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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
注記 抵抗器本体の内部,又は抵抗器本体の外側の一方若しくは両方でリード線端子を成形してもよい。
3.1.3A
絶縁形抵抗器(insulated resistor)
絶縁電圧及び絶縁抵抗の規定がある,かつ,この規格に規定する適切な試験によって検証した,製造業
者が絶縁形と宣言した抵抗器。
注記 絶縁形とするには,樹脂塗装などで抵抗素子の保護があっても,絶縁特性の適切な評価が必要
である。
3.2 製品技術
3.2.1 金属皮膜技術
金属皮膜抵抗器の抵抗素子は,セラミック支持体(core)又は基板(substrate)上に均質に薄く堆積した
金属合金皮膜である。
このような金属合金の代表例は,通常,スパッタリング又は蒸着によって堆積される様々な組成比の,
ニッケル−クロム合金及び窒化タンタルである。金属膜層の代表的な厚さは,50 nm4 μmである。
金属皮膜技術は,その材料の選択及び皮膜形成条件によって温度安定性に関して,特定のレベルを目標
とすることができる。
抵抗素子の製品技術の種類を記号で表す場合には,金属皮膜を“M”とする。
注記 “金属皮膜”の一般的な同義語として,主に,表面実装用抵抗器に用いている“薄膜”がある。
3.2.2 メタルグレーズ(金属混合皮膜)技術
メタルグレーズ(金属混合皮膜)抵抗器の抵抗素子は,セラミック支持体又は基板上に堆積させた金属
系混合皮膜の厚膜である。このメタルグレーズは,通常,ガラスの微粉末と酸化ルテニウム(貴金属)又
は窒化タンタル(卑金属)との混合ペーストを用い,円筒形の支持体の表面へのコーティング又は平らな
基板上へ印刷・焼成することによって形成する。メタルグレーズ層の典型的な厚さは,3 μm20 μmの範
囲内である。
メタルグレーズ技術は,主に,材料の選択によって温度安定性に関して幾つかの特定のレベルを目標と
することができる。
抵抗素子の製品技術の種類を記号で表す場合には,メタルグレーズを“G”とする。
注記 “メタルグレーズ”の一般的な同義語として,主に,フラットチップの表面実装用抵抗器に用
いている“厚膜”がある。
3.2.3 酸化金属皮膜技術
酸化金属皮膜抵抗器の抵抗素子は,通常,酸化すずにアンチモンを添加した皮膜である。
酸化金属皮膜は,限られた温度安定性での幾つかの特定のレベルを目標とすることができる。
抵抗素子の製品技術の種類を記号で表す場合には,酸化金属皮膜を“X”とする。
3.2.4 炭素皮膜技術
炭素皮膜抵抗器の抵抗素子は,熱分解によってセラミック支持体又は基板上に形成した均質な炭素の皮
膜である。
炭素皮膜抵抗器の温度安定性は,制御可能な値をもたず,一般的には実測抵抗値に依存する。
抵抗素子の製品技術の種類を記号で表す場合には,炭素皮膜を“C”とする。
3.3 抵抗器の用途による性能分類
使用者が,意図する製品用途に応じて抵抗器の特性を選択することができるように,抵抗器の性能分類
を導入する。
――――― [JIS C 5201-2 pdf 6] ―――――
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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
この規格では,抵抗器を搭載する機器(最終製品)の要求する機能,性能及び信頼性の特性の違いを反
映するように,次の二つの水準を設定して,抵抗器の適切な検査及び試験計画を適用できるようにした。
これらの水準間で,用途が重複する可能性があることに注意する。
a) 水準G 水準Gは,一般的な電子機器用途の抵抗器が対象であり,通常,穏やかな環境条件の下で用
いる。ここでの主要な要求は機能である。適用例は,民生用機器及び電気通信ユーザ端末である。
b) 水準P 水準Pは,次に示す基準で一つ以上に該当する高性能電子機器の用途に用いる。
− 連続動作
− 厳しい環境での使用
− 長寿命
水準Pの適用例は,業務用機器,電気通信伝送装置,産業用制御装置及び測定機器並びに自動車用
機器(ほとんどが客室以外で動作)である。
抵抗器の性能は,特に指定がない場合には,水準Gとする。水準Pは,信頼性が確立している抵抗器の
品質認証を目的とする個別規格に規定することが,適切である。
一つの個別規格で用いる水準は,一つだけでなければならない。
