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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
表D.0A−文字記号に対する説明及び単位(続き)
記号 記号の説明 単位
r リード線の曲げ内側半径 mm
r 振動試験における変位 mm
R 実測抵抗値
R 抵抗値変化
R/R 事前の測定値に対する抵抗値変化 %
Rcrit 臨界抵抗値 Rcrit=Umax2/P70 Ω
Rins 絶縁抵抗 Ω
Rn 公称抵抗値 Ω
Rres 残留抵抗値 Ω
Rresmax 最大許容残留抵抗値 Ω
RH たとえば試験のための大気条件としての相対湿度 %
R 抵抗値変化
R/R 事前の測定値に対する抵抗値変化 %
Rn 公称抵抗値 Ω
S ラジアル形状にリード線端子を成形した抵抗器の端子間隔 mm
smax 成形したリード線の最大開き mm
ta 耐炎試験のさらし時間 s
tb 耐炎試験のさらし後の燃焼時間 s
texp 一連耐候性試験のさらし時間 h; d
timm 耐溶剤性又ははんだ槽試験での浸せき(漬)時間 s
tload 電気的又は機械的試験での負荷時間 s
ton 周期的負荷試験での印加時間 s; h
toff 周期的負荷試験での停止時間 s; h
T 温度上昇 K
TA 温度急変試験における低温側温度 °C
TB 温度急変試験における高温側温度 °C
Tamb 試験の雰囲気条件としての温度 °C
Tbath 耐溶剤性又ははんだ槽試験での槽温度 °C
Tmax 最高温度,最高素子温度 °C
Tr 定格温度 °C
Tmax 最大許容温度上昇 K
Tmet 素子最高温度。この規格では,UCTとする。 °C
Tsup 温度シーケンス中での最高温度 °C
U 電圧 V
Uins 絶縁電圧 V
Umax 素子最高電圧,又は最大許容電圧 V
Ur 定格電圧Ur=P70 R V
Utest 試験電圧 V
Utest max 最高試験電圧 V
Utest パルス印加試験でのピーク電圧 V
Utest max パルス印加試験でのピーク電圧の上限値 V
W キャリアテープ幅 mm
――――― [JIS C 5201-2 pdf 51] ―――――
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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
D.2 略語
略語は,次の表D.1Aによる。
表D.1A−略語に対する説明
略語 略語の説明
C 炭素皮膜技術(製品技術の記号)
CA 能力認証(Capability approval)
CB 認証機関(Certification body)
CoC 適合証明書(Certificate of conformity)
D 破壊試験(Destructive)
DMR 管理責任者(品質システム管理者)[Designated management representative (quality system manager)]
ESD 静電気放電(Electrostatic discharge)
G メタルグレーズ技術(製品技術の記号)
HBM 人体モデル(Human body model),静電気放電試験において静電容量と抵抗値とによって表す。
IECQ CB IECQ認証機関(IECQ Certification body)
IL 検査水準(Inspection level)
IPA イソプロピルアルコール,イソプロパノール(Cas.No.: 67-63-0)(Isopropyl alcohol, Isopropanol)
L リード線端子をラジアル成形した横形の抵抗器のための型式記号を表す接尾語
LCT カテゴリ下限温度(Lower category temperature)
MET 素子最高温度(Maximum element temperature)
ND 非破壊試験(Non destructive)
NSI 国内監督検査機関(National supervising inspectorate)
注記 IECQ 01[IEC電子部品品質認証システム(IECQスキーム)−基本ルール]は,2007年12
月版で用語“監督検査機関”を“IECQ認証機関(IECQ-CB)”に改正している。
ONS 国内監督検査機関[Organisme National de Surveillance (National supervising inspectorate)]
注記 この用語は,National Supervising Inspectorate(NSI)が使われる以前の仕様書で使われていた。
QA 品質認証(Qualification approval)
RA アキシャルリード線端子の抵抗器を表す接頭語
RL ラジアル形状にリード線端子を成形した横形形状の抵抗器を表す接頭語
RU ラジアル形状にリード線端子を成形した縦形形状の抵抗器を表す接頭語
SPC 統計的工程管理(Statistical process control)
TA 技術認証(Technology approval)
TADD 技術認証申請書(Technology approval declaration document)
TAS 技術認証スケジュール(Technology approval schedule)
TC 温度係数(抵抗値に限らない。)(Temperature coefficient)
TCR 抵抗温度係数(Temperature coefficient of resistance)
U リード線端子をラジアル成形した縦形の抵抗器を表す接尾語
UCT カテゴリ上限温度(Upper category temperature)
X 酸化金属皮膜技術(製品技術の記号)
――――― [JIS C 5201-2 pdf 52] ―――――
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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
