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C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
誘電体の温度特性での温度範囲は,カテゴリ温度範囲と等しい。
3 品質評価手順
3.1 製造の初期工程
単板形のコンデンサの製造の初期工程は,誘電体表面への電極形成工程とする。また,積層形のコンデ
ンサでは,誘電体に内部電極を塗布したものの最初の焼成工程とする。
3.2 構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,類似の工程及び類似の材料で
製造したコンデンサとする。
3.3 出荷ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で購入者から要求があるときは,JIS C 5101-1のQ.9(出荷ロット成績証明
書)によって出荷ロットの成績証明書を提出する。耐久性試験後の要求する性能値は,静電容量の変化,
誘電正接(tan 及び絶縁抵抗とする。
3.4 品質認証
3.4.1 一般
品質認証の手順は,JIS C 5101-1のQ.5(品質認証手順)による。
ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は,3.5による。定数抜取手順は,3.4.2
及び3.4.3による。
3.4.2 定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は,JIS C 5101-1のQ.5.3(品質認証用試験手順)のb)の規定による。試料は,認証を得よ
うとする全てのコンデンサの範囲を代表し,個別規格に規定する全ての範囲,又はその一部でもよい。
試料は,定格電圧の最低値及び最高値と,それぞれの最小公称静電容量及び最大公称静電容量との組合
せでできる4組合せ(定格電圧と公称静電容量との組合せ)で構成する。定格電圧が5種類以上の場合は,
中間の定格電圧のものも追加試験する。このように一つの認証範囲の試験には,4組合せ又は6組合せの
ものを試料とする。認証範囲からの試料数が3組合せ以下の場合の試料数は,4組合せと同じとする。
予備試料は,次による。
予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに2個(6組合
せの場合)又は3個(4組合せの場合)とする。
群0に規定する試料数は,全ての群の試験を適用する場合の試料数であり,全ての試験を適用しない場
合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に群を追加する場合,群0の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験における各群又は副群で試験する試料数は,合格判定数とともに表3に示す。
3.4.3 試験
表3及び表4に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,
各群の試験は,記載の順に従って行う。
全ての試料は,群0の試験を行った後,その他の群に分割する。
群0で発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが,一つの群内で全て又は一部の項目で不適合となったとき,“1個の不適合品”と数
える。
不適合品数がゼロの場合,品質認証は合格とする。
――――― [JIS C 5101-9 pdf 11] ―――――
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C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
表3及び表4は,定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表3は,各試験群に対するサン
プリング及び合格判定数の詳細を規定している。一方,表4は,箇条4に規定する試験の詳細と合わせて,
試験条件及び要求事項の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する試験方法,試験条件などを規定
している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求事項は,個別規格に規定する品質確認検
査と同じとする。
表3−品質認証試験のサンプリング計画及び合格判定数 評価水準EZ
群 試験項目 この規格の 試料数 合格判定数
細分箇条番号 n b) c d)
0 外観 4.3 108 0
寸法 4.3
静電容量 4.4.1
誘電正接 4.4.2
絶縁抵抗 4.4.3
耐電圧 4.4.4
予備試料 − 8
1A 端子強度 4.6 12 0
はんだ耐熱性 4.7
部品の耐溶剤性c) 4.16
1B はんだ付け性 4.8 24 0
表示の耐溶剤性c) 4.17
温度急変a) 4.9
振動 4.10
バンプ又は衝撃a) 4.11又は4.12
1 一連耐候性 4.13 36 0
2 高温高湿(定常) 4.14 24 0
3 耐久性 4.15 36 0
4 静電容量の温度特性 4.5 12 0
注a) 個別規格の規定による。
b) 公称静電容量と定格電圧との組合せで3.4.2による。
c) 個別規格に規定がある場合に適用する。
d) 合否判定の許容不適合品を示し,この数以下の場合を合格とする。
――――― [JIS C 5101-9 pdf 12] ―――――
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C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
表4−品質認証の試験計画
細分箇条番号及び D又は 試験条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験項目a) ND b) 及び合格判
定数(c)c)
群0 ND 表3による。
4.3 外観 4.3による。
表示は,明瞭とする。その他
は個別規格の規定による。
4.3 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.4.1 静電容量 周波数 : ··· kHz又はMHz 規定の許容差による。
測定電圧 : ··· V
4.4.2 誘電正接(tan 周波数及び測定電圧は,4.4.1に 4.4.2.4による。
同じ。
4.4.3 絶縁抵抗(Ri) 方法は,個別規格の規定による。 4.4.3.3による。
4.4.4 耐電圧 方法は,個別規格の規定による。 絶縁破壊又はフラッシオーバ
がない。
群1A D 表3による。
4.6 端子強度
外観 損傷がない。
4.7.3 初期測定 静電容量
4.7 はんだ耐熱性
特殊な前処理は,4.2による。
方法は,個別規格の規定による。
4.7.5 最終測定 外観 異常がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 ΔC/Cは,4.7.5による。
