22 : 2014 (IEC 60384-22 : 2011)
4.13.5 最終検査,測定及び要求性能
  コンデンサは,外観検査を実施し,目に見える損傷があってはならない。
  コンデンサは,電気的性能を測定し,次の要求性能を満足しなければならない。
  試験後の静電容量値が,表17に規定する許容値の最低値よりも低い場合は,その他の性能を測定後に
4.1の特殊な前処理を実施し,再度静電容量値を測定したとき,表17の要求性能を満足しなければならな
い。
                                  表17−最終測定及び要求性能
  測定項目    測定条件                                  要求性能
                            サブクラス2B      サブクラス2D     サブクラス2E     サブクラス2F
                               及び2C            及び2R
  静電容量  4.5.1による。        一     10 %       一     15 %      一     20 %      一     30 %
  誘電正接  4.5.2による。 4.5.2の表8の2倍以下
  絶縁抵抗  4.5.3による。 Ri≧1 000 M  はRi×CN≧25 sのいずれか小さい値以上
 注記 サブクラスの記号は2.2.5の表3を参照

4.14 耐久性

  耐久性は,JIS C 5101-1の4.23(耐久性)によるほか,次による。
  コンデンサは,4.3によってプリント配線板に取り付ける。
4.14.1 特殊な前処理
  4.1による。
4.14.2 初期測定
  静電容量を4.5.1によって測定する。
4.14.3 試験条件
  コンデンサは,次の条件によって試験する。
  カテゴリ電圧と定格電圧とが等しい場合,表18に規定する条件で試験を実施する。
                            表18−耐久性の試験条件(UC=URの場合)
                項目                                UR
                                                     V
                              UR≦200           200500
             温度         カテゴリ上限温度    カテゴリ上限温度    カテゴリ上限温度
             電圧    V         1.5UR               1.3UR               1.2UR
             試験時間 h        1 000               1 500               2 000
  カテゴリ電圧と定格電圧とが等しくない場合,表19に規定する条件で試験を実施する。
                          表19−耐久性の試験条件(UC=URでない場合)
                項目                                UR
                                                     V
                              UR≦200           200500
             温度    ℃    TR        TB        TR        TB        TR        TB
             電圧    V    1.5UR     1.5UC     1.3UR     1.3UC     1.2UR     1.2UC
             時間     h        1 000                1 500              2 000
             試料              2分割               2分割               2分割
             注記 TR : 定格温度
                  TB : 85 ℃を超えるカテゴリ上限温度(100 ℃,125 ℃及び150 ℃)

――――― [JIS C 5101-22 pdf 28] ―――――

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C 5101-22 : 2014 (IEC 60384-22 : 2011)
4.14.4 後処理
  コンデンサは24時間±2時間放置する。
4.14.5 最終検査,測定及び要求性能
  コンデンサは,外観検査を実施し,目に見える損傷があってはならない。
  コンデンサは,電気的性能を測定し,次の要求性能を満足しなければならない。
  試験後の静電容量値が,表20に規定する許容値の最低値よりも低い場合は,その他の性能を測定後に
4.1の特殊な前処理を実施し,再度静電容量値を測定したとき,表20の要求性能を満足しなければならな
い。
                                  表20−最終測定及び要求性能
  測定項目    測定条件                                  要求性能
                            サブクラス2B      サブクラス2D     サブクラス2E     サブクラス2F
                               及び2C            及び2R
  静電容量  4.5.1による。        一     10 %       一     15 %      一     20 %      一     30 %
  誘電正接  4.5.2による。4.5.2の表8の2倍以下
  絶縁抵抗  4.5.3による。 Ri≧2 000 MΩ又はRi×CN≧50 sのいずれか小さい値以上
 注記 サブクラスの記号は2.2.5の表3を参照

4.15 端子強度(板端子をもつコンデンサに適用)

  端子電極は,JIS C 5101-1の4.13(端子強度)によるほか,次による。
4.15.1 試験条件
  個別規格に規定がない場合は,次の試験条件による。
− 試験Ua1(引張強さ) :         力 : 2.5 N
− 試験Ub(曲げ強さ),方法1 :  力 : 2.5 N
− 曲げ回数 :                    1回
4.15.2 最終検査及び要求性能
  コンデンサは,外観検査を実施し,目に見える損傷があってはならない。

4.16 部品の耐溶剤性(適用する場合)

  部品の耐溶剤性は,JIS C 5101-1の4.31(部品の耐溶剤性)による。

4.17 表示の耐溶剤性(適用する場合)

  表示の耐溶剤性は,JIS C 5101-1の4.32(表示の耐溶剤性)による。

4.18 加速耐湿性(定常)(適用する場合)

  加速耐湿性(定常)は,JIS C 5101-1の4.37[加速耐湿性(定常)]による。
  コンデンサは,4.3によってプリント配線板に取り付ける。
  コンデンサの半数は,100 kΩ±10 %の抵抗器と,残りの半数は6.8 kΩ±10 %の抵抗器と直列に接続する。
4.18.1 初期測定
  コンデンサは,1.5 V±0.1 Vの電圧をコンデンサと抵抗器とを直列に接続した両端間に印加し,絶縁抵
抗を測定する。直列抵抗器を含む絶縁抵抗値は,表21による。

――――― [JIS C 5101-22 pdf 29] ―――――

                                                                                             25
                                                              C 5101-22 : 2014 (IEC 60384-22 : 2011)
                                      表21−初期要求性能
         測定項目    測定条件                           要求性能
         絶縁抵抗   1.5 V±0.1 V100 kΩの抵抗器を接続 CN≦25 nF : Ri≧4 000 MΩ
                                                      CN>25 nF : (Ri−100 kΩ)×CN≧100 s
                                6.8 kΩの抵抗器を接続 CN≦25 nF : Ri≧4 000 MΩ
                                                      CN>25 nF : (Ri−6.8 kΩ)×CN≧100 s
4.18.2 試験条件
  抵抗器と接続したコンデンサは,温度85 ℃±2 ℃,相対湿度(85±3)%の条件で表22に規定する試
験時間放置する。100 kΩ及び6.8 kΩの抵抗器を接続した各コンデンサは,表22に規定する電圧を印加す
る。いずれの場合も印加する電圧は,コンデンサと抵抗器とを直列に接続した端子間に印加する。
  コンデンサ又はプリント配線板の表面が,結露しないように注意する。試験中に湿度が下がる前に扉を
開けると,このようなことが起こる場合がある。
                                        表22−試験条件
             抵抗器                  印加電圧                          時間
             100 kΩ  1.5 V±0.1 V又は個別規格に規定する電圧168 h,500 h又は1 000 hとし,
             6.8 kΩ  50 V±0.1 V若しくはURのいずれか低い電 個別規格の規定による。
                      圧,又は個別規格に規定する電圧
4.18.3 後処理
  電圧の印加を停止し,コンデンサ及び抵抗器を試験槽から取り出して,標準試験状態で22時間26時
間放置する。
4.18.4 最終測定及び要求性能
  コンデンサは,4.18.1によって絶縁抵抗を測定する。直列抵抗器を含む絶縁抵抗値は,4.18.1に規定する
値の0.1倍以上でなければならない。

――――― [JIS C 5101-22 pdf 30] ―――――

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