JIS C 5201-2:2014 電子機器用固定抵抗器―第２部：品種別通則：低電力皮膜固定抵抗器

                                                                C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義,製品技術並びに性能分類・・・・[2]
•  3.1 用語及び定義・・・・[2]
•  3.2 製品技術・・・・[3]
•  3.3 抵抗器の用途による性能分類・・・・[3]
•  4 推奨特性・・・・[4]
•  4.1 一般事項・・・・[4]
•  4.2 形状及び寸法・・・・[4]
•  4.3 推奨耐候性カテゴリ・・・・[6]
•  4.4 公称抵抗値・・・・[6]
•  4.5 公称抵抗値の許容差・・・・[6]
•  4.6 定格電力(P70)・・・・[6]
•  4.7 素子最高電圧(Umax)・・・・[7]
•  4.8 絶縁電圧(Uins)・・・・[7]
•  4.9 絶縁抵抗(Rins)・・・・[7]
•  5 試験及び試験の厳しさ・・・・[7]
•  5.1 試料の準備・・・・[7]
•  5.2 試験・・・・[10]
•  6 要求性能・・・・[16]
•  6.1 一般事項・・・・[16]
•  6.2 抵抗値変化の限界・・・・[16]
•  6.3 絶縁抵抗・・・・[17]
•  6.4 温度による抵抗値変化・・・・[18]
•  6.5 温度上昇・・・・[18]
•  6.6 はんだ付け性・・・・[18]
•  6.7 耐炎性・・・・[18]
•  7 表示,包装及び発注情報・・・・[19]
•  7.1 抵抗器本体への表示・・・・[19]
•  7.2 包装・・・・[19]
•  7.3 包装の表示・・・・[19]
•  7.4 発注情報・・・・[19]
•  8 個別規格・・・・[19]
•  8.1 一般事項・・・・[19]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 5201-2 pdf 1] ―――――

C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)

pdf 目次

ページ

•  8.2 個別規格に規定する事項・・・・[19]
•  9 品質評価手順・・・・[21]
•  9.1 一般事項・・・・[21]
•  9.2 定義・・・・[21]
•  9.3 検査ロットの構成・・・・[21]
•  9.4 品質認証(QA)手順・・・・[22]
•  9.5 品質確認検査・・・・[22]
•  9.6 能力認証(CA)手順・・・・[23]
•  9.7 技術認証(TA)手順・・・・[23]
•  9.8 長期保管後の出荷・・・・[23]
•  9.9 出荷ロット成績証明書・・・・[23]
•  9.10 適合証明書(CoC)・・・・[23]
•  附属書A(規定)ジャンパー(0 Ω)抵抗器・・・・[33]
•  附属書B(参考)ラジアル形状にリード線端子を成形した抵抗器の形式記号・・・・[35]
•  附属書C(規定)室温での耐久性・・・・[43]
•  附属書D(参考)文字記号及び略語・・・・[47]
•  附属書E(参考)旧版との相互参照・・・・[50]

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――――― [JIS C 5201-2 pdf 2] ―――――

                                                                C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子
情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
  これによって,JIS C 5201-2:1998は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5201の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5201-1   第1部 : 品目別通則
    JIS C 5201-2   第2部 : 品種別通則 : 低電力皮膜固定抵抗器
    JIS C 5201-2-1 第2部 : ブランク個別規格 : 低電力非巻線固定抵抗器 評価水準E
    JIS C 5201-2-2 第2部 : ブランク個別規格 : 低電力非巻線固定抵抗器 評価水準F
    JIS C 5201-4   第4部 : 品種別通則 : 電力形固定抵抗器
    JIS C 5201-4-1 第4部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器 評価水準E
    JIS C 5201-4-2 第4部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器 評価水準F
    JIS C 5201-4-3 第4部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器,ヒートシンク付き 評価水準H
    JIS C 5201-5   第5部 : 品種別通則 : 精密級固定抵抗器
    JIS C 5201-5-1 第5部 : ブランク個別規格 : 精密級固定抵抗器 評価水準E
    JIS C 5201-5-2 第5部 : ブランク個別規格 : 精密級固定抵抗器 評価水準F
    JIS C 5201-6   第6部 : 品種別通則 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器
    JIS C 5201-6-1 第6部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 同一抵抗値及
        び同一定格電力 評価水準E
    JIS C 5201-6-2 第6部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 異種抵抗値又
        は異種定格電力 評価水準E
    JIS C 5201-8   第8部 : 品種別通則 : 表面実装用固定抵抗器
    JIS C 5201-8-1 第8-1部 : ブランク個別規格 : 一般電子機器向け表面実装用低電力皮膜固定抵抗器,
        製品性能水準G
    JIS C 5201-9   第9部 : 品種別通則 : 個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器
    JIS C 5201-9-1 第9-1部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器−
        評価水準EZ

