この規格ページの目次
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C 5101-24-1 : 2009 (IEC 60384-24-1 : 2006)
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準
(9) 重要な特性に関する参照データ
例 社団法人電子情報技術産業協会 (1) 個別規格番号 (2)
例 電子機器用固定コンデンサ (3) JIS C 5101-24-1(ブランク個別規格) (4)
第1部 : 品目別通則 個別規格の名称 (5)
JIS C 5101-1:1998 例 表面実装用固定タンタル
固体(導電性高分子)電解コンデンサ
構造の説明 (6)
外形図(表1参照) (7)
(第三角法) 評価水準EZ (8)
注記 (1)(8) : 個別規格の識別及びコンデンサの識別を参照
この個別規格で認証されたコンデンサの詳細な内容は,品質認証書(Qualification
approval certificate)に示されている。* (9)
注記 コンデンサの識別を参照
注* この記載は,IEC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合に適用する。
1 一般事項
1.0 適用範囲
この規格は,JIS C 5101-24を品種別通則とするブランク個別規格で,表面実装用固定タンタル固体(導
電性高分子)電解コンデンサの評価水準EZについて規定する。
注記1 この規格は,コンデンサの特性について規定するものであるが,その特性にかかわる規定は,
設計の目標値を示すものであり,この規格によって適合性評価を行うことは,意図していない。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60384-24-1:2006,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 24-1: Blank detail
specification−Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with conductive polymer
solid electrolyte−Assessment level EZ (IDT)
なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,一致しているこ
とを示す。
1.1 推奨する取付方法
推奨する取付方法は,JIS C 5101-24の1.4.2による。
1.2 寸法
外形寸法記号及び寸法を,表1に示す。
表1−外形寸法記号及び寸法
外形寸法記号 寸法 mm
L W H
注記1 外形寸法記号がない場合は,この表1を削除し,寸法を表2に記載して,それを表1とする。
注記2 寸法は,最大寸法又は公称寸法,及びその許容差で表す。
――――― [JIS C 5101-24-1 pdf 6] ―――――
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C 5101-24-1 : 2009 (IEC 60384-24-1 : 2006)
1.3 定格及び特性
定格静電容量範囲(表2による。)
定格静電容量許容差
定格電圧(表2による。)
カテゴリ電圧(表2による。)
耐候性カテゴリ
定格温度
静電容量の温度変動(表3による。)
損失角の正接(表3による。)
漏れ電流(表3による。)
等価直列抵抗(表3による。)
サージ電圧(表2による。)
表2−外形寸法に関連する静電容量及び電圧値
定格電圧
V
カテゴリ電圧
V
定格温度
サージ電圧
カテゴリ
V
上限温度
定格静電容量 外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号
表3−特性
外 UR CR 容量変化率 最大値
形 V % 損失角の正接 漏れ電流 等価直列抵抗
寸
法 tan δ μA m 圀
120 Hz 100 kHz
−55 定格 カテゴ −55 20 定格 カテゴ 20 定格 カテゴ 20 ℃
℃ 温度 リ上限 ℃ ℃ 温度 リ上限 ℃ 温度 リ上限
温度 温度 温度
1.4 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)には適用しない。
JIS C 5101-24:2009 電子機器用固定コンデンサ−第24部 : 品種別通則 : 表面実装用固定タンタル固
体(導電性高分子)電解コンデンサ
――――― [JIS C 5101-24-1 pdf 7] ―――――
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C 5101-24-1 : 2009 (IEC 60384-24-1 : 2006)
注記 対応国際規格 : IEC 60384-24:2006,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 24:
Sectional specification−Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with conductive
polymer solid electrolyte及びCorrigendum 1:2006 (IDT)
1.5 表示
コンデンサの本体及び包装の表示は,品種別通則JIS C 5101-24の1.6による。
注記 コンデンサ本体及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定することが望ましい。
1.6 発注情報
この規格に基づくコンデンサの発注情報は,明りょうな文字又は記号によって少なくとも,次の項目を
含む。
a) 定格静電容量
b) 定格静電容量許容差
c) 定格直流電圧
d) 個別規格に記載の番号及び版並びにコンデンサの種類
e) 包装形態
1.7 出荷対象ロットの成績証明書
成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。
注記 顧客からの成績証明書の要求の有無を,記載する。
1.8 追加情報(非検査目的)
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に,記載する。
