JIS C 5101-8:2018 電子機器用固定コンデンサ―第８部：品種別通則：固定磁器コンデンサ　種類１ | ページ 5

                                                                                             17
                                                                C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
                                    表9−絶縁抵抗の要求事項
                          形状      測定箇所   CN≦10 000 pF CN>10 000 pF
                                                    Ri          Ri×CN
                         絶縁形     1a及び1c   ≧10 000 MΩ     ≧100 s
                        非絶縁形       1a
4.3.4  耐電圧
4.3.4.1  一般
  耐電圧は,JIS C 5101-1の4.6(耐電圧)によるほか,4.3.4.24.3.4.4による。
4.3.4.2  試験条件
  電源の内部抵抗とコンデンサの公称静電容量との積は,1秒以下とする。
  充電電流は,0.05 A以下とする。
4.3.4.3  試験電圧
  表10及び表11の試験電圧を,JIS C 5101-1の表3(測定箇所)に規定する測定箇所に印加し,品質認証
試験及び定期的品質確認検査では1分間,ロットごとの品質確認検査では1秒間の印加時間とする。
                               表10−単板形コンデンサの試験電圧
                             定格電圧                     試験電圧
                                V                            V
                              UR≦500                       2.5 UR
                              UR>500                    1.5 UR+500
                   注記 定格電圧が500 Vを超える場合の試験C(端子外装間)の試験
                        電圧は,1.5 UR+500 V又は個別規格の要求事項に従っている。
                          表11−リード付き積層形コンデンサの試験電圧
                             定格電圧                     試験電圧
                                V                            V
                                UR≦100                     2.5 UR
                           100                           200                           5004.3.4.4  要求事項
  試験中に絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。

4.4 静電容量の温度係数(α)及び温度サイクルによる静電容量のずれ

4.4.1  一般
  静電容量の温度係数及び温度サイクルによる静電容量のずれは,JIS C 5101-1の4.24.3.2(静電容量の温
度係数及び温度サイクルによる静電容量のずれ)によるほか,4.4.24.4.4による。
4.4.2  初期乾燥
  コンデンサは,JIS C 5101-1の4.3(乾燥)に従って16時間24時間の強制乾燥を行う。
4.4.3  測定条件
  測定条件は,JIS C 5101-1の4.24.1.2(試験手順)及び4.24.1.3(測定方法)による。

――――― [JIS C 5101-8 pdf 21] ―――――

18
C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
4.4.4  要求事項
  カテゴリ上限温度及びカテゴリ下限温度での静電容量の変化は,表3に規定する要求事項を満足しなけ
ればならない(その他の温度は,個別規格に規定する。)。
  温度サイクルによる静電容量のずれは,表12に規定する要求事項を満足しなければならない。
                            表12−温度サイクルによる静電容量のずれ
                       温度係数(α)                          要求事項
                          10−6/K
                      +100≧α>−150          0.3 %又は0.05 pFのいずれか大きい値以下
           −150≧α>−1 500,SL(1C)及びUM(1D) 1 %又は0.05 pFのいずれか大きい値以下
                    −1 500≧α≧−5 600        2 %又は0.05 pFのいずれか大きい値以下
    注記 表12の下線の点線を施している不等号の表記は,対応国際規格の明らかな誤記を訂正してい
          る。

4.5 端子強度

  端子強度は,JIS C 5101-1の4.13(端子強度)による。

4.6 はんだ耐熱性

4.6.1  一般
  はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1の4.14(はんだ耐熱性)によるほか,4.6.24.6.4による。
4.6.2  初期測定
  静電容量を4.3.1に従って測定する。
4.6.3  試験条件
  初期乾燥は,行わない。
4.6.4  最終検査,測定及び要求事項
  コンデンサの外観検査を行い,外観は異常がなく,表示は明瞭とする。
  静電容量を4.3.1に従って測定し,その変化は表13に規定する要求事項を満足する。
                                        表13−要求事項
                       温度係数(α)                          要求事項
                          10−6/K
                      +100≧α≧−750          0.5 %又は0.5 pFのいずれか大きい値以下
           −750>α≧−1 500,SL(1C)及びUM(1D) 1 %又は1 pFのいずれか大きい値以下
                        α<−1 500             3 %又は1 pFのいずれか大きい値以下

4.7 はんだ付け性

4.7.1  一般
  はんだ付け性は,JIS C 5101-1の4.15(はんだ付け性)によるほか,4.7.2及び4.7.3による。
4.7.2  試験条件
  初期乾燥は,行わない。はんだ小球法を適用する場合は,個別規格に規定する。はんだ槽法及びはんだ
小球法のいずれも適用できない場合は,はんだこて法(はんだこて寸法 A)で試験する。
4.7.3  最終測定及び要求事項
  目視検査で,はんだが良好に付着していることを端子部がはんだにぬれていることによって確認する。
ただし,平衡法の場合は,個別規格の規定による。

――――― [JIS C 5101-8 pdf 22] ―――――

                                                                                             19
                                                                C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)

4.8 温度急変

4.8.1  一般
  温度急変は,適用する場合,JIS C 5101-1の4.16(温度急変)によるほか,4.8.24.8.4による。
4.8.2  初期測定
  静電容量を4.3.1に従って測定する。
4.8.3  試験条件
  サイクル数は,5サイクルとする。
  カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度に放置する時間は,30分間とする。
4.8.4  後処理
  コンデンサは,24時間±2時間放置する。

