JIS C 5101-9:2018 電子機器用固定コンデンサ―第９部：品種別通則：固定磁器コンデンサ　種類２ | ページ 4

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                                                                C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
3.5.3  長期保管後の出荷
  JIS C 5101-1のQ.10(長期保管後の出荷)に従い,はんだ付け性及び静電容量について群A及び群Bの
再検査を行う。
3.5.4  評価水準
  ブランク個別規格に規定する評価水準は,表5及び表6から選定するのが望ましい。
                                 表5−ロットごとの品質確認検査
          検査副群c)                                    EZ
                                   IL                   n                      c
             A0                                       100 % a)
                                                         b)
             A1                   S-4                                          0
                                                         b)
             A2                   S-3                                          0
                                                         b)
             B1                   S-3                                          0
                                                         b)
             B2                   S-2                                          0
        IL=検査水準
        n=試料数
        c=合格判定数
      注a) この検査は,工程でロット内から全ての不適合品を取り除いた後に実施する抜取試料による検査で
           ある。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視するために,抜取試料を全
           て検査する。抜取水準は,製造業者が選定する。その場合JIS C 5005-2の附属書A[信頼水準60 %
           における100万個当たりの不適合品率(ppm)で示す統計的工程品質限界(SVQL)の推定]によ
           ることが望ましい。抜取試料中に1個以上の不適合を発見した場合には,このロットは不合格とす
           るが,品質水準を算出するために,不適合品の数を全て数える。ppmで示す出荷品質水準は,JIS C
           5005-2の6.2(SVQLの算出)に規定する方法によって,累積した検査データから算出する。
        b) 試料数(n)は,JIS C 5005-2の4.3.2(なみ検査による抜取検査方式)によって決定する。
        c) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2による。
                                    表6−定期的品質確認検査
          検査副群a)                                    EZ
                                   p                     n                     c
             C1A                    6                     9                    0
             C1B                    6                    18                    0
             C1                     6                    27                    0
             C2                     6                    15                    0
             C3                     3                    15                    0
             C4                    12                     9                    0
        p=周期(月)
        n=試料数
        c=合格判定数
      注a) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2による。

4 試験及び測定手順

4.1 一般

  この箇条は,JIS C 5101-1の箇条4(試験及び測定手順)に規定する事項を補足する。

4.2 特殊な前処理

  前処理を適用する項目で,個別規格に条件の規定がない場合は,この特殊な前処理を試験前又は試験に

――――― [JIS C 5101-9 pdf 16] ―――――

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C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
続いて行う。コンデンサをカテゴリ上限温度又は個別規格に規定する高温度に1時間放置し,その後,標
準状態に24時間±1時間放置する。
    注記 種類2のコンデンサは,時間経過に従い静電容量が指数的に減少するものである(これをエー
          ジングという。)。ただし,誘電体のキュリー点以上の温度で熱した場合(ディエージング),失
          われた静電容量が回復し増加する。コンデンサは,再度冷やされたときからエージングが始ま
          る。
            特殊な前処理を行うことは,コンデンサの前歴の影響を与えない状態にすることを目的とし
          ている(詳細はA.4参照)。

