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C 5201-4-1 : 1998
びにAmendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989及びAmendment 4 : 1993からのすべての引
用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5201-4 電子機器用固定抵抗器−第4部 : 品種別通則 : 電力形固定抵抗器
備考 IEC 60115-4 : 1982, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 4 : Sectional specification :
Fixed power resistorsからのすべての引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 9015 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)
備考 IEC 60410 : 1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributesからのすべての引用
事項は,この規格の該当事項と同等である。
1.4 表示
抵抗器及び包装への表示は,品目別通則 (JIS C 5201-1) の2.4(表示)による。
備考 抵抗器及び包装への表示の詳細は,個別規格による。
1.5 発注情報
この規格を適用する抵抗器を発注する場合には,少なくとも次の事項を明確に示すか又
は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値
b) 定格抵抗値の許容差
c) 個別規格の番号及び発効年又は版(発行年)並びに形式
1.6 出荷対象ロットの成績証明書
要求する,又は要求しない
1.7 追加情報
(検査目的以外のもの)1.8 品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合にだけ規定する。
第2章 検査の要求事項
2. 検査の要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証のための手順は,JIS C 5201-4の3.2(品質認証)による。
2.1.2 品質確認検査のための試験計画(表II)には,抜取方法,周期,厳しさ及び要求事項を規定する。
検査ロットの構成は,JIS C 5201-4の3.3.1(検査ロットの構成)による。
備考 乾燥が要求される場合には,JIS C 5201-1の4.3(乾燥)の手順Iによる。
表II 品質確認検査のための試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5201-1による。ただし,抵抗値変化の要求事項は,JIS C 5201-4の表I
及び表IIから適切に選択する。
2. 検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015から選択する。
3. この表で, p = 周期(月)
n = 試料数
c = 合格判定個数(許容不良数)
D = 破壊試験
ND = 非破壊試験
IL = 検査水準
JIS Z 9015
AQL = 合格品質水準
参考 表中の要求性能の欄の“%R”のRは,各試験の試験前の抵抗値を示す。
――――― [JIS C 5201-4-1 pdf 6] ―――――
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C 5201-4-1 : 1998
表II 品質確認検査のための試験計画(続き)
項目番号及び試験 D 試験条件 IL AQL 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
群A検査
(ロットごと)
副群A1 ND S-4 1.0%
4.4.1 外観 4.4.1による。
表示が明りょうで,この
規格の1.4による。
副群A2 ND S-4 1.0%
4.4.2 寸法(ゲージ法) ...mmのゲージ板を使用(適用 この規格の表Iによる。
する場合)
4.5 抵抗値 4.5.2による。
群B検査
(ロットごと)
副群B1 ND S-3 1.0%
4.7 耐電圧(絶縁形抵抗器だ 方法 : ... 絶縁破壊又はフラッシ
けに適用) ュオーバがない。
副群B2 D S-3 2.5%
4.17 はんだ付け性 エージングなし。 端子は,良好にはんだの
方法 : ... ぬれができるめっきで
なければならない。
又は,適用する場合は,
はんだの流れは...秒間以
内とする。
4.16 端子強度 引張り試験
外観 外観に損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
4.13 過負荷 JIS C 5201-4の2.3.4(過負荷)
による。
外観 外観に損傷がなく表示
が明りょうである。
抵抗値 圀
(...%R+...
副群B3 ND S-3 2.5%
4.8.4.2 抵抗温度係数 この試験は抵抗温度係数が± 愀 6/℃
50×10-6/℃未満を要求される
場合だけに適用する。20℃
70℃20℃の1サイクルだけ。
――――― [JIS C 5201-4-1 pdf 7] ―――――
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C 5201-4-1 : 1998
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
群C検査
(定期的)
副群C1A D 3 10
副群C1の試料の半分
4.16 端子強度 引張り,曲げ及びねじり試験(適
用する場合)
外観 外観に損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
4.18 はんだ耐熱性 方法 : ...
外観 外観に損傷がなく表示
が明りょうである。
抵抗値 圀
(...%R+...
