JIS C 5101-8-1:2008 電子機器用固定コンデンサ―第８－１部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ　種類１　評価水準ＥＺ | ページ 3

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                                                             C 5101-8-1 : 2008 (IEC 60384-8-1 : 2005)
             表6−ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画(続き)
    細分箇条番号及び    D            試験条件a)            試料数及び          要求性能a)
       試験項目a)      又は                               合格判定数b)
                       ND
                        b)
                                                         p     n     c
 副群C1                 D                                6     27   0 f)
 副群C1A及びC1Bの試
   料の合計試料数
 4.11一連耐候性
 4.11.2高温                  温度 : カテゴリ上限温度
                             時間 : 16 h
 4.11.3温湿度サイクル
       (12+12時間サ
       イクル),
       最初のサイクル
 4.11.4低温                  温度 : カテゴリ下限温度
                             時間 : 2 h
                             外観                                        異常がない。
 4.11.5減圧(個別規格        気圧 : 8 kPa
      に規定がある場
      合)
        中間測定
 4.11.5.3                    外観                                        絶縁破壊又はフラッシオ
                                                                         ーバがない。
 4.11.6温湿度サイクル        後処理 : 6 h24 h
      (12+12時間サイ
      クル),
      残りのサイクル
        最終測定
 4.11.6.3                    外観                                        異常がない。
                                                                         表示は,明りょうとする。
                             静電容量                                    4.11.6.3による。
                             誘電正接                                    4.11.6.3による。
                             絶縁抵抗                                    4.11.6.3による。
 副群C2                 D                                6     15   0 f)
 4.12 高温高湿(定常)
 4.12.1初期測定              静電容量
                             後処理 : 6 h24 h
 4.12.5最終測定              外観                                        異常がない。
                                                                         表示は,明りょうとする。
                             静電容量                                    4.12.5による。
                             誘電正接                                    4.12.5による。
                             絶縁抵抗                                    4.12.5による。

――――― [JIS C 5101-8-1 pdf 11] ―――――

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C 5101-8-1 : 2008 (IEC 60384-8-1 : 2005)
             表6−ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画(続き)
    細分箇条番号及び    D            試験条件a)            試料数及び          要求性能a)
       試験項目a)      又は                               合格判定数b)
                       ND
                        b)
                                                         p     n     c
 副群C3                 D                                3     15   0 f)
 4.13耐久性                  電圧 : ...V
                             時間 : ...h
 4.13.1初期測定              静電容量
                             後処理 : 6 h24 h
 4.13.4最終測定              外観                                        異常がない。
                                                                         表示は,明りょうとする。
                             静電容量                                    4.13.4による。
                             誘電正接                                    4.13.4による。
                             絶縁抵抗                                    4.13.4による。
 副群C4                 ND                               12    9    0 f)
 4.3 温度係数及び温度        前処理 : 初期乾燥 16 h24 h                   ΔC/Cは,4.3.3による。
   サイクルによる静電
   容量のずれ
 注a) 試験の細分箇条番号及び要求性能は,箇条1及びJIS C 5101-8による。
    b) この表の記号は,次による。
        p=検査周期(月単位),n=試料数,c=合格判定数,D=破壊試験,ND=非破壊試験,IL=検査水準
    c) この検査は,工程でロット内からすべての不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取
      水準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するた
      めに,抜取試料をすべて検査する。
        抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質
      水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。
    d) 試料数(n)は,JIS Z 9015-1に規定する付表1の検査水準(IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に従い,
      付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
    e) 製造業者が,管理限界を超えるコンデンサを取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他の仕
      組みを取り入れる場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。
    f) 不適合品が1個発生した場合,新しい試料によって副群のすべての試験を再度行い,新たな不適合品が発生
      しないとき合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続してもよい。
    g) この副群は,誘電体材料の調合ロットごとに実施した場合は,省略してもよい。