4.3 外観及び寸法

  外観及び寸法は,JIS C 5101-1の4.4(外観検査及び寸法検査)による。

4.4 電気的試験

4.4.1  静電容量
4.4.1.1  一般
  静電容量は,JIS C 5101-1の4.7(静電容量)によるほか,4.4.1.2及び4.4.1.3による。
4.4.1.2  測定条件
  測定条件は,表7によるほか,次による。
                                         表7−測定条件
                 サブクラス             測定電圧                 判定電圧a)
              2B,2C,2X               1.0 V±0.2 V             1.0 V±0.02 V
              2D,2E,2F,2R           0.3 V±0.2 V              0.3 V±0.02 V
                                又は個別規格の規定による。又は個別規格の規定による。
              注a) 判定電圧は,測定結果に疑義が生じた場合に適用する。
  − 測定周波数 : 公称静電容量が100 pF未満の場合の測定周波数は,個別規格に規定がない場合は,1
      MHzとする。公称静電容量が100 pF以上の場合の測定周波数は,1 kHz±20 %とする。
4.4.1.3  要求事項
  静電容量の値は,公称静電容量値に対して,規定の許容差内とする。静電容量値の判定は,個別規格に
規定がない場合,1 000時間のエージング後を想定して行う(附属書A参照)。
  1 000時間以外のエージングを適用する場合には,静電容量値の判定は,個別規格に規定してもよい。
4.4.2  誘電正接(tan  
4.4.2.1  一般
  誘電正接は,JIS C 5101-1の4.8[誘電正接(損失角の正接)及び等価直列抵抗(ESR)]によるほか,
4.4.2.24.4.2.4による。
4.4.2.2  測定条件
  測定条件は,4.4.1による。
4.4.2.3  確度
  測定装置の確度は,測定誤差が1×10−3以下とする。
4.4.2.4  要求事項
  誘電正接は,0.035以下又は,個別規格に規定する値以下とする。

――――― [JIS C 5101-9 pdf 17] ―――――

                                                                                             13
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4.4.3  絶縁抵抗(Ri)
4.4.3.1  一般
  絶縁抵抗は,JIS C 5101-1の4.5(絶縁抵抗)によるほか,4.4.3.2及び4.4.3.3による。
4.4.3.2  測定条件
  測定条件は,JIS C 5101-1の4.5.2(測定条件)によるほか,次による。
  定格電圧が100 V未満の場合の測定電圧は,定格電圧以下とする。判定に疑義が生じた場合の測定電圧
は,定格電圧とする。
  電圧は,規定の電圧を直接印加し,品質認証試験及び定期的品質確認検査(群C)では,60秒±5秒間
後の値を測定する。また,ロットごとの品質確認検査(群A)では,絶縁抵抗の値が規定値を超えた時点
で判定し,時間を短縮してもよい。
  電源の内部抵抗とコンデンサの公称静電容量との積は,個別規格に規定がない場合は,1秒以下とする。
  充電電流は,0.05 A以下とする。
  絶縁抵抗(Ri)は,1分間後に測定する。
4.4.3.3  要求事項
  絶縁抵抗(Ri)は,表8に規定する要求事項を満足しなければならない。
                                    表8−絶縁抵抗の要求事項
                         形状        測定箇所     CN≦25 nF     CN>25 nF
                                                      Ri          Ri×CN
                    絶縁形        1a及び1c        ≧4 000 MΩ     ≧100 s
                    非絶縁形      1a
4.4.4  耐電圧
4.4.4.1  一般
  耐電圧は,JIS C 5101-1の4.6(耐電圧)によるほか,4.4.4.24.4.4.4による。
4.4.4.2  試験条件
  電源の内部抵抗とコンデンサの公称静電容量との積は,1秒以下とする。
  充電電流は,0.05 A以下とする。
4.4.4.3  試験電圧
  表9の試験電圧を,JIS C 5101-1の表3(測定箇所)に規定する測定箇所に印加し,品質認証試験及び定
期的品質確認検査では1分間,ロットごとの品質確認検査では1秒間の印加時間とする。
                                         表9−試験電圧
                         タイプ            定格電圧            試験電圧
                                              V                   V
                   リード付き積層磁器         UR≦100          2.5 UR
                   コンデンサ            100                                         200                                         500                   その他                  UR≦500             2.5 UR
                                           UR>500             1.5 UR+500
                   注記 定格電圧が500 Vを超える場合の試験C(端子外装間)の試験
                        電圧は,1.5 UR+500 V又は個別規格の要求事項に従っている。

――――― [JIS C 5101-9 pdf 18] ―――――

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C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
4.4.4.4  要求事項
  試験中に絶縁破壊又はフラッシオーバがあってはならない。