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 5201-2 : 2014
                                                                          (IEC 60115-2 : 2014)

電子機器用固定抵抗器−第2部 : 品種別通則 : 低電力皮膜固定抵抗器

Fixed resistors for use in electronic equipment- Part 2: Sectional specification: Leaded fixed low power film resistors

序文

  この規格は,2014年に第3版として発行されたIEC 60115-2を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,リード線端子付き低電力皮膜固定抵抗器(以下,抵抗器という。)について規定する。
  これらの抵抗器は,通常,外形形状,外形寸法及び製品技術によって識別している。これらの抵抗器の
抵抗素子は,通常,塗装樹脂で保護している。これらの抵抗器は,リード線端子をもち,主に挿入実装技
術でプリント配線板上に実装することを意図している。
  この規格は,推奨定格及び推奨特性を規定すること,JIS C 5201-1から,これらの抵抗器に対して適切
な品質評価手順,試験及び測定方法を選択すること並びにこの品種の抵抗器の一般的要求性能を提供する
ことを目的とする。
  ジャンパー(0 Ω)抵抗器にこの規格を適用する場合は,附属書Aによる。
    注1)   IS C 5201-1を品種別通則とする電子機器用固定抵抗器の品種別通則では,低電力皮膜固定抵
          抗器の定格電力は,4 W未満である。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60115-2:2014,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 2: Sectional specification:
              Leaded fixed low power film resistors(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 0806-1 自動実装用部品のパッケージング−第1部 : アキシャルリード線端子部品の連続テープ
        によるパッケージング
      注記 対応国際規格 : IEC 60286-1,Packaging of components for automatic handling−Part 1: Tape

――――― [JIS C 5201-2 pdf 4] ―――――

2
C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
             packaging of components with axial leads on continuous tapes(IDT)
    JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
        の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
      注記 対応国際規格 : IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of
             sampling plans for inspection of electronic components and packages(IDT)
    JIS C 5062:2008 抵抗器及びコンデンサの表示記号
      注記 対応国際規格 : IEC 60062:2004,Marking codes for resistors and capacitors(MOD)
    JIS C 5201-1:2011 電子機器用固定抵抗器−第1部 : 品目別通則
      注記 対応国際規格 : IEC 60115-1:2008,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 1: Generic
             specification(MOD)
    JIS C 60068-1:1993 環境試験方法−電気・電子−通則
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-1:2013,Environmental testing−Part 1: General and guidance(IDT)
    JIS C 60068-2-1:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-1部 : 低温(耐寒性)試験方法(試験記号 : 
        A)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-1,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)
    JIS C 60068-2-2:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : 
        B)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-2,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat(IDT)
    JIS C 60068-2-6:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
             (sinusoidal)(IDT)
    JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-20部 : 試験−試験T─端子付部品のはんだ
        付け性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
             methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)
    IEC 60294:2012,Measurement of the dimensions of a cylindrical component with axial terminations
    IEC 60301,Preferred diameters of wire terminations of capacitors and resistors
    IEC 61760-1:2006,Surface mounting technology−Part 1: Standard method for the specification of surface
        mounting components (SMDs)

3 用語及び定義,製品技術並びに性能分類

    注記 この規格で用いる文字記号及び略語を,附属書Dに示している。

3.1 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5201-1の2.2(用語及び定義)によるほか,次による。
3.1.1
アキシャル形状(axial style)
  本体の長手方向の軸に沿って両側に延びるリード線端子をもつ部品の形状。
3.1.2
ラジアル形状(radial style)
  部品の片側から本体の縦又は対角軸に沿ってリード線端子をもつ部品の形状。

――――― [JIS C 5201-2 pdf 5] ―――――

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