JIS C 5101-9:2018 電子機器用固定コンデンサ―第９部：品種別通則：固定磁器コンデンサ　種類２ | ページ 5

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C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
  試験時間は,6時間とする。
  個別規格に,周波数範囲及び取付方法を規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)
のコンデンサで,リード線端子だけで取り付ける場合,本体と取付点との距離を6 mm±1 mmとする。
4.10.3 最終測定及び要求事項
  コンデンサの外観を検査する。外観に異常があってはならない。

4.11 バンプ(繰返しのある衝撃)

4.11.1 一般
  バンプは,JIS C 5101-1の4.18(バンプ)によるほか,4.11.24.11.4による。
  個別規格に,バンプ(繰返しのある衝撃)又は繰返しのない衝撃のいずれで試験するかを規定する。
    注記 ここで引用しているJIS C 5101-1の2010年版では,バンプの試験手順で“JIS C 60068-2-29(環
          境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法)に規定する試験Ebを行う。”とあるが,JIS C
          60068-2-29は廃止され,JIS C 60068-2-27[環境試験方法−電気・電子−第2-27部 : 衝撃試験
          方法(試験記号 : Ea)]へ移行されている。
4.11.2 初期測定
  適用しない。
4.11.3 試験条件
  個別規格には,次の推奨する厳しさのいずれかを規定する。
        バンプ合計回数 :  1000 又は4 000
        ピーク加速度  :     400 m/s2       100 m/s2
                                    又は
        パルス作用時間 :      6 ms          16 ms
  個別規格には,取付方法も規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)のコンデン
サで,リード線端子だけで取り付ける場合,本体と取付点との距離を6 mm±1 mmとする。
4.11.4 最終測定及び要求事項
  コンデンサは,外観及び電気的性能を測定し,4.12.4に規定する要求事項を満足しなければならない。

4.12 衝撃(繰返しのない衝撃)

4.12.1 一般
  衝撃は,JIS C 5101-1の4.19(衝撃)によるほか,4.12.24.12.4による。
  個別規格に,繰返しのない衝撃又はバンプ(繰返しのある衝撃)のいずれで試験するかを規定する。
4.12.2 初期測定
  適用しない。
4.12.3 試験条件
  試験条件は,表12に規定する推奨する厳しさのいずれかを個別規格に規定する。
  パルス波形は,正弦半波とする。
                          表12−繰返しのない衝撃試験の推奨する厳しさ
                                   ピーク加速度    作用時間
                                       m/s2           ms
                                        300           18
                                        500           11
                                      1000             6

――――― [JIS C 5101-9 pdf 21] ―――――

                                                                                             17
                                                                C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
  個別規格には,取付方法も規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)のコンデン
サで,リード線端子だけで取り付ける場合,本体と取付点との距離を6 mm±1 mmとする。
4.12.4 最終測定及び要求事項
  コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく,表示は明瞭でなければならない。
  静電容量を4.4.1に従って測定し,その変化は,表13に規定する要求事項を満足しなければならない。
                                    表13−最大静電容量変化
                                  サブクラス         要求事項
                               2B,2C及び2X           ±10 %
                               2D及び2R               ±15 %
                               2E及び2F               ±20 %
                               注記 サブクラスの記号は,2.2.5による。

4.13 一連耐候性

4.13.1 一般
  一連耐候性は,JIS C 5101-1の4.21(一連耐候性)によるほか,4.13.24.13.8による。
4.13.2 特殊な前処理
  特殊な前処理は,4.2による。
4.13.3 初期測定
  静電容量を4.4.1に従って測定する。
4.13.4 高温
  高温は,JIS C 5101-1の4.21.2(高温)による。
4.13.5 温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクル
  温湿度サイクルの最初のサイクルは,JIS C 5101-1の4.21.3[温湿度サイクル(試験Db),最初のサイク
ル]による。
4.13.6 低温
  低温は,JIS C 5101-1の4.21.4(低温)によるほか,次による。
  コンデンサの外観を検査する。外観に異常があってはならない。
4.13.7 減圧
4.13.7.1 一般
  減圧は,JIS C 5101-1の4.21.5(減圧)によるほか,4.12.7.24.12.7.4による。
4.13.7.2 試験条件
  試験は,個別規格に規定する場合に適用し,温度15 ℃35 ℃,気圧8 kPaで行う。試験時間は1時間
とする。
4.13.7.3 試験手順
  規定の気圧に到達した後,直ちに定格電圧(UR)を1分2分間印加する。
4.13.7.4 最終測定及び要求事項
  コンデンサの外観を検査する。外観に異常があってはならない。
4.13.8 温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクル
4.13.8.1 一般
  温湿度サイクルの残りのサイクルは,JIS C 5101-1の4.21.6[温湿度サイクル(試験Db),残りのサイク