4.5 静電容量の温度特性

4.5.1  特殊な前処理
  特殊な前処理は,4.2による。
4.5.2  測定条件
  測定条件は,JIS C 5101-1の4.24.1.2(試験手順)及び4.24.1.3(測定方法)によるほか,表10による。
                                     表10−測定条件の詳細
                測定段階                     温度                直流電圧(UR)の印加
                                              ℃
                   1                        20±2                         −
                   2                       TA a)±3                       −
                   3                        20±2                         −
                   4                       TB b)±2                       −
                   5                       TB b)±2                       ×
                   6                        20±2                         ×
                   7                       TA a)±3                       ×
                   8                        20±2                         −
       注記1 “−”は,直流電圧の印加なしを表す。
              “×”は,直流電圧の印加を表す(個別規格に規定する場合)。
       注記2 中間の温度の測定値は,2.2.5を満足するものとする。
       注記3 基準となる静電容量値は,測定段階3での測定値である。
       注記4 4.2の注記に記載する影響のため,測定段階57での直流電圧印加時の測定値は,時間に依
              存するということである。この時間依存性を含め規定する静電容量変化内とする。測定段階
              1及び8の静電容量の変化は,経時変化に伴う値を示す。直流電圧印加時の測定結果に疑義
              が生じた場合は,測定段階5及び7での保持時間[温度安定(熱平衡)に達する時間]を決
              めておくことを推奨する[測定方法は,JIS C 5101-1の4.24.1.3(測定方法)参照]。
       注a)   A=カテゴリ下限温度
          b)   B=カテゴリ上限温度
4.5.3  要求事項
  静電容量の変化は,JIS C 5101-1の4.24.3.1(静電容量の温度特性)によって算出する。
  直流電圧を印加した場合及び印加しない場合の温度特性は,表2に規定する要求事項を満足しなければ
ならない。

4.6 端子強度

  端子強度は,JIS C 5101-1の4.13(端子強度)による。

4.7 はんだ耐熱性

4.7.1  一般
  はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1の4.14(はんだ耐熱性)によるほか,4.7.24.7.5による。
4.7.2  特殊な前処理
  特殊な前処理は,4.2による。
4.7.3  初期測定
  静電容量を4.4.1に従って測定する。

――――― [JIS C 5101-9 pdf 19] ―――――

                                                                                             15
                                                                C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
4.7.4  後処理
  後処理は,24時間±2時間放置とする。
4.7.5  最終測定及び要求事項
  コンデンサの外観検査を行い,外観は異常がなく,表示は明瞭でなければならない。
  静電容量を4.4.1に従って測定し,その変化は表11に規定する要求事項を満足しなければならない。
                                    表11−最大静電容量変化
                                  サブクラス         要求事項
                               2B,2C及び2X           ±10 %
                               2D及び2R               ±15 %
                               2E及び2F               ±20 %
                               注記 サブクラスの記号は,2.2.5による。

4.8 はんだ付け性

4.8.1  一般
  はんだ付け性は,JIS C 5101-1の4.15(はんだ付け性)によるほか,4.8.2及び4.8.3による。
4.8.2  試験条件
  はんだ小球法を適用する場合は,個別規格に規定する。はんだ槽法及びはんだ小球法のいずれも適用で
きない場合は,はんだこて法(はんだこて寸法A)で試験する。
4.8.3  最終測定及び要求事項
  目視検査で,はんだが良好に付着していることを端子部がはんだにぬれていることによって確認する。
ただし,平衡法の場合は,個別規格の規定による。

4.9 温度急変

4.9.1  一般
  温度急変は,適用する場合,JIS C 5101-1の4.16(温度急変)によるほか,4.9.24.9.5による。
4.9.2  特殊な前処理
  特殊な前処理は,4.2による。
4.9.3  初期測定
  静電容量を4.4.1に従って測定する。
4.9.4  試験条件
  サイクル数は,5サイクルとする。
  カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度に放置する時間は,30分間とする。
4.9.5  後処理
  コンデンサを,24時間±2時間放置とする。

4.10 振動

4.10.1 一般
  振動は,JIS C 5101-1の4.17(振動)によるほか,4.10.2及び4.10.3による。
4.10.2 試験条件
  試験Fcの厳しさは,次による。
  振幅0.75 mm又は加速度100 m/s2のいずれか緩い方で,周波数は,次のうち一つとする。
  10 Hz55 Hz,10 Hz500 Hz,10 Hz2 000 Hz

――――― [JIS C 5101-9 pdf 20] ―――――

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