4.16 部品の耐溶剤性
溶剤 : ··· 個別規格の規定による。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ···
方法2
後処理 : ···
群1B D 表3による。
4.8 はんだ付け性
方法は,個別規格の規定による。 端子にはんだが良好に付着し
ているか,又は,平衡法の場
合は,個別規格による。
4.17 表示の耐溶剤性
溶剤 : ··· 表示は,明瞭とする。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ···
方法1
ラビングの材料 : 脱脂綿
後処理 : ···
4.9 温度急変
特殊な前処理は,4.2による。
4.9.3 初期測定 静電容量
TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
5サイクル
時間t1=30 min
後処理 : 24 h±2 h
外観 異常がない。
4.10 振動
取付方法は,個別規格の規定に
よる。
周波数範囲 : ··· Hz··· Hz
振幅 : 0.75 mm又は加速度100
m/s2(いずれか緩い方)
総試験時間 : 6 h
――――― [JIS C 5101-9 pdf 13] ―――――
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C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
表4−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験項目a) ND b) 及び合格判
定数(c)c)
群1B(続き) D 表3による。
4.10.3 中間測定 外観 異常がない。
4.11 バンプ 取付方法は,個別規格の規定に
(又は4.12衝撃) よる。
バンプ回数 : ···
ピーク加速度 : ··· m/s2
作用時間 : ··· ms
4.12 衝撃 取付方法は,個別規格の規定に
(又は4.11バンプ) よる。
ピーク加速度 : ··· m/s2
作用時間 : ··· ms
4.11.4又は4.12.4 外観 異常がない。
最終測定 表示は,明瞭とする。
静電容量 ΔC/Cは,4.12.4による。
群1 D 表3による。
4.13 一連耐候性
特殊な前処理は,4.2による。
4.13.3 初期測定 静電容量
4.13.4 高温 温度 : カテゴリ上限温度
時間 : 16 h
4.13.5 温湿度サイクル,
試験Db,最初のサイクル
4.13.6 低温 温度 : カテゴリ下限温度
時間 : 2 h
外観 異常がない。
4.13.7 減圧(個別規格に 気圧 : 8 kPa
規定がある場合)
4.13.7.4 中間測定 外観 絶縁破壊又はフラッシオーバ
がない。
4.13.8 温湿度サイクル 後処理 : 24 h±2 h
(試験Db),
残りのサイクル
4.13.8.4 最終測定 外観 異常がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 ΔC/Cは,4.13.8.4による。
誘電正接 4.13.8.4による。
絶縁抵抗 4.13.8.4による。
群2 D 表3による。
4.14 高温高湿(定常)
特殊な前処理は,4.2による。
4.14.3 初期測定 静電容量
後処理 : 24 h±2 h
4.14.6 最終測定 外観 異常がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 ΔC/Cは,4.14.6による。
誘電正接 4.14.6による。
絶縁抵抗 4.14.6による。
――――― [JIS C 5101-9 pdf 14] ―――――
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C 5101-9 : 2018 (IEC 60384-9 : 2015)
表4−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験条件a) 試料数(n) 要求事項a)
試験項目a) ND b) 及び合格判
定数(c)c)
群3 D 表3による。
4.15 耐久性
特殊な前処理は,4.2による。
試験電圧 : ··· V
試験時間 : ··· h
4.15.3 初期測定 静電容量
後処理 : 24 h±2 h
4.15.6 最終測定 外観 異常がない。
表示は,明瞭とする。
静電容量 ΔC/Cは,4.15.6による。
誘電正接 4.15.6による。
絶縁抵抗 4.15.6による。
群4 ND 表3による。
4.5 静電容量の温度特 特殊な前処理は,4.2による。 ΔC/Cは,4.5.3による。
性
注a) 試験の細分箇条番号及び要求事項は,箇条4による。
b) この表でDは破壊試験,NDは非破壊試験を表す。
c) 合否判定の許容不適合品数を示し,この数を超えない場合を合格とする。
3.5 品質確認検査
3.5.1 検査ロットの構成
3.5.1.1 群A及び群B検査
これらの検査は,ロットごとに行う。
製造業者は,次の条件の下にコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
a) 検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2参照)。
b) 群Aの検査試料は,検査ロットに含まれる定格値(定格電圧及び公称静電容量)及び外形寸法の代表
値で構成する。
− 定格値(定格電圧及び公称静電容量)及び外形寸法の数
− 1組合せ当たり5個以上
副群B2の検査試料は,ロットの中の全温度特性のコンデンサを含む。
c) EC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,1組合せ当たりの抜取数が4個以下のとき,製造業者
は,認証機関(CB)の承認を必要とする。
3.5.1.2 群C検査
この検査は,定期的に行う。
試料は,定期検査周期期間内に製造されたものを代表するもので,かつ,公称静電容量の大,中及び小
に分類する。引き続き,次の期間内の試料は,認証範囲を包含するために,別の定格電圧と公称静電容量
とのものを抜取検査する。
3.5.2 試験計画
品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は,ブランク個別規格
の箇条2の表5による。
――――― [JIS C 5101-9 pdf 15] ―――――
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JIS C 5101-9:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-9:2015(IDT)
JIS C 5101-9:2018の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.20 : 磁器コンデンサ及びマイカコンデンサ
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