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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
表5−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験項目a) ND b) 及び合格判
定数(c)c)
群1B D 表4による。
4.7 はんだ付け性
初期乾燥は,行わない。 端子にはんだが良好に付着し
方法は,個別規格の規定による。 ているか,又は,平衡法の場
合,個別規格による。
4.16 表示の耐溶剤性
溶剤 : ··· 表示は,明瞭とする。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ···
方法1
ラビングの材料 : 脱脂綿
後処理 : ···
4.8.2 初期測定 静電容量
4.8 温度急変
TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
5サイクル
時間t1=30 min
後処理 : 24 h±2 h
外観 異常がない。
4.9 振動
取付方法は,個別規格の規定に
よる。
周波数範囲 : ··· Hz··· Hz
振幅 : 0.75 mm又は加速度100
m/s2(いずれか緩い方)
総試験時間 : 6 h
4.9.3 中間測定 外観 異常がない。
4.10 バンプ(又は4.11 取付方法は,個別規格の規定に
衝撃) よる。
バンプ回数 : ···
ピーク加速度 : ··· m/s2
作用時間 : ··· ms
4.11 衝撃(又は4.10バ 取付方法は,個別規格の規定に
ンプ) よる。
ピーク加速度 : ··· m/s2
作用時間 : ··· ms
4.10.4又は4.11.4 外観 異常がない。
最終測定 表示は,明瞭とする。
静電容量 ΔC/Cは,4.11.4による。
――――― [JIS C 5101-8 pdf 16] ―――――
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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
表5−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験項目a) ND b) 及び合格判
定数(c)c)
群1 D 表4による。
4.12 一連耐候性
4.12.3 高温 温度 : カテゴリ上限温度
時間 : 16 h
4.12.4 温湿度サイクル,
試験Db,最初のサイクル
4.12.5 低温 温度 : カテゴリ下限温度
時間 : 2 h
外観 異常がない。
4.12.6 減圧(個別規格に 気圧 : 8 kPa
規定がある場合)
4.12.6.4 中間測定 外観 絶縁破壊又はフラッシオーバ
がない。
4.12.7 温湿度サイクル, 後処理 : 6 h24 h
試験Db,残りのサイクル
4.12.7.4 最終測定 外観 異常がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 ΔC/Cは,4.12.7.4による。
誘電正接 4.12.7.4による。
絶縁抵抗 4.12.7.4による。
群2 D 表4による。
4.13 高温高湿(定常)
4.13.2 初期測定 静電容量
後処理 : 6 h24 h
4.13.5 最終測定 外観 異常がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 ΔC/Cは,4.13.5による。
誘電正接 4.13.5による。
絶縁抵抗 4.13.5による。
群3 D 表4による。
4.14 耐久性
試験時間 : ··· h
試験電圧 : ··· V
4.14.2 初期測定 静電容量
後処理 : 6 h24 h
4.14.5 最終測定 外観 異常がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 ΔC/Cは,4.14.5による。
誘電正接 4.14.5による。
絶縁抵抗 4.14.5による。
群4 ND 表4による。
4.4 温度係数及び温度 条件 : 初期乾燥16 h24 h ΔC/Cは,4.4.4による。
サイクルによる静電容量
のずれ
注a) 試験の細分箇条番号及び要求事項は,箇条4による。
b) この表でDは破壊試験,NDは非破壊試験を表す。
c) 合格判定の許容不適合品の数を示し,この数を超えない場合を合格とする。
――――― [JIS C 5101-8 pdf 17] ―――――
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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
3.5 品質確認検査
3.5.1 検査ロットの構成
3.5.1.1 群A及び群B検査
これらの検査は,ロットごとに行う。
製造業者は,次の条件の下にコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
a) 検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2参照)。
b) 群Aの検査試料は,検査ロットを含む定格値(定格電圧及び公称静電容量)及び外形寸法の代表値で
構成する。
− 定格値(定格電圧及び公称静電容量)及び外形寸法の数
− 1組合せ当たり5個以上
副群B2の検査試料は,ロットの中の全温度係数のコンデンサを含む。
c) EC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,1組合せ当たりの抜取数が4個以下のとき,製造業者
は,認証機関(CB)の承認が必要とする。
3.5.1.2 群C検査
この検査は,定期的に行う。
試料は,定期検査周期期間内に製造されたものを代表するもので,かつ,公称静電容量の大,中及び小
に分類する。引き続いて,次の期間内の試料は,認証範囲を包含するために,別の定格電圧と公称静電容
量との組合せを抜取検査する。
3.5.2 試験計画
品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は,ブランク個別規格
の箇条2の表6による。
3.5.3 長期保管後の出荷