4 推奨特性
4.1 一般事項
個別規格に規定する数値は,4.2又は4.9の値を使用することが望ましい。
4.2 形状及び寸法
アキシャルリード線端子付き抵抗器の形状及び寸法を,図1に示す。推奨形状及びそれぞれの寸法は,
表1に示す。アキシャルリード線端子付き抵抗器の形式記号は,RAで始める。
注記1 JIS C 5201-1の附属書JA(形名及び表示)に,形式記号(形名ともいう。)の構成が記載さ
れている。
L D
l l d
d 抵抗器のリード線径
L 抵抗器の本体長さ
D 抵抗器の本体径
l 抵抗器のリード線の長さ
図1−アキシャルリード線端子付き抵抗器の形状及び寸法
――――― [JIS C 5201-2 pdf 7] ―――――
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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
表1−アキシャルリード線端子付き抵抗器の推奨形状
単位 mm
形式記号a) 寸法
本体径 本体長さ リード線径 リード線の長さlの
D c) L b) d d) 最小値e)
0
RA0204 2 −7.0 4±1.0 0.5 21
0.5
+ +0.2
RA0207 2 0 7−
0.2 0.6 21
0
− +0.2
RA0309 3 5.0 9−
5.2 0.7 21
0
− +0.2
−
RA0411 4 0.1 11 5.3 0.7 21
+0.2
− +0.2
−
RA0414 4 5.0 14 0.4 0.8 21
0.5
+
− 0.2
+
−
RA0617 6 1.0 17 0.4 0.8 21
+0.5 +0.2
−
RA0922 9−3.0 220.5 0.8 21
注a) 形式記号の3文字目は,3.2に規定する製品技術の文字記号 : M=金属皮膜,G=メタルグレーズ,C=
炭素皮膜,X=酸化金属皮膜とする。完全な形式記号の表示例には,RAM0204,RAX0414などがある。
b) 抵抗器の本体長さLは,IEC 60294の規定に従って測定する(5.2.1参照)。
c) 抵抗器の本体径Dは,IEC 60294の規定に従って測定する。
d) リード線径の公称値dは,許容差とともにIEC 60301の規定に従う。
e) リード線の長さlの最小値は,JIS C 0806-1によるテーピング包装内でのテープで固定しないリード線の
長さだけに適用する。
個別規格では,図2に示す寸法c又は寸法Lcを用いて,抵抗器のリード線端子に延びる保護塗装樹脂の
はみ出し寸法の許容長さを規定してもよい。
c c Lc
b) 保護塗装樹脂のはみ出しを含む本体長さ(Lc)
a) リード線上に延びた保護塗装樹脂のはみ出し(c)
c リード線上に延びた保護塗装樹脂のはみ出し
Lc 保護塗装樹脂のはみ出しを含む本体長さ
図2−アキシャルリード線端子付き抵抗器のはみ出し寸法の規定方法
保護塗装樹脂のはみ出しの長さを示す図2 a)の寸法cは,IEC 60294:2012の箇条4(Coating material
extending onto wire terminations)に従って,保護塗装樹脂のはみ出し寸法の最大値に対応するゲージ板によ
って測定する。保護塗装樹脂のはみ出しを含む本体長さを示す図2 b)の寸法Lcが必要な場合は,個別規格
に測定方法を規定する。
リード線間隔を示す図3の寸法Sは,抵抗器本体の軸から90°曲げたリード線の中心の最短距離であっ
て,形式記号及びそれに対応する製品の実際の寸法に関連する。また,リード線間隔Sは,抵抗器の実装
工程で指定のリード線曲げ加工(フォーミング)を実施したとき,抵抗器本体の側面をプリント配線板上
に置いて実装可能なプリント配線板の孔のグリッド寸法G(孔間隔)の最小値として定義する。
注記2 抵抗器のリード線を曲げ加工した図3は,リード線曲げ加工済の抵抗器が入手可能であるこ
とを示すものではない。
――――― [JIS C 5201-2 pdf 8] ―――――
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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
S
注記 寸法Sは,曲げ加工したリード線の中心線の距離である。
図3−アキシャルリード線端子付き抵抗器の曲げ加工したリード線距離
