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C 5101-24-1 : 2009 (IEC 60384-24-1 : 2006)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D b)又 試験条件a) 試料数及び 要求性能a)
及び試験項目a) はND 合格判定数b)
b)
p n c
副群 : C3.2 D 6 12 0
f)
4.12 高温高湿(定常) 後処理時間 : 1 h2 h
4.12.1 初期測定 静電容量(群3での測定値を用
いてもよい)
4.12.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,表示は明
りょうとする。
漏れ電流 初期規定値の5倍以下
静電容量 4.12.1の測定値に対して
−20 %≦ΔC/C≦40 %
損失角の正接(tan δ) 表3の規定値の1.2倍以下
副群 : C3.3 D 6 15 0
f)
4.13 高温及び低温特 コンデンサは,各段階温度で測
性 定する。
段階1 : 20 ℃
漏れ電流 表3による。
静電容量 比較用に使用する。
損失角の正接(tan δ) 表3による。
段階2 : カテゴリ下限温度
静電容量 表3による。
(適用する場合)
損失角の正接(tan δ) 表3による。
(適用する場合)
段階3 : 20 ℃
漏れ電流 表3による。
静電容量 段階1の測定値に対して
|ΔC/C| ≦5 %
損失角の正接(tan δ) 表3による。
段階4 : 定格温度
漏れ電流 表3による。
静電容量 表3による。
損失角の正接(tan δ) 表3による。
段階5 : カテゴリ上限温度
漏れ電流 表3による。
静電容量 表3による。
損失角の正接(tan δ) 表3による。
段階6 : 20 ℃
漏れ電流 段階3による。
静電容量 段階3による。
損失角の正接(tan δ) 段階3による。
――――― [JIS C 5101-24-1 pdf 11] ―――――
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C 5101-24-1 : 2009 (IEC 60384-24-1 : 2006)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D b)又 試験条件a) 試料数及び 要求性能a)
及び試験項目a) はND 合格判定数b)
b)
p n c
副群 : C3.3(続き) D 6 15 0
f)
4.14 サージ サイクル数 : 1 000回
温度 : ...℃
印加電圧 : 1.15 UR
保護抵抗 : 1 000 Ω
充電時間 : 30 s
無負荷時間 : 5 min 30 s
4.14.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がない。
漏れ電流 表3による。
静電容量 4.13の段階6の測定値に対し
て
|ΔC/C| <20 %
損失角の正接(tan δ) 表3の規定値の1.5倍以下
副群 : C3.4 D 3 24 0
f)
4.15 耐久性 試験時間 : 1 000 h
試験温度 : ...℃
印加電圧 : ...V
後処理時間 : 1 h2 h
4.15.1 初期測定 静電容量
4.15.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がなく,表示は明
りょうとする。
漏れ電流 表3の規定値の2倍以下
静電容量 4.15.1の測定値に対して
|ΔC/C| ≦20 %
損失角の正接(tan δ) 表3の規定値の1.5倍以下
等価直列抵抗(ESR) 表3の規定値の2倍以下
(個別規格に規定がある場合)
副群 : C3.5 D 6 12 0
f)
4.19 高温貯蔵 温度 : カテゴリ上限温度
時間 : 96 h±4 h
後処理時間 : 16 h以上
4.19.1 初期測定 静電容量(群3での測定値を用
いてもよい)
4.19.3 最終測定 外観検査 外観に損傷がない。
漏れ電流 表3の規定値の5倍以下
静電容量 4.19.1の測定値に対して
|ΔC/C| ≦10 %
損失角の正接(tan δ) 表3による。
――――― [JIS C 5101-24-1 pdf 12] ―――――
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C 5101-24-1 : 2009 (IEC 60384-24-1 : 2006)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
注a) 細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は,品種別通則JIS C 5101-24及びこの規格の箇条1による。
b) この表の記号は,次による。
p : 周期(月単位),n : 試料数,c : 合格判定数(許容不適合数),
D : 破壊試験,ND : 非破壊試験,IL : 検査水準
c) この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水
準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するため
に,抜取試料をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質
水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は累積した検査データによって算出する。
d) 検査水準及び合格品質水準は,JIS C 5101-24の3.5.4による。
e) 製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他
の仕組みを取り入れている場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
f) 不適合品が1個発生した場合,新しい試料によって副群のすべての試験を再度行い,新たな不適合品が発生
しないとき合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続してもよい。
g) 取付けで不適合となったコンデンサは,不適合数の計算には入れない。不適合のコンデンサは,予備のコン
デンサと交換する。
JIS C 5101-24-1:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-24-1:2006(IDT)
JIS C 5101-24-1:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.50 : アルミニウム電解コンデンサ
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.40 : タンタル電解コンデンサ
JIS C 5101-24-1:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称