1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は,表4による。
注記 追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に規定する。
表4−その他の特性
この表は,品種別通則JIS C 5101-24の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために使用する。
2 検査要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証の手順は,JIS C 5101-24の3.4による。
2.1.2 品質確認検査の試験計画(表5)は,抜取方法,周期,厳しさ及び要求性能を表す。検査ロットの
構成は,品種別通則JIS C 5101-24の3.5.1による。
――――― [JIS C 5101-24-1 pdf 8] ―――――
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C 5101-24-1 : 2009 (IEC 60384-24-1 : 2006)
表5−品質確認検査の試験計画
細分箇条番号 D b)又 試験条件a) 試料数及び 要求性能a)
及び試験項目a) はND 合格判定数b)
b)
IL n c
群A検査(ロットごと)
副群A0 ND 100 % c)
4.18 大電流サージ
(個別規格に規定が
ある場合)
4.5.1 漏れ電流 保護抵抗 : 1 000 Ω 表3による。
4.5.2 静電容量 周波数 : 120 Hz 規定する許容差以内
4.5.3 損失角の正接 周波数 : 120 Hz 表3による。
(tan δ)
4.5.4 等価直列抵抗 周波数 : 100 kHz 表3による。
(ESR)
(個別規格に規定が
ある場合)
d)
副群A1 ND S-3 0
4.4 外観検査 4.4.2による。
明りょうな表示及び個別規格
の規定による。
d)
副群A2 ND S-3 0
4.4 寸法(詳細)e) この規格の表1の規定による。
d)
群B検査(ロットごと) D S-3 0
4.7 はんだ付け性
4.7.1 試験 個別規格の試験方法による。
4.7.2 最終測定 外観検査 4.7.2による。
群C検査(定期的) p n c
副群 : C1 D 3 12 0
4.6 はんだ耐熱性 f)
4.6.1 初期測定 静電容量 比較用に使用する。
4.6.2 試験 試験方法 : ...
時間 : ...s
リフロープロファイル : ...
後処理時間 : 24 h±2 h
4.6.3 最終測定 外観検査 4.6.3による。
漏れ電流 表3による。
静電容量 個別規格の規定による。
損失角の正接(tan δ) 表3による。
等価直列抵抗(ESR) 個別規格の規定による。
(個別規格に規定がある場合)
副群 : C2 D 3 12 0
f)
4.9 耐プリント板
曲げ性
4.9.1 初期測定 静電容量 比較用に使用する。
4.9.3 最終測定 静電容量(プリント配線板を曲 個別規格の規定による。
げた状態)
――――― [JIS C 5101-24-1 pdf 9] ―――――
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C 5101-24-1 : 2009 (IEC 60384-24-1 : 2006)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D b)又 試験条件a) 試料数及び 要求性能a)
及び試験項目a) はND 合格判定数b)
b)
p n c
g)
副群 : C3
4.3 取付け D プリント配線板の材質 : ...
4.3.1 初期測定 静電容量(4.5.2での測定値を用
いてもよい)
4.3.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がない。
漏れ電流 表3による。
静電容量 | 一 簀
損失角の正接(tan δ) 表3による。
等価直列抵抗(ESR) 個別規格の規定による。
(個別規格に規定がある場合)
副群 : C3.1 6 18 0
f)
4.8 固着性 外観検査 外観に損傷がない。
4.10 温度急変
4.10.1 初期測定 静電容量(群3での測定値を用
いてもよい)
4.10.2 試験 TA : カテゴリ下限温度
TB : カテゴリ上限温度
回数 : 5回
試験期間t1=30分
後処理時間 : 1 h2 h
4.10.3 最終測定 漏れ電流 表3による。
静電容量 4.10.1の測定値に対して
|ΔC/C| ≦10 %
損失角の正接(tan δ) 表3による。
4.11 一連耐候性
4.11.1 初期測定 静電容量(4.10.3での測定値を
用いてもよい)
4.11.2 高温 温度 : カテゴリ上限温度
試験時間 : 16 h
4.11.3 温湿度サイク
ル(試験Db),最初の
サイクル
4.11.4 低温 温度 : カテゴリ下限温度
試験時間 : 2 h
4.11.5 温湿度サイク
ル(試験Db),残りの
サイクル
4.11.6 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,表示は明
りょうとする。
漏れ電流 表3による。
静電容量 4.11.1の測定値に対して
|ΔC/C| <20 %
損失角の正接(tan δ) 表3の規定値の1.2倍以下
――――― [JIS C 5101-24-1 pdf 10] ―――――
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JIS C 5101-24-1:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-24-1:2006(IDT)
JIS C 5101-24-1:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.50 : アルミニウム電解コンデンサ
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.40 : タンタル電解コンデンサ
JIS C 5101-24-1:2009の関連規格と引用規格一覧
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