JIS C 5201-1:2011 電子機器用固定抵抗器―第１部：品目別通則 | ページ 2

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C 5201-1 : 2011
    JIS C 5005-2 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択
        及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
      注記 対応国際規格 : IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of
             sampling plans for inspection of electronic components and packages(IDT)
    JIS C 5062 抵抗器及びコンデンサの表示記号
      注記 対応国際規格 : IEC 60062:2004,Marking codes for resistors and capacitors(MOD)
    JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
      注記 対応国際規格 : IEC 60063:1963,Preferred number series for resistors and capacitors並びに
             Amendment 1:1967及びAmendment 2:1977(IDT)
    JIS C 6484:2005 プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材エポキシ樹脂
      注記 対応国際規格 : IEC 61249-2-7:2002,Materials for printed boards and other interconnecting
             structures−Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad−Epoxide woven E-glass laminated
             sheet of defined flammability (vertical burning test), copper-clad,及びIEC 61249-2-8:2003,
             Materials for printed boards and other interconnecting structures−Part 2-8: Reinforced base
             materials clad and unclad−Modified brominated epoxide woven fibreglass reinforced laminated
             sheets of defined flammability (vertical burning test), copper-clad(全体評価 : MOD)
    JIS C 60068-1:1993 環境試験方法−電気・電子−通則
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1: General and guidance及び
             Amendment 1:1992(IDT)
    JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−第2-1部 : 低温(耐寒性)試験方法(試験記号 : A)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-1:2007,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)
             なお,対応国際規格IEC 60115-1ではIEC 60068-2-1:1994を引用しているが,この規格で
             は最新版を適用した。
    JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : B)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-2:2007,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat
             (IDT)
             なお,対応国際規格IEC 60115-1ではIEC 60068-2-2:1994を引用しているが,この規格で
             は最新版を適用した。
    JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
             (sinusoidal)(IDT)
    JIS C 60068-2-11:1989 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-11:1981,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Ka: Salt mist
             (IDT)
    JIS C 60068-2-13:1989 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-13:1983,Environmental testing−Part 2: Tests−Test M: Low air
             pressure(IDT)
    JIS C 60068-2-20 環境試験方法−電気・電子−第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ付け
        性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test

――――― [JIS C 5201-1 pdf 6] ―――――

                                                                                              3
                                                                                  C 5201-1 : 2011
             methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)
             なお,対応国際規格IEC 60115-1ではIEC 60068-2-20:1987を引用しているが,この規格で
             は最新版を適用した。
    JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness
             of terminations and integral mounting devices(IDT)
    JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-27:2008,Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and
             guidance: Shock(IDT)
    JIS C 60068-2-29:1995 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-29:1987,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Eb and guidance:
             Bump(IDT)
    JIS C 60068-2-30 環境試験方法(電気・電子)温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-30:2005,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp
             heat, cyclic (12 h+12 h cycle)(IDT)
    JIS C 60068-2-45:1995 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-45:1980,Environmental testing−Part 2: Tests−Test XA and guidance:
             Immersion in cleaning solvents及びAmendment 1:1993(IDT)
    JIS C 60068-2-54:2009 環境試験方法−電気・電子−はんだ付け性試験方法(平衡法)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-54:2006,Environmental testing−Part 2-54: Tests−Test Ta:
             Solderability testing of electronic components by the wetting balance method(MOD)
    JIS C 60068-2-58:2006 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の
        耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test
             methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface
             mounting devices (SMD)(MOD)
    JIS C 60068-2-67:2001 環境試験方法−電気・電子−基本的に構成部品を対象とした高温高湿,定常
        状態の促進試験
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-67:1995,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Cy: Damp heat,
             steady state, accelerated test primarily intended for components(IDT)
    JIS C 60068-2-69 環境試験方法−電気・電子−第2-69部 : 試験−試験Te : 表面実装部品(SMD)の
        はんだ付け性試験方法(平衡法)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-69,Environmental testing−Part 2-69: Tests−Test Te: Solderability
             testing of electronic components for surface mounting devices (SMD)   y the wetting balance method
             (IDT)
    JIS C 60068-2-78:2004 環境試験方法−電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-78:2001,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp
             heat, steady state(IDT)
    JIS C 60068-2-82 環境試験方法−電気・電子−第2-82部 : 試験−試験XW1 : 電気・電子部品のウィ
        スカ試験方法