ラジアルリード線端子付き抵抗器のように,抵抗器の形式記号が表1以外の場合には,個別規格は,抵
抗器について適切に説明する寸法情報を記載しなければならない。
4.3 推奨耐候性カテゴリ
この規格に規定する抵抗器は,JIS C 60068-1の附属書A(部品の耐候性カテゴリー)に規定する一般原
則に基づく耐候性カテゴリに分類する。
カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。
− カテゴリ下限温度(LCT) : −65 ℃,−55 ℃,−40 ℃,−25 ℃及び−10 ℃
− カテゴリ上限温度(UCT) : +85 ℃,+100 ℃,+125 ℃,+155 ℃,+175 ℃及び+200 ℃
− 高温高湿(定常)の試験期間 : 10日,21日及び56日
低温及び高温の試験温度は,カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
4.4 公称抵抗値
公称抵抗値は,JIS C 5201-1の2.3.2(公称抵抗値の推奨値)による。
4.5 公称抵抗値の許容差
公称抵抗値の許容差の推奨値は,次による。
±10 %,±5 %,±2 %,±1 %,±0.5 %,±0.25 %,±0.1 %,±0.05 %,±0.02 %及び±0.01 %
4.6 定格電力(P70)
抵抗器を基板に取り付けた状態の,周囲温度70 ℃での定格電力P70の推奨値は,次による。
0.063 W,0.125 W,0.25 W,0.5 W,1 W及び2 W
個別規格では,定格電力を適用する条件を規定しなければならない。
定格温度以上で必要な電力軽減を示す一般的な軽減曲線の例を,図4に示す。
――――― [JIS C 5201-2 pdf 9] ―――――
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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
100 % 0の比
定格電力 P
7 P70
0
LCT 70 ℃ UCT=MET
周囲温度Tamb
P70 70 ℃での定格電力
LCT カテゴリ下限温度
UCT カテゴリ上限温度
MET 素子最高温度
図4−軽減曲線
試験手順で使用するカテゴリ上限温度(UCT)は,素子最高温度(MET)に基づくことが望ましい。
曲線上の全ての終点(端点)及び折れ点は,試験によって検証しなければならない。
4.7 素子最高電圧(Umax)
直流又は交流(実効値)での素子最高電圧Umaxの推奨値は,次による。
50 V,100 V,200 V,300 V,500 V,750 V及び1 000 V
4.8 絶縁電圧(Uins)
絶縁形抵抗器における直流又は交流(ピーク値)の絶縁電圧Uinsの推奨値は,次による。
75 V,150 V,300 V,500 V,750 V,1 100 V及び1 500 V
絶縁電圧は,連続的に印加可能な電圧以上とし,Uins≧1.42Umaxとする。
4.9 絶縁抵抗(Rins)
絶縁形抵抗器の絶縁抵抗Rinsは,1 GΩ以上であることが望ましい。
注記 試験後の絶縁抵抗Rinsに対する要求事項は,6.3による。
5 試験及び試験の厳しさ
5.1 試料の準備
5.1.1 乾燥
乾燥は,JIS C 5201-1の4.3(乾燥)に規定する手順Iによる。
5.1.2 試料の試験架台への取付け
取付けは,JIS C 5201-1の4.25.1.4(取付け)による。
試料の端子を,適切なクリップによって絶縁物の試験架台に固定する。全ての試料は,重ならないよう
に水平に取り付ける。試料の軸間距離は,試料直径の7倍以上とする。
――――― [JIS C 5201-2 pdf 10] ―――――
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JIS C 5201-2:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-2:2014(IDT)
JIS C 5201-2:2014の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-2:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0806-1:2020
- 自動実装部品の包装―第1部:アキシャルリード線端子部品の連続テープによる包装