附属書E
(参考)
旧版との相互参照
この品種別通則は新しい構成となった。次の表は,この規格の旧版の全ての構成に対する相互参照であ
る。
JIS C 5201-2:1998 この規格の 注記
(IEC 60115-2:1982 第2版) 箇条/細分箇条
箇条/細分箇条
1 − 主題は箇条1,箇条2及び箇条8に記載した。
1.1 1 旧版の適用範囲及び目的は箇条1に統合した。
1.2
1.3 2
1.4 8
8.1
1.4.1 8.2.1
8.2.2
1.4.2 8.2.15
1.4.3 8.2.2
1.4.4 8.2.38.2.9
1.4.4.1 8.2.4
1.4.5 8.2.13
2 − 主題は,箇条4,箇条5及び箇条6に記載した。
2.1 − 主題は,箇条4及び箇条6に記載した。
2.1.1 4.3
2.1.2 6.4 旧版の表Iは,表4として引き継ぐ。
2.1.3 6.2 旧版の表IIは,表3として引き継ぐ。
2.2 4
2.2.1 4.4
2.2.2 4.5
2.2.3 4.6 番号のない旧版の図は,図4として引き継ぐ。
2.2.4 4.7
2.2.5 4.8
2.2.6 4.9
2.3 5
2.3.1 5.1.1
2.3.2 5.2.11
2.3.3 5.2.12.5
2.3.4 5.2.4
3 9
3.1 9.2.2
3.2 9.4 旧版の表IIIは,表5として引き継ぐ。
3.3 9.5
3.3.1 9.3
3.3.2 9.5
3.3.3 9.2.3 旧版の表IVA及び表IVBは,表6に含む。
――――― [JIS C 5201-2 pdf 53] ―――――
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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
参考文献 JIS C 0806-2 自動実装部品の包装−第2部 : ラジアルリード線端子部品の連続テープによる包
装
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
JIS C 60068-2-13 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
JIS C 60068-2-14 環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
JIS C 60068-2-30 環境試験方法−電気・電子−第2-30部 : 温湿度サイクル(12+12時間サイ
クル)試験方法(試験記号 : Db)
JIS C 60068-2-45 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
JIS C 60068-2-78 環境試験方法−電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法
JIS C 60695-11-5 耐火性試験−電気・電子−第11-5部 : 試験炎−ニードルフレーム(注射針
バーナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針
IEC 60027-1,Letter symbols to be used in electrical technology−Part 1: General
IEC 60060-1,High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements
IEC 60195,Method of measurement of current noise generated in fixed resistors
IEC 60440,Method of measurement of non-linearity in resistors
IEC 60717,Method for the determination of the space required by capacitors and resistors with
unidirectional terminations
IEC 61192-3,Workmanship requirements for soldered electronic assemblies−Part 3: Through-hole
mount assemblies
IECQ 03-3,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ System)−Rules of
Procedure −Part 3: IECQ Approved Component Products, Related Materials & Assemblies
Scheme
IECQ 03-3-1,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ System)−Rules of
Procedure −Part 3-1: IECQ Approved Component Products, Related Materials & Assemblies
Scheme, IECQ Approved Componen−Technology Certification (IECQ AC-TC)
IEC 80000 (all parts),Quantities and units
JIS C 5201-2:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-2:2014(IDT)
JIS C 5201-2:2014の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-2:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0806-1:2020
- 自動実装部品の包装―第1部:アキシャルリード線端子部品の連続テープによる包装