JIS C 5101-1のQ.10(長期保管後の出荷)に従い,はんだ付け性及び静電容量について群A及び群Bの
再検査を行う。
3.5.4 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,表6及び表7から選定するのが望ましい。
――――― [JIS C 5101-8 pdf 18] ―――――
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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
表6−ロットごとの品質確認検査
検査副群c) EZ
IL n c
A0 100 % a)
b)
A1 S-4 0
b)
A2 S-3 0
b)
B1 S-3 0
b)
B2 S-2 0
IL=検査水準
n=試料数
c=合格判定数
注a) この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査で
ある。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するために,抜取試料を全
て検査する。抜取水準は,製造業者が選定する。その場合JIS C 5005-2の附属書A[信頼水準60 %
における100万個当たりの不適合品率(ppm)で示す統計的工程品質限界(SVQL)の推定]によ
ることが望ましい。抜取試料中に1個以上の不適合を発見した場合には,このロットは不合格とす
るが,品質水準を算出するために,不適合品の数を全て数える。ppmで示す出荷品質水準は,JIS C
5005-2の6.2(SVQLの算出)に規定する方法によって,累積した検査データから算出する。
b) 試料数(n)は,JIS C 5005-2の4.3.2(なみ検査による抜取検査方式)によって決定する。
c) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2による。
表7−定期的品質確認検査
検査副群a) EZ
p n c
C1A 6 9 0
C1B 6 18 0
C1 6 27 0
C2 6 15 0
C3 3 15 0
C4 12 9 0
p=検査周期(月)
n=試料数
c=合格判定数
注a) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2による。
4 試験及び測定手順
4.1 一般
この箇条は,JIS C 5101-1の箇条4(試験及び測定手順)に規定する事項を補足する。
4.2 外観及び寸法
外観及び寸法は,JIS C 5101-1の4.4(外観検査及び寸法検査)による。
4.3 電気的試験
4.3.1 静電容量
4.3.1.1 一般
静電容量は,JIS C 5101-1の4.7(静電容量)によるほか,4.3.1.2及び4.3.1.3による。
4.3.1.2 測定条件
測定条件は,次による。
――――― [JIS C 5101-8 pdf 19] ―――――
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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
− 測定電圧 : 個別規格に規定がない場合は,5 V(実効値)以下
− 測定周波数 : CN≦1 000 pFの場合は,1 MHz±20 %又は100 kHz±20 %
(判定に疑義が生じた場合 : 1 MHz)
CN>1 000 pFの場合は,1 kHz±20 %又は100 kHz±20 %
(判定に疑義が生じた場合 : 1 kHz)
4.3.1.3 要求事項
静電容量の値は,公称静電容量値に対して,規定の許容差内とする。
4.3.2 誘電正接(tan
4.3.2.1 一般
誘電正接は,JIS C 5101-1の4.8[誘電正接(損失角の正接)及び等価直列抵抗(ESR)]によるほか,
4.3.2.2及び4.3.2.3による。
4.3.2.2 測定条件
測定条件は,4.3.1による。
4.3.2.3 要求事項
誘電正接は,表8に規定する値以下とする。
表8−誘電正接
公称静電 誘電正接(tan δ)×10−4
容量 +100≧α>−750 −1 500≧α>−3 300 −3 300≧α>−5 600
−750≧α>−1 500 α≦−5 600
pF 及びSL(1 C) 及びUM(1 D)
CN≧50 15 20 30 40 50
5≦CN<50 150 150 150 150 150
5.1 7 2 7 3 7 4 7 5 7
CN CN CN CN CN
CN<5 使用者から要求があった場合は,規定値を個別規格に規定する。
4.3.3 絶縁抵抗(Ri)
4.3.3.1 一般
絶縁抵抗は,JIS C 5101-1の4.5(絶縁抵抗)によるほか,4.3.3.2及び4.3.3.3による。
4.3.3.2 測定条件
測定条件は,JIS C 5101-1の4.5.2(測定条件)によるほか,次による。
定格電圧が100 V未満の場合の測定電圧は,定格電圧以下とする。判定に疑義が生じた場合の測定電圧
は,定格電圧とする。
電圧は,規定の電圧を直接印加し,品質認証試験及び定期的品質確認検査(群C)では,60秒±5秒間
後の値を測定する。また,ロットごとの品質確認検査(群A)では,絶縁抵抗の値が規定値を超えた時点
で判定し,時間を短縮してもよい。
電源の内部抵抗とコンデンサの公称静電容量との積は,個別規格に規定がない場合,1秒以下とする。
充電電流は,0.05 A以下とする。
絶縁抵抗(Ri)は,1分間後に測定する。
4.3.3.3 要求事項
絶縁抵抗(Ri)は,表9に規定する要求事項を満足しなければならない。
――――― [JIS C 5101-8 pdf 20] ―――――
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JIS C 5101-8:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-8:2015(IDT)
JIS C 5101-8:2018の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.20 : 磁器コンデンサ及びマイカコンデンサ
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