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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
表3−静電容量変化許容値
温度20 ℃と表中の温度との間の静電容量変化許容値 (×10−3)
カテゴリ下限温度 カテゴリ上限温度
α 許容差 −55 ℃ −40 ℃ −25 ℃ −10 ℃ +70 ℃ +85 ℃ +100 ℃ +125 ℃
10−6/K 10−6/K
+100 ±15 (F) −8.63/−5.08−6.90/−4.06−5.18/−3.05−3.45/−2.03 4.25/5.75 5.53/7.48 6.80/9.20 8.93/12.1
±30 (G) −9.75/−3.71−7.80/−2.96−5.85/−2.22−3.90/−1.48 3.50/6.50 4.55/8.45 5.60/10.4 7.35/13.7
0 ±15 (F) −1.13/4.07 −0.900/3.26 −0.675/2.44 −0.450/1.63−0.750/0.750−0.975/0.975 −1.20/1.20 −1.58/1.58
±30 (G) −2.25/5.45 −1.80/4.36 −1.35/3.27 −0.900/2.18 −1.50/1.50 −1.95/1.95 −2.40/2.40 −3.15/3.15
±60 (H) −4.50/8.19 −3.60/6.55 −2.70/4.91 −1.80/3.28 −3.00/3.00 −3.90/3.90 −4.80/4.80 −6.30/6.30
−33 ±15 (F) 1.35/7.09 1.08/5.67 0.810/4.26 0.540/2.84 −2.40/0.900 −3.12/−1.17−3.84/−1.44−5.04/−1.89
±30 (G) 0.225/8.46 0.180/6.77 0.135/5.08 0.090/3.39 −5.04/0.240
−3.15/0.150 −4.10/−0.195 −6.62/−0.315
−75 ±15 (F) 4.50/10.9 3.60/8.75 2.70/6.56 1.80/4.37 −4.50/3.00 −5.85/−3.90−7.20/−4.80−9.45/−6.30
±30 (G) 3.38/12.3 2.70/9.85 2.03/7.38 1.35/4.92 −5.25/2.25 −6.83/−2.93−8.40/−3.60−11.0/−4.73
−150 ±15 (F) 10.1/17.8 8.10/14.2 6.08/10.7 4.05/7.12 −8.25/6.75 −10.7/−8.78−13.2/−10.8−17.3/−14.2
±30 (G) 9.00/19.2 7.20/15.3 5.40/11.5 3.60/7.67 −9.00/6.00 −11.7/−7.80−14.4/−9.60−18.9/−12.6
±60 (H) 6.75/21.9 5.40/17.5 4.05/13.1 2.70/8.77 −10.5/4.50 −13.7/−5.85−16.8/−7.20−22.1/−9.45
−220 ±15 (F) 15.4/24.2 12.3/19.4 9.23/14.5 6.15/9.68 −11.8/10.3 −15.3/−13.3−18.8/−16.4−24.7/−21.5
±30 (G) 14.3/25.6 11.4/20.5 8.55/15.3 5.70/10.2 −12.5/9.50 −16.3/−12.4−20.0/−15.2−26.3/−20.0
±60 (H) 12.0/28.3 9.60/22.7 7.20/17.0 4.80/11.3 −14.0/8.00 −18.2/−10.4−22.4/−12.8−29.4/−16.8
−330 ±30 (G) 22.5/35.6 18.0/28.5 13.5/21.4 9.00/14.3 −18.0/−15.0−23.4/−19.5−28.8/−24.0−37.8/−31.5
±60 (H) 20.3/38.4 16.2/30.7 12.2/23.0 8.10/15.4 −19.5/−13.5−25.4/−17.6−31.2/−21.6−41.0/−28.4
C5
−470 ±30 (G) 33.0/48.5 26.4/38.8 19.8/29.1 13.2/19.4 −25.0/−22.0−32.5/−28.6−40.0/−35.2−52.5/−46.2
1
±60 (H) 30.8/51.2 24.6/41.0 18.5/30.7 12.3/20.5 −26.5/−20.5−34.5/−26.7−42.4/−32.8−55.7/−43.1
01-
−750 ±60 (H) 51.8/76.8 41.4/61.5 31.1/46.1 20.7/30.7 −40.5/−34.5−52.7/−44.9−64.8/−55.2−85.1/−72.5
8 : 2
±120 (J) 47.3/82.3 37.8/65.8 28.4/49.4 18.9/32.9 −43.5/−31.5−56.6/−41.0−69.6/−50.4−91.4/−66.2
01
±250 (K) 37.5/94.2 30.0/75.4 22.5/56.5 15.0/37.7 −50.0/−25.0−65.0/−32.5−80.0/−40.0−105/−52.5
8(
−1000 ±60 (H) 70.5/99.7 56.4/79.8 42.3/59.8 28.2/39.9 −53.0/−47.0−68.9/−61.1−84.8/−75.2−111/−98.7
I
EC6