副群C1B D 3 10
副群C1の試料の残り半分
4.19 温度急変 カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
外観 外観に損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
4.20 バンプ(又は4.21衝撃) 取付方法 : この規格の1.1によ
る。
ピーク加速度 : 400m/s2
バンプ回数 : 4 000
又は,
ピーク加速度 : 98m/s2
バンプ回数 : 1 000
外観 外観に損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
4.21 衝撃(又は4.20バンプ) 取付方法 : この規格の1.1によ
る。
ピーク加速度 : 500m/s2
作用時間 : 11ms
パルス波形 : 正弦半波
外観 外観に損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
4.22 振動(正弦波) 取付方法 : この規格の1.1によ
る。
掃引耐久試験
振動数範囲 : ...Hz...Hz
(JIS C 5201-4の2.3.2[振動(正
弦波)]参照)
振幅 : 0.75mm又は98m/s2
(いずれか緩い方)
総試験時間 : 6h
外観 外観に損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
――――― [JIS C 5201-4-1 pdf 8] ―――――
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C 5201-4-1 : 1998
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
副群C1 D 3 20 1
副群C1A及び副群C1Bの全
試料
4.23 一連耐候性
− 高温(耐熱性)
− 温湿度サイクル(12+12
時間サイクル),最初の
サイクル
− 低温(耐寒性)
− 減圧 8kPa
− 温湿度サイクル(12+12
時間サイクル),残りの
サイクル
− 直流負荷(非巻線だけに
適用)
外観 外観に損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけ R≧100M 圀
に適用)
副群C2 D 3 20 1
4.25.2 室温での耐久性 試験時間 : 1 000h
48h,500h及び1 000hでの検査 :
外観 外観に損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけ R≧1G 圀
に適用)
個別規格に要求があれば,試験
を8 000hまで延長する。
2 000h,4 000h及び8 000hでの
検査 :
抵抗値 圀
(...%R+...
(結果は情報としてだ
けに扱う。)
副群C3 ND 3 20 1
4.8 温度による抵抗値変化 カテゴリ下限温度/20℃ R
≦ ...%又は
R
愀 6/℃
R
20℃/カテゴリ上限温度 ≦ ...%又は
R
愀 6/℃
群D検査
(定期的)
副群D1 D 12 20 1
4.24 高温高湿(定常) 1) 4.24.2.1
第1のグループ : 試料数6
第2のグループ : 試料数7
第3のグループ : 試料数7
2) 4.24.2.2
――――― [JIS C 5201-4-1 pdf 9] ―――――
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C 5201-4-1 : 1998
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
第1のグループ : 試料数10
第2のグループ : 試料数10
外観 外観に損傷がなく,表示
が明りょうである。
抵抗値 圀
(...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけ R≧100M 圀
に適用)
副群D2 ND 36 13 1
4.14 温度上昇
副群D3 D 36 20 1
4.4.3 寸法(詳細) この規格の表Iによる。
4.25.3 カテゴリ上限温度で 試験時間 : 1 000h
の耐久性 48h,500h及び1 000hでの検査 :
外観 外観に損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけ R≧1G 圀
に適用)
副群D4 D 36 20 1
4.25 他の温度での耐久性(適 この副群はJIS C 5201-4の2.2.3
用する場合) (定格電力)に規定するものと
異なる軽減曲線を個別規格で要
求する場合だけに適用する。
試験時間 : 1 000h
48h,500h及び1 000hでの検査 :
外観 外観に損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
(副群C2と同じ)
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけ R≧1G 圀
に適用)
副群D5 D 36 13 1
4.9 リアクタンス(適用する L
≦...s 又は L≦...mH
場合) R
4.15 抵抗体強度(適用する場 JIS C 5201-4の2.3.5(抵抗体強 破損又はクラックがな
合) 度による)。 い。
――――― [JIS C 5201-4-1 pdf 10] ―――――
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JIS C 5201-4-1:1998の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-4-1:1983(MOD)
- IEC 60115-4-1:1983/AMENDMENT 1:1993(MOD)
JIS C 5201-4-1:1998の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-4-1:1998の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5201-1:2011
- 電子機器用固定抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5201-4:1998
- 電子機器用固定抵抗器―第4部:品種別通則:電力形固定抵抗器
- JISZ9015:1980
- 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)