4.9 振動

4.9.1  一般
  振動は,JIS C 5101-1の4.17(振動)によるほか,4.9.2及び4.9.3による。
4.9.2  試験条件
  試験Fcの厳しさの度合は,次による。
  振幅0.75 mm又は加速度100 m/s2のいずれか緩い方で,周波数は,次のうち一つとする。
                        10 Hz55 Hz,10 Hz500 Hz,又は10 Hz2 000 Hz
  試験時間は,6時間とする。
  個別規格に,周波数範囲及び取付方法を規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)
のコンデンサで,リード線端子だけで取り付ける場合,本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.9.3  最終測定及び要求事項
  コンデンサの外観を検査する。外観に異常があってはならない。

4.10 バンプ(繰返しのある衝撃)

4.10.1 一般
  バンプは,JIS C 5101-1の4.18(バンプ)によるほか,4.10.24.10.4による。
  個別規格に,バンプ(繰返しのある衝撃)又は繰返しのない衝撃のいずれかで試験するかを規定する。
    注記 ここで引用しているJIS C 5101-1の2010年版では,バンプの試験手順で“JIS C 60068-2-29(環
          境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法)に規定する試験Ebを行う。”とあるが,JIS C
          60068-2-29は廃止され,JIS C 60068-2-27[環境試験方法−電気・電子−第2-27部 : 衝撃試験
          方法(試験記号 : Ea)]へ移行されている。
4.10.2 初期測定
  適用しない。
4.10.3 試験条件
  個別規格には,次の推奨する厳しさのいずれかを規定する。
        バンプ合計回数 : 1 000又は4 000
        ピーク加速度 :    400 m/s2       100 m/s2
                                  又は
        パルス作用時間 :    6 ms          16 ms
  個別規格には,取付方法も規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)のコンデン
サで,リード線端子だけで取り付ける場合,本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。

――――― [JIS C 5101-8 pdf 23] ―――――

20
C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
4.10.4 最終測定及び要求事項
  コンデンサは,外観及び電気的性能を測定し,4.11.4に規定する要求事項を満足しなければならない。

4.11 衝撃(繰返しのない衝撃)

4.11.1 一般
  衝撃は,JIS C 5101-1の4.19(衝撃)によるほか,4.11.24.11.4による。
  個別規格に,バンプ(繰返しのある衝撃)又は繰返しのない衝撃のいずれかで試験するかを規定する。
4.11.2 初期測定
  適用しない。
4.11.3 試験条件
  試験条件は,表14に規定する推奨する厳しさのいずれかを,個別規格に規定する。
  パルス波形は,正弦半波とする。
                          表14−繰返しのない衝撃試験の推奨する厳しさ
                                   ピーク加速度    作用時間
                                       m/s2           ms
                                        300           18
                                        500           11
                                      1000             6
  個別規格には,取付方法も規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)のコンデン
サで,リード線端子だけで取り付ける場合,本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.11.4 最終測定及び要求事項
  コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく,表示は明瞭でなければならない。
  静電容量を4.3.1に従って測定し,その変化は,表15に規定する要求事項を満足しなければならない。
                                        表15−要求事項
                       温度係数(α)                          要求事項
                          10−6/K
                      +100≧α≧−750          0.5 %又は0.5 pFのいずれか大きい値以下
           −750>α≧−1 500,SL(1C)及びUM(1D) 1 %又は1 pFのいずれか大きい値以下
                        α<−1 500             3 %又は1 pFのいずれか大きい値以下

4.12 一連耐候性

4.12.1 一般
  一連耐候性は,JIS C 5101-1の4.21(一連耐候性)によるほか,4.12.24.12.6による。
4.12.2 初期測定
  初期測定は行わないで,4.6.4,4.10.4又は4.11.4の測定値を初期値とする。
4.12.3 高温
  高温は,JIS C 5101-1の4.21.2(高温)による。
4.12.4 温湿度サイクル,試験Db,最初のサイクル
  温湿度サイクルの最初のサイクルは,JIS C 5101-1の4.21.3[温湿度サイクル(試験Db),最初のサイク
ル]による。

――――― [JIS C 5101-8 pdf 24] ―――――

                                                                                             21
                                                                C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
4.12.5 低温
  低温は,JIS C 5101-1の4.21.4(低温)によるほか,次による。
  コンデンサの外観を検査する。外観に異常があってはならない。
4.12.6 減圧
4.12.6.1 一般
  減圧は,JIS C 5101-1の4.21.5(減圧)によるほか,4.12.6.24.12.6.4による。
4.12.6.2 試験条件
  個別規格に規定している場合に適用し,温度15 ℃35 ℃,気圧8 kPaで行う。試験時間は1時間とす
る。
4.12.6.3 試験手順
  規定の気圧に到達した後,直ちに定格電圧(UR)を1分2分間印加する。
4.12.6.4 最終測定及び要求事項
  コンデンサの外観を検査する。外観に異常があってはならない。
4.12.7 温湿度サイクル,試験Db,残りのサイクル
4.12.7.1 一般
  温湿度サイクルの残りのサイクルは,JIS C 5101-1の4.21.6[温湿度サイクル(試験Db),残りのサイク
ル]によるほか,4.12.7.24.12.7.4による。
4.12.7.2 試験条件
  試験条件を,表16に示す。
  電圧は,印加しない。
                            表16−温湿度サイクル,残りのサイクル数
                              耐候性カテゴリ    24時間のサイクル数
                                 −/−/56               5
                                 −/−/21               1
                                 −/−/10               1
                                 −/−/04               0
4.12.7.3 後処理
  コンデンサを,6時間24時間放置後に測定する。
4.12.7.4 最終測定及び要求事項
  コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく,表示は明瞭でなければならない。
  コンデンサの電気的性能を測定し,表17に規定する要求事項を満足しなければならない。

――――― [JIS C 5101-8 pdf 25] ―――――

次のページ PDF 26