±120 (J) 66.0/105 52.8/84.1 39.6/63.1 26.4/42.1 −56.0/−44.0−72.8/−57.2−89.6/−70.4−118/−92.4
0
±250 (K) 56.3/117 45.0/93.7 33.8/70.2 22.5/46.8 −62.5/−37.5−81.3/−48.8−100/−60.0 −131/−78.8
384
−1500 ±250 (K) 93.8/163 75.0/130 56.3/97.7 37.5/65.1 −87.5/−62.5−114/−81.3 −140/−100 −184/−131
-8 : 2
−2200 ±500 (L) 128/250 102/200 76.5/150 51.0/99.9 −135/−85.0 −176/−111 −216/−136 −284/−179
0
−3300 ±500 (L) 210/350 168/280 126/210 84.0/140 −190/−140 −247/−182 −304/−224 −399/−294
15
2
)
――――― [JIS C 5101-8 pdf 11] ―――――
8
60384-8 : 2015)
C 5101-8 : 2018 (IEC
C5
2
表3−静電容量変化許容値(続き)
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温度20 ℃と表中の温度との間の静電容量変化許容値(×10−3)
1-
8
カテゴリ下限温度 カテゴリ上限温度
: 2
α 許容差 −55 ℃ −40 ℃ −25 ℃ −10 ℃ +70 ℃ +85 ℃ +100 ℃ +125 ℃
01
10−6/K 10−6/K
8( I
−4700 ±1000 (M) 278/524 222/419 167/315 111/210 −285/−185 −371/−241 −456/−296 −599/−389
EC6
−5600 ±1000 (M) 345/607 276/485 207/364 138/243 −330/−230 −429/−299 −528/−368 −693/−483
03
注記1 下線は,推奨する温度係数(α)を示す。
84
注記2 温度+20 ℃カテゴリ上限温度の温度範囲における温度係数限界値は,公称温度係数及びその許容差によって算出している[注記3のa)参照]。
-8 : 2
温度+20 ℃−55 ℃の温度範囲における温度係数限界値は,注記3のb)及びc)によって算出している。
0
注記3 カテゴリ下限温度における静電容量変化の許容限界値は,次の式を用いて算出している。
15)
a) カテゴリ上限温度における静電容量の変化許容範囲 ΔC/C(10−3)=(公称温度係数±温度係数許容差)×(カテゴリ上限温度−20)/1 000
b) カテゴリ下限温度における静電容量の変化許容下限値 ΔC/C(10−3)=(公称温度係数+温度係数許容差)×(カテゴリ下限温度−20)/1 000
c) カテゴリ下限温度における静電容量の変化許容上限値
ΔC/C(10−3)=[(−36)−(1.22×公称温度係数許容差)+(0.22×公称温度係数)+公称温度係数]×(カテゴリ下限温度−20)/1 000
ここに,“温度係数許容差”は,絶対値である。
注記4 表中の表記A(数値)/B(数値)のAは下限値を示し,Bは上限値を示している。
――――― [JIS C 5101-8 pdf 12] ―――――
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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
3 品質評価手順
3.1 製造の初期工程
単板形のコンデンサの製造の初期工程は,誘電体表面への電極形成工程とする。また,積層形のコンデ
ンサでは,誘電体に内部電極を塗布したものの最初の焼成工程とする。
3.2 構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,類似の工程及び類似の材料で
製造したコンデンサとする。
3.3 出荷ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で購入者から要求があるときは,JIS C 5101-1のQ.9(出荷ロット成績証明
書)によって出荷ロットの成績証明書を提出する。耐久性試験後の要求する性能値は,静電容量の変化,
誘電正接(tan 及び絶縁抵抗とする。
3.4 品質認証
3.4.1 一般
品質認証の手順は,JIS C 5101-1のQ.5(品質認証手順)による。
ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は,3.5による。定数抜取手順は,3.4.2
及び3.4.3による。
3.4.2 定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は,JIS C 5101-1のQ.5.3(品質認証用試験手順)のb)の規定による。試料は,認証を得よ
うとする全てのコンデンサの範囲を代表し,個別規格に規定する全ての範囲,又はその一部でもよい。
温度係数の各々に対する試料は,定格電圧の最低値及び最高値と,それぞれの最小公称静電容量及び最
大公称静電容量との4組合せ(定格電圧と公称静電容量との組合せ)で構成する。定格電圧が5種類以上
の場合は,中間の定格電圧のものも追加試験する。このように一つの認証範囲の試験には,4組合せ又は6
組合せのものを試料とする。認証範囲からの試料数が3組合せ以下の場合の試料数は,4組合せと同じと
する。温度係数が二つ以上のものについて,同時に認証試験を行う場合の試料数は,3.4.3による。
予備試料は,次による。
