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C 5201-1 : 2011
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附属書JD
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(参考)
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1 : 2
JISと対応国際規格との対比表
011
JIS C 5201-1:2011 電子機器用固定抵抗器−第1部 : 品目別通則 IEC 60115-1:2008,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 1: Generic
specification
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差異
国際規格 ごとの評価及びその内容 の理由及び今後の対策
番号
箇条番号 内容 箇条番号 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 の評価
1 一般事 1.2引用規格 1.2 IEC 60068-2-1:1994を引 変更 IEC 60068-2-1の最新版への対次回IEC規格改正時に対応を提案
項 用 応 する。
IEC 60068-2-2:1994を引 変更 IEC 60068-2-2の最新版への対
用 応
4 試験及 4.23.2高温 4.23.2 試験Baを適用 変更 試験Baは廃止されたので,試 次回IEC規格改正時に対応を提案
び測定手 験Bbを適用した。 する。
順 4.23.4低温 4.23.4 試験Aaを適用 変更 試験Aaは廃止されたので,試
験Abを適用した。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60115-1:2008,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 変更·················· 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD··············· 国際規格を修正している。
JIS C 5201-1:2011の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-1:2008(MOD)
JIS C 5201-1:2011の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-1:2011の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0806:1995
- 電子部品のテーピング(表面実装部品)
- JISC5005-2:2010
- 品質評価システム―第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
- JISC5062:2008
- 抵抗器及びコンデンサの表示記号
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-21:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
- JISC60068-2-27:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC60068-2-69:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第2-69部:試験―試験Te/Tc:電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法(平衡法)
- JISC60068-2-82:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第2-82部:試験―試験XW1:電気・電子部品のウィスカ試験方法
- JISC60068-2-82:2021
- 環境試験方法―電気・電子―第2-82部:試験―試験Xw1:電気・電子部品のウィスカ試験方法
- JISC61340-3-1:2010
- 静電気―第3-1部:静電気の影響をシミュレーションする方法―人体モデル(HBM)の静電気放電試験波形
- JISZ8115:2019
- ディペンダビリティ(総合信頼性)用語
- JISZ8203:1964
- 単位記号
- JISZ8203:2000
- 国際単位系(SI)及びその使い方