――――― [JIS C 5101-9 pdf 22] ―――――

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C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
ル]によるほか,4.13.8.24.13.8.4による。
4.13.8.2 試験条件
  試験条件を,表14に示す。
  電圧は,印加しない。
                            表14−温湿度サイクル,残りのサイクル数
                            耐候性カテゴリ   残りの24時間のサイクル数
                               −/−/56                 5
                               −/−/21                 1
                               −/−/10                 1
                               −/−/04                 0
4.13.8.3 後処理
  コンデンサを,24時間±2時間放置とする。
4.13.8.4 最終測定及び要求事項
  コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく,表示は明瞭でなければならない。
  コンデンサの電気的性能を測定し,表15に規定する要求事項を満足しなければならない。試験後の静電
容量値が規定の最低値よりも低い場合は,その他の性能を測定後に4.2に規定する特殊な前処理を行い,
その後に静電容量を再測定したとき,表15に規定する要求事項を満足しなければならない。
                                  表15−最終測定及び要求事項
           測定項目  測定条件                         要求事項
                                サブクラス    サブクラス    サブクラス    サブクラス
                                2B,2C,2X     2D,2R           2E            2F
           静電容量    4.4.1   ΔC/C≦±10 % ΔC/C≦±15 % ΔC/C≦±20 % ΔC/C≦±30 %
           誘電正接    4.4.2                  4.4.2.3での規定値の2倍以下
           絶縁抵抗    4.4.3                 Ri≧1 000 M    はRi×CN≧25 s
                                                 (いずれか小さい方)
           注記 サブクラスの記号は,2.2.5による。

4.14 高温高湿(定常)

4.14.1 一般
  高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1の4.22[高温高湿(定常)]によるほか,4.14.24.14.6による。
4.14.2 特殊な前処理
  特殊な前処理は,4.2による。
4.14.3 初期測定
  静電容量を4.4.1に従って測定する。
4.14.4 試験条件
  個別規格に規定がない場合は,電圧は印加しない。
  試験の厳しさは,表16及び個別規格に規定する試験条件から選定することが望ましい。
  試験期間は,2.1に従って選定することが望ましく,個別規格に規定する。

――――― [JIS C 5101-9 pdf 23] ―――――

                                                                                             19
                                                                C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
                               表16−高温高湿(定常)の試験条件
                                   厳しさ    温度    相対湿度
                                              ℃        %
                                     1     +85±2    85±3
                                     2     +60±2    93±3
                                     3     +40±2    93±3
  電圧印加が規定されている場合は,試料の半数は定格電圧を印加し,その他の半数は印加しない。
4.14.5 後処理
  コンデンサを,24時間±2時間放置する。
4.14.6 最終測定及び要求事項
  コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく,表示は明瞭でなければならない。
  コンデンサの電気的性能を測定し,表17に規定する要求事項を満足しなければならない。試験後の静電
容量値が規定の最低値よりも低い場合は,その他の性能を測定後に4.2に規定する特殊な前処理を行い,
その後に静電容量を再測定したとき,表17に規定する要求事項を満足しなければならない。
    注記 対応国際規格には,表16となっていたが,明らかな誤記のため,表17に修正した。
                                  表17−最終測定及び要求事項
           測定項目  測定条件                         要求事項
                                サブクラス    サブクラス    サブクラス    サブクラス
                               2B,2C,2X      2D,2R           2E            2F
           静電容量    4.4.1   ΔC/C≦±10 % ΔC/C≦±15 % ΔC/C≦±20 % ΔC/C≦±30 %
           誘電正接    4.4.2                  4.4.2.3での規定値の2倍以下
           絶縁抵抗    4.4.3                 Ri≧1 000 M    はRi×CN≧25 s
                                                (いずれか小さい方)
           注記 サブクラスの記号は,2.2.5による。

4.15 耐久性

4.15.1 一般
  耐久性は,JIS C 5101-1の4.23(耐久性)によるほか,4.15.24.15.6による。
4.15.2 特殊な前処理
  特殊な前処理は,4.2による。
4.15.3 初期測定
  静電容量を4.4.1に従って測定する。
4.15.4 試験条件
  試験条件を,表18に示す。
                                     表18−耐久性試験条件
               タイプ             温度          定格電圧      試験電圧        時間
                                                   V             V             h
          リード付き積層セラカテゴリ上限温度      UR≦200      1.5 UR        1 000
          ミックコンデンサ                    200                                              500          その他            カテゴリ上限温度      UR           1.5 UR        1 000

――――― [JIS C 5101-9 pdf 24] ―――――

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C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
4.15.5 後処理
  コンデンサを,24時間±2時間放置する。
4.15.6 最終測定及び要求事項
  コンデンサの外観を検査する。外観は異常がなく,表示は明瞭でなければならない。
  コンデンサの電気的性能を測定し,表19に規定する要求事項を満足しなければならない。試験後の静電
容量値が規定の最低値よりも低い場合は,その他の性能を測定後に4.2に規定する特殊な前処理を行い,
その後に静電容量を再測定したとき,表19に規定する要求事項を満足しなければならない。
    注記 対応国際規格には,表18となっていたが,明らかな誤記のため,表19に修正した。
                                  表19−最終測定及び要求事項
           測定項目  測定条件                         要求事項
                                サブクラス    サブクラス    サブクラス    サブクラス
                                2B,2C,2X     2D,2R           2E            2F
           静電容量    4.4.1   ΔC/C≦±20 % ΔC/C≦±20 % ΔC/C≦±20 % ΔC/C≦±30 %
           誘電正接    4.4.2                  4.4.2.3での規定値の2倍以下
           絶縁抵抗    4.4.3        Ri≧2 000 M     はRi×CN≧50 s(いずれか小さい方)
           注記 サブクラスの記号は,2.2.5による。

4.16 部品の耐溶剤性

  部品の耐溶剤性は,適用する場合,JIS C 5101-1の4.31(部品の耐溶剤性)による。

4.17 表示の耐溶剤性

  表示の耐溶剤性は,適用する場合,JIS C 5101-1の4.32(表示の耐溶剤性)による。

――――― [JIS C 5101-9 pdf 25] ―――――

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