JIS C 5101-8:2018 電子機器用固定コンデンサ―第8部:品種別通則:固定磁器コンデンサ 種類1 | ページ 6

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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
表17−最終測定及び要求事項
測定項目 測定条件 温度係数(α) 要求事項
及び(サブクラス)
静電容量 4.3.1 +100≧α≧−750 (1A) 静電容量変化が2 %又は1 pFのいずれか大き
(1B) い値以下
+100≧α≧−750 (1F) 静電容量変化が3 %又は1 pFのいずれか大き
SL (1C) い値以下
−750≧α≧−1 500 (1F)
UM (1D)
−1500>α≧−5 600 (1F) 静電容量変化が5 %又は1 pFのいずれか大き
い値以下
誘電正接 4.3.2 全てのα及びサブクラス 4.3.2.3の規定値の2倍以下
絶縁抵抗 4.3.3 全てのα及びサブクラス 2 500 M は25 sのいずれか小さい値以上
注記 サブクラスの記号は,2.2.5による。

4.13 高温高湿(定常)

4.13.1 一般
高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1の4.22[高温高湿(定常)]によるほか,4.13.24.13.5による。
4.13.2 初期測定
静電容量を4.3.1に従って測定する。
4.13.3 試験条件
個別規格に規定がない場合は,電圧は印加しない。
試験の厳しさは,表18及び個別規格に規定する試験条件から選定することが望ましい。
試験期間は,2.1に従って選定することが望ましく,個別規格に規定する。
表18−高温高湿(定常)の試験条件
厳しさ 温度 相対湿度
℃ %
1 +85±2 85±3
2 +60±2 93±3
3 +40±2 93±3
電圧印加を規定している場合は,試料の半数は定格電圧を印加し,その他の半数は印加しない。
高温高湿(定常)試験後に槽から取り出し,15分間以内に耐電圧試験を4.3.4に従って行う。ただし,
この場合の電圧は,定格電圧とする。
4.13.4 後処理
コンデンサを,6時間24時間放置後に測定する。要求事項を満足しない場合は,コンデンサを6時間
24時間放置後に再測定してもよい。
4.13.5 最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく,表示は明瞭でなければならない。
コンデンサの電気的性能を測定し,表19に規定する要求事項を満足しなければならない。

――――― [JIS C 5101-8 pdf 26] ―――――

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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
表19−最終測定及び要求事項
測定項目 測定条件 温度係数(α) 要求事項
及び(サブクラス)
静電容量 4.3.1 +100≧α≧−750 (1A) 静電容量変化が2 %又は1 pFのいずれか大き
(1B) い値以下
+100≧α≧−750 (1F) 静電容量変化が3 %又は1 pFのいずれか大き
SL (1C) い値以下
−750≧α≧−1 500 (1F)
UM (1D)
−1500>α≧−5 600 (1F) 静電容量変化が5 %又は1 pFのいずれか大き
い値以下
誘電正接 4.3.2 全てのα及びサブクラス 4.3.2.3の規定値の2倍以下
絶縁抵抗 4.3.3 全てのα及びサブクラス 2 500 M は25 sのいずれか小さい値以上
注記 サブクラスの記号は,2.2.5による。

4.14 耐久性

4.14.1 一般
耐久性は,JIS C 5101-1の4.23(耐久性)によるほか,4.14.24.14.5による。
4.14.2 初期測定
静電容量を4.3.1に従って測定する。
4.14.3 試験条件
コンデンサは,表20に従って試験を行う。
表20−耐久性試験条件
品種 温度 定格電圧 試験電圧 試験時間
V V h
リード付き積層磁器カテゴリ上限温度 UR≦200 1.5×UR 1 000
コンデンサ 200 500 その他 カテゴリ上限温度 UR 1.5×UR 1 000
4.14.4 後処理
コンデンサは,標準状態に6時間24時間放置する。
4.14.5 最終測定及び要求事項
コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく,表示は明瞭でなければならない。
コンデンサの電気的性能を測定し,表21に規定する要求事項を満足しなければならない。

――――― [JIS C 5101-8 pdf 27] ―――――

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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
表21−最終測定及び要求事項
測定項目 測定条件 温度係数(α) 要求事項
及び(サブクラス)
静電容量 4.3.1 +100≧α≧−750 (1A) 静電容量変化が3 %又は1 pFの
(1B) いずれか大きい値以下
+100≧α≧−750 (1F) 静電容量変化が5 %又は1 pFの
SL (1C) いずれか大きい値以下
−750≧α≧−1 500 (1F)
UM (1D)
−1500>α≧−5 600 (1F) 静電容量変化が10 %又は1 pFの
いずれか大きい値以下
誘電正接 4.3.2 全てのα及びサブクラス 4.3.2.3の規定値の1.5倍以下
絶縁抵抗 4.3.3 全てのα及びサブクラス 4 000 M は40 sの
いずれか小さい値以上
注記 サブクラスの記号は2.2.5による。

4.15 部品の耐溶剤性

  部品の耐溶剤性を適用する場合は,JIS C 5101-1の4.31(部品の耐溶剤性)による。

4.16 表示の耐溶剤性

  表示の耐溶剤性を適用する場合は,JIS C 5101-1の4.32(表示の耐溶剤性)による。

――――― [JIS C 5101-8 pdf 28] ―――――

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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
附属書A
(規定)
温度係数及びサブクラスの温度に対する静電容量変化の限界値
温度係数及びサブクラスの温度に対する静電容量変化の限界値は,図A.1図A.15による。
注記 図A.1図A.15のグラフにおける破線は,表3で規定していない静電容量変化の限界値を表し
ている。
15 1B
1A
12.5
α : +100×10−6/K
10 1A
1B
7.5
5
)
−3
2.5
(10
0
C/C20
-2.5
-5
-7.5
-10
-12.5
-60 -40 -20 0 20 40 60 80 100 120 140
T(℃)
図A.1−温度係数(α)が+100×10−6/Kの場合

――――― [JIS C 5101-8 pdf 29] ―――――

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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
10
8
α : 0×10−6/K 1F
6
4
1B
)
2
−3
1A
(1
0 0
0
C/C2
1A
-2
1B
-4
-6
1F
-8
-60 -40 -20 0 20 40 60 80 100 120 140
T(℃)
図A.2−温度係数(α)が0×10−6/Kの場合
10
8
α : −33×10−6/K
6
4
)
2
−3
(10
0
/C20
1B
C
-2 1A
-4
1A
-6
1B
-8
-60 -40 -20 0 20 40 60 80 100 120 140
T(℃)
図A.3−温度係数(α)が−33×10−6/Kの場合

――――― [JIS C 5101-8 pdf 30] ―――――

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JIS C 5101-8:2018の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60384-8:2015(IDT)

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