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C 5201-5-1 : 1998
第2章 検査の要求事項
2. 検査の要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証のための手順は,JIS C 5201-5の3.2(品質認証)による。
2.1.2 品質確認検査のための試験計画(表II)には,サンプリング,周期,厳しさ及び要求事項を規定す
る。検査ロットの構成は,JIS C 5201-5の3.3.1(検査ロットの構成)による。
備考 乾燥が要求される場合には,JIS C 5201-1の4.3(乾燥)の手順Iによる。
表II 品質確認検査のための試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5201-1による。ただし,抵抗値変化の要求事項は,JIS
C 5201-5の表I及び表IIから適切に選択する。
2. 検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015から選択する。
3. この表で,
参考 表中の要求性能の欄の ”%R” のRは,各試験の試験前の抵抗値を示す。
項目番号及び試験 D 試験条件 IL AQL 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
群A検査
(ロットごと)
副群A1 ND S-4 1.0%
4.4.1 外観 4.4.1による。
表示が明りょうで,この規
格の1.4を満足する。
副群A2 ND S-4 1.0%
4.4.2 寸法(ゲージ法) .... mmのゲージ板を使用(適 この規格の表Iの規定に
用する場合) よる。
4.5 抵抗値 4.5.2による。
群B検査
(ロットごと)
副群B1 ND S-3 1.0%
4.7 耐電圧(絶縁形抵抗器だ 方法 : ... 絶縁破壊又はフラッシュ
けに適用) オーバがない。
――――― [JIS C 5201-5-1 pdf 6] ―――――
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C 5201-5-1 : 1998
項目番号及び試験 D 試験条件 IL AQL 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
副群B2 D S-3 2.5%
4.17 はんだ付け性 エージングなし。 端子は,良好にはんだのぬ
方法 : ... れができるめっきでなけ
ればならない。
又は,適用する場合は,は
んだの流れは,. . . 秒間以
内とする。
4.13 過負荷
外観 外観の損傷がなく,表示が
明りょうである。
抵抗値 圀
(... %R+...
副群B3 ND S-3 2.5%
4.8.4.2抵抗温度係数 この試験は,抵抗温度係数が, 懿 ... 10−6/℃
±50×10−6/℃未満を,要求さ
れる場合だけに適用する。
20℃70℃20℃の1サイ
クルだけ。
注* JIS C 5201-5の2.3.4(過負荷)を参照。
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
群C検査
(定期的)
副群C1A D 3 10
副群C1の試料の半分
4.16 端子強度 適用に応じて引張り,曲げ及
びねじり試験
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 圀
(... %R+...
4.18 はんだ耐熱性 方法 : . . .
外観 外観の損傷がなく,表示が
明りょうである。
抵抗値 圀
(... %R+...
副群C1B D 3 10
副群C1の試料の残り半分
4.19 温度急変 カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 圀
(... %R+...
――――― [JIS C 5201-5-1 pdf 7] ―――――
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C 5201-5-1 : 1998
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
4.20 バンプ(又は4.21衝撃) 取付方法 :
この規格の1.1による。
ピーク加速度 : 400m/s2
バンプ回数 : 4 000
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 圀
(... %R+...
4.21 衝撃(又は4.20バンプ) 取付方法 :
この規格の1.1による。
ピーク加速度 : 500m/s2
作用時間 : 11ms
パルス波形 : 正弦半波
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 圀
(... %R+...
4.22 振動(正弦波) 取付方法 :
この規格の1.1による。
掃引耐久試験
振動数範囲 :
... Hz... Hz
(JIS C 5201-5の2.3.2参照)
振幅 : 0.75mm又は加速度
98m/s2のどちらか緩い方
総試験時間 : 6h
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 圀
(... %R+...
副群C1 D 3 20 1
副群C1A及び副群C1Bの全試
料
4.23 一連耐候性
− 高温(耐熱性)
− 温湿度サイクル(12+12
時間サイクル)の最初のサ
イクル
− 低温(耐寒性)
− 減圧 8kPa
− 温湿度サイクル(12+12
時間サイクル)の残りのサ
イクル
− 直流負荷(非巻線形だけ)
外観 外観の損傷がなく,表示が
明りょうである。
抵抗値 圀
(... %R+...
絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だ R≧100M 圀
けに適用)
――――― [JIS C 5201-5-1 pdf 8] ―――――
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C 5201-5-1 : 1998
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
副群C2 D 3 20 1
4.25.1 70℃での耐久性 試験時間 : 1 000h
48h, 500h及び1 000hでの検
査 :
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 圀
(... %R+...
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だ R≧1G 圀
けに適用)
個別規格に要求がある場合 12 20 −
には,8 000hまで延長する。
2 000h,4 000h及び8 000hで
の検査 :
抵抗値 圀
(... %R+...
(結果は,情報用としてだ
けに扱う)
副群C3 ND 3 20 1
R
≦±... %又は
4.8 温度による抵抗値変化 カテゴリ下限温度/20℃
R
懿 ... 10−6/℃
R
≦±... %又は
20℃/カテゴリ上限温度
R
懿 ... 10−6/℃
群D検査
(定期的)
副群D1 D 12 20 1
4.24 高温高湿(定常) 1) 4.24.2.1
第1のグループ 試料数6
第2のグループ 試料数7
第3のグループ 試料数7
2) 4.24.2.2
第1のグループ 試料数10
第2のグループ 試料数10
外観 外観の損傷がなく,表示が
明りょうである。
抵抗値 圀
(... %R+...
絶縁抵抗(絶縁抵抗器だけ R≧100M 圀
に適用)
副群D2 D 36 20 1
4.4.3 寸法(詳細) この規格の表Iによる。
4.25.3 カテゴリ上限温度での 試験時間 : 1 000h
耐久性 48h,500h及び1 000hでの検査 :
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 圀
(... %R+...
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だ R≧1G 圀
けに適用)
――――― [JIS C 5201-5-1 pdf 9] ―――――
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C 5201-5-1 : 1998
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
副群D3 D 36 20 1
4.25 他の温度での耐久性(適 [この副群は,JIS C 5201-5
用する場合) の2.2.3(定格電力)に規定す
る軽減曲線と異なる軽減曲
線を個別規格で要求する場
合だけに適用]
試験時間 : 1 000h
48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 刀 圀
(... %R+...
(副群C2と同じ)
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だ R≧1G 圀
けに適用)
副群D4 D 36 13 1
4.9 リアクタンス(適用する L/R≦... s又は
場合) L≦... mH
4.15 抵抗体強度(適用する場 JIS C 5201-5の2.3.5(抵抗体 破損又はクラックがない。
合) 強度)による。
――――― [JIS C 5201-5-1 pdf 10] ―――――
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JIS C 5201-5-1:1998の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-5-1:1983(MOD)
JIS C 5201-5-1:1998の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-5-1:1998の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5201-1:2011
- 電子機器用固定抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5201-5:1998
- 電子機器用固定抵抗器―第5部:品種別通則:精密級固定抵抗器
- JISZ9015:1980
- 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)