JIS C 5201-1:2011 電子機器用固定抵抗器―第1部:品目別通則 | ページ 18

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C 5201-1 : 2011
C5
8
附属書JD
2
20
(参考)
1-
1 : 2
JISと対応国際規格との対比表
011
JIS C 5201-1:2011 電子機器用固定抵抗器−第1部 : 品目別通則 IEC 60115-1:2008,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 1: Generic
specification
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差異
国際規格 ごとの評価及びその内容 の理由及び今後の対策
番号
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 の評価
1 一般事 1.2引用規格 1.2 IEC 60068-2-1:1994を引 変更 IEC 60068-2-1の最新版への対次回IEC規格改正時に対応を提案
項 用 応 する。
IEC 60068-2-2:1994を引 変更 IEC 60068-2-2の最新版への対
用 応
4 試験及 4.23.2高温 4.23.2 試験Baを適用 変更 試験Baは廃止されたので,試 次回IEC規格改正時に対応を提案
び測定手 験Bbを適用した。 する。
順 4.23.4低温 4.23.4 試験Aaを適用 変更 試験Aaは廃止されたので,試
験Abを適用した。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60115-1:2008,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 変更·················· 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD··············· 国際規格を修正している。

JIS C 5201-1:2011の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60115-1:2008(MOD)

JIS C 5201-1:2011の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5201-1:2011の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISC0806:1995
電子部品のテーピング(表面実装部品)
JISC5005-2:2010
品質評価システム―第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
JISC5062:2008
抵抗器及びコンデンサの表示記号
JISC5063:1997
抵抗器及びコンデンサの標準数列
JISC60068-2-1:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
JISC60068-2-2:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
JISC60068-2-20:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
JISC60068-2-21:2009
環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
JISC60068-2-27:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
JISC60068-2-30:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
JISC60068-2-6:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
JISC60068-2-69:2019
環境試験方法―電気・電子―第2-69部:試験―試験Te/Tc:電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法(平衡法)
JISC60068-2-82:2009
環境試験方法―電気・電子―第2-82部:試験―試験XW1:電気・電子部品のウィスカ試験方法
JISC60068-2-82:2021
環境試験方法―電気・電子―第2-82部:試験―試験Xw1:電気・電子部品のウィスカ試験方法
JISC61340-3-1:2010
静電気―第3-1部:静電気の影響をシミュレーションする方法―人体モデル(HBM)の静電気放電試験波形
JISZ8115:2019
ディペンダビリティ(総合信頼性)用語
JISZ8203:1964
単位記号
JISZ8203:2000
国際単位系(SI)及びその使い方