――――― [JIS C 5201-1 pdf 7] ―――――

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C 5201-1 : 2011
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-82:2007,Environmental testing−Part 2-82: Tests−Test XW1: Whisker
             test methods for electronic and electric components(IDT)
    JIS C 60695-11-5:2007 耐火性試験−電気・電子−第11-5部 : 試験炎−ニードルフレーム(注射針バ
        ーナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針
      注記 対応国際規格 : IEC 60695-11-5:2004,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame
             test method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)
    JIS C 61340-3-1 静電気−第3-1部 : 静電気の影響をシミュレーションする方法−人体モデル(HBM)
        の静電気放電試験波形
      注記 対応国際規格 : IEC 61340-3-1:2006,Electrostatics−Part 3-1: Methods for simulation of
             electrostatic effects−Human body model (HBM)   lectrostatic discharge test waveforms(IDT)
    JIS Z 8115 ディペンダビリティ(信頼性)用語
    JIS Z 8203 国際単位系(SI)及びその使い方
      注記 対応国際規格 : ISO 1000:1992,SI units and recommendations for the use of their multiples and of
             certain other units(IDT)
    IEC 60027 (all parts),Letter symbols to be used in electrical technology
    IEC 60050 (all parts),International Electrotechnical Vocabulary
    IEC 60060-1:1989,High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements
    IEC 60195:1965,Method of measurement of current noise generated in fixed resistors
    IEC 60294:1969,Measurement of the dimensions of a cylindrical component having two axial terminations
    IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes
      注記 対応日本工業規格(日本産業規格) : JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごと
             の検査に対するAQL指標型抜取検査方式(MOD)
    IEC/TR 60440:1973,Method of measurement of non-linearity in resistors
    IEC QC 001002-3:2005,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Rules of
        procedure−Part 3: Approval procedures

2 技術的なデータ

2.1 単位及び記号

  単位,図記号及び文字記号は,できるだけ次の規格の中から引用する。
− JIS C 0617(規格群)
− JIS Z 8203
− IEC 60027(規格群)
− IEC 60050(規格群)又はJIS Z 8115
  これらの規格に規定していない用語が必要となった場合は,上記の規格の原則に従って用いる。

2.2 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語は,次の定義による。
    注記 ここに記載した用語の掲載順は,アルファベット順である。
2.2.1
カテゴリ電力(category dissipation)
  個別規格にてカテゴリ上限温度で規定した電力。個別規格に規定する軽減曲線から求める。

