JIS C 5201-1:2011 電子機器用固定抵抗器―第1部:品目別通則 | ページ 17

                                                                                             77
C 5201-1 : 2011
JC.8 測定上の注意事項
JC.8.1 機器の構成上の注意事項
JC.8.1.1 遮蔽
機器の構成には,良好な遮蔽を施す。
入力回路は,極めて低レベルの信号であるので,入力回路の全ての部品及び端子を遮蔽することが必要
である。大信号を出す部品を入力回路近傍に置いてはならない。Rmは,電源回路に適切なインピーダンス
をもたせるために挿入するもので,RXに近い値が望ましい。
JC.8.1.2 入力インピーダンス
600 Hz1 600 Hzの周波数範囲で,4 MΩを超えなければならない。
JC.8.1.3 増幅器
増幅器は,測定中その電圧増幅度を一定に保たなければならない。また,直線性の良好なことが必要で
あり,かつ,雑音波形のピーク値(実効値の約5倍)に対しても飽和しないよう,十分に余裕をみておか
なければならない。第1増幅器は,特に遮蔽を十分にし,誘導をできるだけ少なくすることが必要である。
そのため,1点接地にすることが望ましい。さらに,測定器の間を接続する導線は,できるだけ短くし,
シールド線を用いることが望ましい。また,外部からの機械的振動のため,マイクロホニック雑音を発生
しないように,適切な防振処置を講じなければならない。
JC.8.2 機器使用上の注意事項
JC.8.2.1 配置
試験装置は,強力な電磁場及び電磁放射源からの影響を受けないように配置する。強い振動及び大きな
音源からも離して置く。
JC.8.2.2 周囲温度
試験装置及び供試抵抗器は,25 ℃±5 ℃,60 %RH未満で24時間以上安定させる。
JC.8.3 測定器の性能検査
(省略)
JC.8.3.1 換算
測定値(dB)をμV/Vに換算する必要がある場合には,図JC.3による。
JC.8.3.2 読替え
指示計の振れ,指針などの表現は,デジタル表示のものの場合には,全て表示を読み替える。

――――― [JIS C 5201-1 pdf 81] ―――――

78
C 5201-1 : 2011
表JC.1−試験電圧表

――――― [JIS C 5201-1 pdf 82] ―――――

                                                                                             79
C 5201-1 : 2011
表JC.1−試験電圧表(続き)

――――― [JIS C 5201-1 pdf 83] ―――――

80
C 5201-1 : 2011
表JC.2−測定器雑音の補正係数

――――― [JIS C 5201-1 pdf 84] ―――――

                                                                                             81
C 5201-1 : 2011
図JC.3−測定値の換算図
参考文献 JIS Z 8601 標準数
注記 対応国際規格 : ISO 3,Preferred numbers−Series of preferred numbers(MOD)
IEC 61760-1:2006,Surface mounting technology−Part 1: Standard method for the specification of
surface mounting components (SMDs)

――――― [JIS C 5201-1 pdf 85] ―――――

次のページ PDF 86

JIS C 5201-1:2011の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60115-1:2008(MOD)

JIS C 5201-1:2011の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5201-1:2011の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISC0806:1995
電子部品のテーピング(表面実装部品)
JISC5005-2:2010
品質評価システム―第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
JISC5062:2008
抵抗器及びコンデンサの表示記号
JISC5063:1997
抵抗器及びコンデンサの標準数列
JISC60068-2-1:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
JISC60068-2-2:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
JISC60068-2-20:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
JISC60068-2-21:2009
環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
JISC60068-2-27:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
JISC60068-2-30:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
JISC60068-2-6:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
JISC60068-2-69:2019
環境試験方法―電気・電子―第2-69部:試験―試験Te/Tc:電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法(平衡法)
JISC60068-2-82:2009
環境試験方法―電気・電子―第2-82部:試験―試験XW1:電気・電子部品のウィスカ試験方法
JISC60068-2-82:2021
環境試験方法―電気・電子―第2-82部:試験―試験Xw1:電気・電子部品のウィスカ試験方法
JISC61340-3-1:2010
静電気―第3-1部:静電気の影響をシミュレーションする方法―人体モデル(HBM)の静電気放電試験波形
JISZ8115:2019
ディペンダビリティ(総合信頼性)用語
JISZ8203:1964
単位記号
JISZ8203:2000
国際単位系(SI)及びその使い方