予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに2個(6組合
せの場合)又は3個(4組合せの場合)とする。
群0に規定する試料数は,全ての群の試験を適用する場合の試料数であり,全ての試験を適用しない場
合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に,群を追加する場合の群0の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験における各群又は副群で試験する試料試料数は,合格判定数とともに表4に示す。
3.4.3 試験
表4及び表5に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,
各群の試験は,記載の順に従って行う。
全ての試料は,群0の試験を行った後,その他の群に分割する。
群0で発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが,一つの群内で全て又は一部の項目で不適合となったとき,“1個の不適合品”と数
える。
温度係数が2種類以上のものを同時に認証試験を行う場合は,群1及び群2の試験は,その温度係数の
絶対値の最も小さいもので試験を行い,群3及び群4は,全ての温度係数のものを試験する。
――――― [JIS C 5101-8 pdf 13] ―――――
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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
各々の温度係数の認証の決定は,表4の合格判定数に従う。合計の判定数の計算は,温度係数の最小の
ものによる群1及び群2の合計不適合数と個々の温度係数のものによる群3及び群4の合計不適合数との
総計が,合格判定数以下か,又は合格判定数を超えるかどうかで判定する。
不適合品数がゼロの場合,品質認証は合格とする。
表4及び表5は,定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表4は,各試験群に対するサン
プリング及び合格判定数の詳細を規定している。一方,表5は,箇条4に規定された試験の詳細と合わせ
て,試験条件及び要求事項の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する試験方法,試験条件などを
規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求事項は,個別規格に規定する品質確認検
査と同じとする。
表4−品質認証試験のサンプリング計画及び合格判定数 評価水準EZ
群 試験項目 この規格の 試料数 合格判定数d)
細分箇条番号 n b) c
0 外観 4.2 10 0
寸法 4.2
静電容量 4.3.1
誘電正接 4.3.2
耐電圧 4.3.4
絶縁抵抗 4.3.3
予備試料 − 8
1A 端子強度 4.5 12 0
はんだ耐熱性 4.6
部品の耐溶剤性c) 4.15
1B はんだ付け性 4.7 24 0
表示の耐溶剤性c) 4.16
温度急変a) 4.8
振動 4.9
バンプ又は衝撃a) 4.10又は4.11
1 一連耐候性 4.12 36 0
2 高温高湿(定常) 4.13 24 0
3 耐久性 4.14 36 0
4 温度係数及び温度サイクルに 4.4 12 0
よる静電容量のずれ
注a) 個別規格の規定による。
b) 定格電圧と公称静電容量との組合せで3.4.2による。
c) 個別規格に規定がある場合に適用する。
d) 合否判定の許容不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。
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C 5101-8 : 2018 (IEC 60384-8 : 2015)
表5−品質認証の試験計画
細分箇条番号及び D又は 試験条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験項目a) ND b) 及び合格判
定数(c)c)
群0 ND 表4による。
4.2 外観 4.2による。
表示は,明瞭とする。その他
は,個別規格の規定による。
4.2 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.3.1 静電容量 周波数 : ···MHz 規定の許容差による。
4.3.2 誘電正接(tan 周波数 : ···MHz 4.3.2.3による。
(4.3.1に同じ。)
4.3.3 絶縁抵抗(Ri) 方法は,個別規格の規定による。 4.3.3.3による。
4.3.4 耐電圧 方法は,個別規格の規定による。 絶縁破壊又はフラッシオーバ
がない。
群1A D 表4による。
4.5 端子強度
外観 損傷がない。
4.6.2 初期測定 静電容量
4.6 はんだ耐熱性
初期乾燥は,行わない。
方法は,個別規格の規定による。
4.6.4 最終測定 外観 異常がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 ΔC/Cは,4.6.4による。
4.15 部品の耐溶剤性
溶剤 : ··· 個別規格の規定による。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ···
方法2
後処理 : ···
――――― [JIS C 5101-8 pdf 15] ―――――
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