――――― [JIS C 5201-1 pdf 8] ―――――

                                                                                              5
                                                                                  C 5201-1 : 2011
    注記1 抵抗器のカテゴリ電力は,通常ゼロとなる。ここで,カテゴリ上限温度は,素子最高温度と
            なる。
    注記2 関連用語 : 定格電力,カテゴリ上限温度及び軽減曲線
2.2.2
カテゴリ温度範囲(category temperature range)
  設計上,抵抗器を連続的に使用できる周囲温度範囲。カテゴリ下限温度とカテゴリ上限温度とによって
規定する。
    注記 関連用語 : カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度
2.2.3
臨界抵抗値(critical resistance)
  定格電圧が素子最高電圧に等しくなる抵抗値(2.2.18及び2.2.11参照)。
    注記1 周囲温度70 ℃で抵抗器の両端に印加できる最大電圧は,抵抗値が臨界抵抗値よりも低い場
            合には,計算によって算出した定格電圧とし,また,抵抗値が臨界抵抗値に等しいか又は高
            い場合には,素子最高電圧とする。周囲温度70 ℃以外の場合は,軽減曲線によって求めた
            電力から算出した値とする。ただし,素子最高電圧を超えない。
    注記2 関連用語 : 定格電圧及び素子最高電圧
2.2.4
軽減曲線(derating curve)
  カテゴリ上限温度とカテゴリ下限温度との間の周囲温度における最大許容電力を示す曲線。
    注記1 カテゴリ下限温度と定格温度との間では,定格電力を示し,定格温度と素子最高温度との間
            では,素子最高温度でゼロ電力になる直線的な傾斜になる。この傾斜は,周囲への熱放散能
            力など抵抗器の熱特性に依存する。
    注記2 関連用語 : 定格電力,定格温度及び素子最高温度
2.2.5
ファミリ(電子部品の)[family(of electronic components)]
  主として固有の物理的性質を表し,及び/又は規定する機能を満たす電子部品のグループ。
    注記 関連用語 : サブファミリ
2.2.6
等級(grade)
  長寿命用途など,使用上に関する一般特性を示すための用語。
    注記1 この用語“等級”は,長寿命用途などのように,一つ又は幾つかの語を組み合わせて表し,
            一つの文字又は数字によって表してはならない。
    注記2 関連用語 : 安定性クラス
2.2.7
ヒートシンク抵抗器(heat-sink resistor)
  ヒートシンクを介して取り付けるように設計した抵抗器。
    注記 関連用語 : 絶縁形抵抗器
2.2.8
絶縁形抵抗器(insulated resistor)
  耐電圧及び絶縁抵抗試験の要求事項を満足し,高温高湿(定常)試験を,金属の取付板に取り付け,直

――――― [JIS C 5201-1 pdf 9] ―――――

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C 5201-1 : 2011
流電圧を印加して行う抵抗器。
    注記 関連用語 : ヒートシンク抵抗器
2.2.9
絶縁抵抗(insulation resistance)
  抵抗器の端子を一括したものと絶縁された容器及び取付金具との間で測定した抵抗値。
    注記 関連用語 : 絶縁形抵抗器
2.2.10
絶縁電圧(insulation voltage)
  連続動作状態で抵抗器の端子を一括したものと取付金具との間に印加できる最高ピーク電圧。
    注記 関連用語 : 絶縁形抵抗器
2.2.11
素子最高電圧(limiting element voltage)
  抵抗器の端子間に連続して印加できる最高のd.c.又はa.c.電圧の実効値(それは通常,抵抗器の寸法及び
製造技術に依存する。)。
    注記1 この規格での“a.c.電圧の実効値”の場合のピーク電圧は,実効値の1.42倍を超えないこと
            が望ましい。
    注記2 この電圧は,臨界抵抗値以上の抵抗器だけに適用する。
    注記3 関連用語 : 定格電圧及び臨界抵抗値
2.2.12
カテゴリ下限温度[lower category temperature(LCT)]
  設計上,抵抗器を連続的に使用できる最低周囲温度。
    注記 関連用語 : カテゴリ上限温度及びカテゴリ温度範囲
2.2.13
素子最高温度(maximum element temperature)
  使用状態で許容できる抵抗器の任意の点での規定の最高温度。
    注記1 素子最高温度は,定格温度と定格電力印加によって発生する温度上昇との和である。定格温
            度を超えた周囲温度においては,素子最高温度は周囲温度と軽減曲線で規定した定格許容損
            失との和である。
    注記2 関連用語 : 最高表面温度
2.2.14
最高表面温度(maximum surface temperature)
  周囲温度70 ℃で,定格電力を連続して印加したときに許容できる抵抗器表面の最高温度。
    注記 関連用語 : 素子最高温度
2.2.15
公称抵抗値(nominal resistance)
  抵抗器をその抵抗値をもつように設計し,通常,抵抗器に表示する抵抗値。
2.2.16
定格電力(rated dissipation)
  周囲温度70 ℃での耐久性試験で,抵抗値変化が規定値を超えない条件での最高許容電力。
    注記1 定格電力は,周囲への熱放散をもたらす特殊な回路基板材料,特別な導体寸法,ヒートシン

――――― [JIS C 5201-1 pdf 10] ―――――

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