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C 5101-4-1 : 2010 (IEC 60384-4-1 : 2007)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数及び合格 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 判定数b)
ND b) p n c
群C検査(定期的)
副群C1A D 6 9 0
(副群C1の試料の一
部)
4.2 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.4.1 初期測定 静電容量
4.4 端子強度 外観 外観に損傷がない。
方法 : ···
厳しさ : ···
4.5 はんだ耐熱性e) 予備乾燥なし。
方法 : ···
4.5.2 最終測定 d) 外観 外観に損傷がなく,表示は,明りょ
うとする。
静電容量 4.4.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦5 %
副群C1B D 6 18 0
(副群C1の残りの試
料)
4.7.1 初期測定 静電容量
4.7 温度急変 TA : カテゴリ下限温度
TB : カテゴリ上限温度
5サイクル
時間t1=30 min又は3 h
後処理時間 : 16 h以上
4.7.3 最終測定 外観 外観に損傷がなく,電解液の漏れが
ない。f)
4.8 振動 取付方法 : この規格の1.1
による。
周波数
範囲 : ··· Hz··· Hz
振幅 : ··· mm又は加速
度 : ··· m/s2(いずれか
小さい方)
総試験時間 : ··· h
4.8.2 最終測定 外観 外観に損傷がなく,電解液の漏れが
なく,また,表示は,明りょうと
する。f)
静電容量 4.7.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦5 %
4.9 バンプ又は衝撃 取付方法 : この規格の1.1
(4.10参照)g) による。
バンプ回数 : ···
ピーク加速度 : 400 m/s2
作用時間 : 6 ms
――――― [JIS C 5101-4-1 pdf 11] ―――――
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C 5101-4-1 : 2010 (IEC 60384-4-1 : 2007)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数及び合格 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 判定数b)
ND b) p n c
4.10 衝撃又はバンプ D 取付方法 : この規格の1.1
(4.9参照)g) による。
ピーク加速度 : ··· m/s2
作用時間 : ··· ms
4.9.2又は4.10.2 最終 外観 外観に損傷がなく,電解液の漏れが
測定 ない。f)
静電容量 個別規格に規定がない場合4.7.1の
測定値に対して
|ΔC/C|≦5 %
副群C1 D 6 27 0
(副群C1A及び副群
C1Bの試料の組合
せ)
4.11 一連耐候性
4.11.1 高温 温度 : カテゴリ上限温度
試験時間 : 16 h
4.11.2 温湿度サイク
ル(試験Db),最初
のサイクル
4.11.3 低温 温度 : カテゴリ下限温度
試験時間 : 2 h
4.11.4 減圧d) 気圧 : 8 kPa
4.11.4.3 要求性能 外観 絶縁破壊,フラッシオーバ又はケー
スの有害な変形がない。
4.11.5 温湿度サイク
ル(試験Db),残り
のサイクル
4.11.6 封止d) 方法 : ···
4.11.7 最終測定 外観 外観に損傷がなく,電解液の漏れが
ない。表示は,明りょうとする。
f)
漏れ電流 4.3.1による。
静電容量 適用する4.5.2,4.9.2又は4.10.2の
値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接 4.3.3の規定値の1.2倍以下
――――― [JIS C 5101-4-1 pdf 12] ―――――
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C 5101-4-1 : 2010 (IEC 60384-4-1 : 2007)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数及び合格 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 判定数b)
ND b) p n c
副群C2 D 6 9 0
4.12 高温高湿(定常)
4.12.1 初期測定 静電容量
4.12.2 最終測定 外観 外観に損傷がなく,電解液の漏れ
がない。f)
表示は,明りょうとする。
漏れ電流 4.3.1による。
静電容量 適用する4.12.1の値に対して
長寿命等級
|ΔC/C|≦10 %
一般等級
|ΔC/C|≦20 %
損失角の正接 4.3.3の規定値の1.2倍以下
インピーダンスd) 個別規格の規定値の1.2倍以下
外部絶縁の絶縁抵抗h) ≧100 MΩ
外部絶縁の耐電圧h) 絶縁破壊又はフラッシオーバがな
い。
副群C3 D 3 21 0
4.13 耐久性 試験時間: 個別規格の規定による。
長寿命等級 : ··· h
一般等級 : ··· h
温度 : カテゴリ上限温度
印加電圧 : ··· V
後処理時間 : 16 h以上
4.13.1 初期測定 静電容量
4.13.3 最終測定 外観 外観に損傷がなく,電解液の漏れ
がない。f)
表示は,明りょうとする。
漏れ電流 4.3.1による。
