JIS C 5201-1:2011 電子機器用固定抵抗器―第１部：品目別通則

                                                                                  C 5201-1 : 2011

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 一般事項・・・・[1]
•  1.1 適用範囲・・・・[1]
•  1.2 引用規格・・・・[1]
•  2 技術的なデータ・・・・[4]
•  2.1 単位及び記号・・・・[4]
•  2.2 用語及び定義・・・・[4]
•  2.3 推奨値・・・・[8]
•  2.4 表示・・・・[8]
•  2.5 記号化・・・・[9]
•  2.6 包装・・・・[9]
•  2.7 保存・・・・[9]
•  2.8 輸送・・・・[9]
•  3 品質評価手順・・・・[9]
•  4 試験及び測定手順・・・・[9]
•  4.1 一般事項・・・・[9]
•  4.2 標準大気条件・・・・[10]
•  4.3 乾燥・・・・[10]
•  4.4 外観検査及び寸法検査・・・・[11]
•  4.5 抵抗値・・・・[11]
•  4.6 絶縁抵抗・・・・[11]
•  4.7 耐電圧・・・・[13]
•  4.8 温度による抵抗値変化・・・・[14]
•  4.9 リアクタンス・・・・[15]
•  4.10 非直線性・・・・[16]
•  4.11 電圧係数・・・・[17]
•  4.12 雑音・・・・[17]
•  4.13 短時間過負荷・・・・[17]
•  4.14 温度上昇・・・・[17]
•  4.15 抵抗体強度・・・・[18]
•  4.16 端子強度・・・・[18]
•  4.17 はんだ付け性・・・・[19]
•  4.18 はんだ耐熱性・・・・[20]
•  4.19 温度急変・・・・[21]
•  4.20 バンプ・・・・[21]

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――――― [JIS C 5201-1 pdf 1] ―――――

C 5201-1 : 2011

pdf 目次

ページ

•  4.21 衝撃・・・・[21]
•  4.22 振動・・・・[22]
•  4.23 一連耐候性・・・・[22]
•  4.24 高温高湿(定常)・・・・[23]
•  4.25 耐久性・・・・[24]
•  4.26 偶発的過負荷試験・・・・[27]
•  4.27 単パルス高電圧過負荷試験・・・・[28]
•  4.28 周期的パルス高電圧過負荷試験・・・・[30]
•  4.29 部品の耐溶剤性・・・・[32]
•  4.30 表示の耐溶剤性・・・・[32]
•  4.31 表面実装用抵抗器の取付け・・・・[33]
•  4.32 固着性・・・・[35]
•  4.33 耐プリント板曲げ性・・・・[35]
•  4.34 耐食性・・・・[36]
•  4.35 耐炎性・・・・[36]
•  4.36 低温動作・・・・[36]
•  4.37 高温高湿(加速)・・・・[36]
•  4.38 静電気放電・・・・[37]
•  4.39 断続過負荷試験・・・・[37]
•  4.40 ウィスカ試験・・・・[38]
•  4.41 硫化試験・・・・[38]
•  附属書A(規定)IEC電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合のIEC 60410の抜取計画及び手順の説明・・・・[39]
•  附属書B(規定)IEC電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の電子機器用コンデンサ及び抵抗器の個別規格を作成するための規則・・・・[40]
•  附属書C(参考)周期的パルス高電圧過負荷試験の試験装置例・・・・[41]
•  附属書D(規定)IEC電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合のPCP/CQC仕様書の最初のページのレイアウト・・・・[42]
•  附属書E(規定)IEC電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の能力認証試験報告書の要求事項 43附属書F(参考)文字記号及び略語・・・・[44]
•  附属書G(参考)試験及び測定手順の索引表・・・・[46]
•  附属書Q(規定)IEC電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手順・・・・[48]
•  附属書JA(参考)形名及び表示・・・・[57]
•  附属書JB(参考)固定抵抗器の非直線性測定方法・・・・[65]
•  附属書JC(参考)固定抵抗器の電流雑音測定方法・・・・[74]
•  附属書JD(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[82]

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                                                                                  C 5201-1 : 2011

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報
技術産業協会(JEITA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改
正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)であ
る。
  これによって,JIS C 5201-1:1998は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5201の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5201-1 第1部 : 品目別通則
    JIS C 5201-2 第2部 : 品種別通則 : 低電力非巻線固定抵抗器
    JIS C 5201-2-1 第2部 : ブランク個別規格 : 低電力非巻線固定抵抗器 評価水準E
    JIS C 5201-2-2 第2部 : ブランク個別規格 : 低電力非巻線固定抵抗器 評価水準F
    JIS C 5201-4 第4部 : 品種別通則 : 電力形固定抵抗器
    JIS C 5201-4-1 第4部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器 評価水準E
    JIS C 5201-4-2 第4部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器 評価水準F
    JIS C 5201-4-3 第4部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器,ヒートシンク付き 評価水準H
    JIS C 5201-5 第5部 : 品種別通則 : 精密級固定抵抗器
    JIS C 5201-5-1 第5部 : ブランク個別規格 : 精密級固定抵抗器 評価水準E
    JIS C 5201-5-2 第5部 : ブランク個別規格 : 精密級固定抵抗器 評価水準F
    JIS C 5201-6 第6部 : 品種別通則 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器
    JIS C 5201-6-1 第6部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 同一抵抗値及
        び同一定格電力 評価水準E
    JIS C 5201-6-2 第6部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 異種抵抗値又
        は異種定格電力 評価水準E
    JIS C 5201-8 第8部 : 品種別通則 : チップ固定抵抗器
    JIS C 5201-8-1 第8部 : ブランク個別規格 : チップ固定抵抗器 評価水準E
    JIS C 5201-9 第9部 : 品種別通則 : 個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器
    JIS C 5201-9-1 第9-1部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器−
        評価水準EZ

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C 5201-1 : 2011

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                                           白    紙

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――――― [JIS C 5201-1 pdf 4] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 5201-1 : 2011

電子機器用固定抵抗器−第1部 : 品目別通則

Fixed resistors for use in electronic equipment-Part 1: Generic specification

序文

  この規格は,2008年に第4版として発行されたIEC 60115-1を基とし,IEC 60068-2-1(低温試験)及び
IEC 60068-2-2(高温試験)の最新版への対応が反映されなかったため,これに対応するように技術的内容
を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表をその説明を付けて,附属書JDに示す。また,附属書JA附属書JCは,対応国際規格にはない事
項である。

1 一般事項

1.1 適用範囲

  この規格は,品目別通則であり,電子機器用固定抵抗器(以下,抵抗器という。)に適用する。
  この規格は,電子部品の品質認証又はその他の認証において,品種別通則及び個別規格で用いる用語,
検査手順及び試験方法を規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60115-1:2008,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 1: Generic specification
              (MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

1.2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 0025:1988 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14:1984,Environmental testing−Part 2: Tests−Test N: Change of
             temperature及びAmendment 1:1986並びにIEC 60068-2-33:1971,Environmental testing−Part 2:
             Tests. Guidance on change of temperature tests及びAmendment 1:1978(全体評価 : MOD)
    JIS C 0617(規格群) 電気用図記号
      注記 対応国際規格 : IEC 60617 (all parts),Graphical symbols for diagrams(MOD)
    JIS C 0806(規格群) 自動実装部品の包装
      注記 対応国際規格 : IEC 60286 (all parts),Packaging of components for automatic handling(MOD)

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