静電容量 適用する4.13.1の値に対して
長寿命等級
定格電圧 |ΔC/C|
V %
UR≦6.3 −30+15
6.3160 一般等級
定格電圧 |ΔC/C|
V %
UR≦6.3 −40+25
6.3160 損失角の正接 長寿命等級
4.3.3の規定値の1.5倍以下
一般等級
4.3.3の規定値の2倍以下又は0.4
のいずれか大きい方以下
――――― [JIS C 5101-4-1 pdf 13] ―――――
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C 5101-4-1 : 2010 (IEC 60384-4-1 : 2007)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数及び合格 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 判定数b)
ND b) p n c
4.13.3 最終測定 D インピーダンスd) 長寿命等級
(続き) 個別規格の規定値の2倍以下
一般等級
個別規格の規定値の4倍以下
外部絶縁の絶縁抵抗h) ≧100 MΩ
外部絶縁の耐電圧 h) 絶縁破壊又はフラッシオーバがな
い。
副群C4A D 12 6 0
4.14 サージ 回数 : 1 000回
温度 : ··· ℃
充電電圧 :
UR≦315 Vの場合
1.15UR又は1.15UC
315 V1.10UR又は1.10UC
充電時間 : 30 s
放置時間 : 5 min 30 s
4.14.1 初期測定 静電容量
4.14.3 最終測定 外観 外観に損傷がなく,電解液の漏れ
がない。f)
漏れ電流 0 4.3.1による。
静電容量 4.14.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦15 %
損失角の正接 4.3.3による。
副群C4B D 12 6 0
4.15 逆電圧e) 個別規格に規定がない場
合,逆電圧1 Vをカテ
ゴリ上限温度で,125 h
印加する。
引き続いて,正方向のカ
テゴリ電圧をカテゴリ
温度で,125 h印加す
る。
4.15.1 初期測定 静電容量
4.15.3 最終測定 漏れ電流 4.3.1による。
静電容量 4.15.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦··· %
損失角の正接 4.3.3による。
4.16 圧力弁 方法 : ··· 爆発又は発火の危険なく,圧力弁
(適用する場合)k) が作動する。
副群C5A D j) 6 12 0
4.17 高温保存i) 温度 : カテゴリ上限温度
期間 : 96 h±4 h
後処理時間 : 16 h以上
――――― [JIS C 5101-4-1 pdf 14] ―――――
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C 5101-4-1 : 2010 (IEC 60384-4-1 : 2007)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数及び合格 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 判定数b)
ND b) p n c
副群C5A(続き) D j) 6 12 0
4.17.1 初期測定 静電容量
4.17.3 最終測定 外観 外観に損傷がなく,電解液の漏れが
ない。f)
漏れ電流 4.3.1の規定値に対して2倍以下
静電容量 4.17.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接 4.3.3の規定値に対して1.2倍以下
4.22 過渡過電圧j)
4.22.1 初期測定 静電容量
4.22.2 最終測定 外観 個別規格の規定による。
静電容量 個別規格の規定による。
漏れ電流 個別規格の規定による。
損失角の正接 個別規格の規定による。
その他の特性 個別規格の規定による。
副群C5B l) ND 12 6 0
4.18 低温保存 時間 : 16 h又は熱平衡後
(適用する場合) 4 h(いずれか短い方)
温度 : −40 ℃
後処理 : 16 h
4.18.1 初期測定 静電容量
4.18.2 最終測定 外観 外観に損傷がなく,電解液の漏れが
ない。f)
表示は,明りょうとする。
漏れ電流 4.3.1による。
静電容量 4.18.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接 4.3.3による。
副群C6 D 6 15 0
4.19 高温及び低温 コンデンサを段階順に
特性 測定する。
段階1 : 20 ℃
静電容量d) 比較用に用いる。
損失角の正接 d) 比較用に用いる。
インピーダンス(段階
2と同じ周波数)
段階2 : カテゴリ下限温
度
インピーダンスd) 段階1に対する比
定格電圧 インピー
V ダンス比
UR≦6.3 ≦10
6.316 160 段階3 : カテゴリ上限温
度
――――― [JIS C 5101-4-1 pdf 15] ―――――
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JIS C 5101-4-1:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-4-1:2007(IDT)
JIS C 5101-4-1:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.50 : アルミニウム電解コンデンサ
JIS C 5101-4-1:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式