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C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
備考 抵抗器及び包装への表示の詳細は,個別規格による。
1.5 発注情報
この規格を適用する抵抗器を発注する場合には,少なくとも次の情報を明確に示すか,
又は記号の形で示す。
a) 素子定格抵抗値
b) 定格抵抗値の許容差
c) 個別規格の番号及び発効年又は版並びに形式
1.6 出荷対象ロットの成績証明書
要求する/要求しない
1.7 追加事項
(検査目的以外のもの)1.8 品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合にだけ規定する。
第2章 検査の要求事項
2. 検査の要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証のための手順は,JIS C 5201-6の3.2(品質認証)による。
2.1.2 品質確認検査のための試験計画(表II)には,抜取方法,周期,厳しさ及び要求事項を規定する。
検査ロットの構成は,JIS C 5201-6の3.3.1(検査ロットの構成)による。
備考 乾燥が要求される場合には,JIS C 5201-1の4.3(乾燥)の手順Iによる。
表II 品質確認検査の試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5201-1による。ただし,抵抗値変化の要求事項は,JIS
C 5201-6の表I及び表IIから適切に選択する。
2. 検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015から選択する。
3. この表で :
参考 表中の要求性能欄の “...%R” のRは,各試験の試験前の抵抗値を示す。
――――― [JIS C 5201-6-1 pdf 6] ―――――
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C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
項目番号及び試験 D 試験条件 IL AQL 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
群A検査
(ロットごと)
副群A1 ND S-4 1.0%
4.4.1 外観 4.4.1による。
表示が明りょうで,この
規格の1.4を満足する。
副群A2 ND S-4 1.0%
4.4.2 寸法 ...mmのゲージ板を使用 この規格の表Iの規定に
(ゲージ法) よる。
4.5 抵抗値 4.5.2による。
群B検査
(ロットごと)
副群B1 ND S-3 1.0%
4.7 耐電圧(絶縁形抵 方法 : ... 絶縁破壊又はフラッシュ
抗器だけに適用) オーバがない。
副群B2 D S-3 2.5%
4.17 はんだ付け性 エージングなし 端子のはんだのぬれは良
方法 : ... 好でなければならない。
又ははんだ小球法を適用
する場合は,はんだの流
れは...秒間以内でなけれ
ばならない。
4.19 温度急変 カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
副群B3 ND S-3 2.5%
4.8.4.2 抵抗温度係数 この試験は抵抗温度係数 懿 ...10-6/℃
が±50×10-6/℃未満を要
求される場合だけに適用
する。20℃70℃20℃
の1サイクルだけ。
――――― [JIS C 5201-6-1 pdf 7] ―――――
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C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
表II 品質確認検査の試験計画 (続き)
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び合 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
群C検査
(定期的)
副群C1A D 3 5
副群C1の試料の半分
4.16 端子強度 JIS C 5201-6の2.3.9
(端子強度)を参照
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
4.18 はんだ耐熱性 方法 : ...
外観 外観の損傷がなく,表示
は明りょうである。
抵抗値 圀
(...%R+...
4.8 温度による抵抗 カテゴリ下限温度/20℃ R
≦...%又は
値変化 R
懿 ...10-6/℃
20℃/カテゴリ上限温度 R
≦...%又は
R
懿 ...10-6/℃
4.13 過負荷 JIS C 5201-6の2.3.4
(過負荷)を参照
外観 外観の損傷がなく,表示
は明りょうである。
抵抗値 圀
(...%R+...
副群C1B D 3 5
副群C1の試料の残り
半分
4.19 温度急変 カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
4.22 振動(正弦波) 取付方法 :
この規格の1.1を参照
掃引耐久試験
振動数範囲 : 10Hz
500Hz
振幅 : 0.75mm
又は加速度
98m/s2(どちら
か緩い方)
総試験時間 : 6h
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
副群C1 D 3 10 1
副群C1A及びC1Bの
全試料
4.23 一連耐候性
――――― [JIS C 5201-6-1 pdf 8] ―――――
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C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び合 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
−高温(耐熱性)
−温湿度サイクル
(12+12時間サイ
クル)
最初のサイクル
−低温(耐寒性)
−減圧 8kPa
−温湿度サイクル
(12+12時間サイ
クル)
残りのサイクル
−直流負荷
外観 外観の損傷がなく,表示
は明りょうである。
抵抗値 圀
(...%R+...
抵抗素子間絶縁抵抗 R≧1G 圀
(適用する場合)JIS C
5201-6の2.3.6(隣接した
抵抗素子間の絶縁抵抗)
を参照
抵抗素子間耐電圧(適 絶縁破壊又はフラッシュ
用する場合)JIS C 5201-6 オーバがない。
の2.3.7(隣接した抵抗素
子間の耐電圧)を参照
副群C2 D 3 5 1
4.25.1 70℃での耐久性 JIS C 5201-6の2.3.5
(70℃での耐久性)を参
照
時間 : 1 000h
検査 : 48h,500h及び
1 000h
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
1 000hでの検査 :
抵抗素子間の絶縁抵抗 R≧1G 圀
(適用する場合)JIS C
5201-6の2.3.6(隣接した
抵抗素子間の絶縁抵抗)
を参照
毎年1個の試料を8 000h 12 5 −
まで延長検査する。
2 000h, 4 000h及び8 000h
での検査 :
抵抗値 圀
(...%R+...
(結果は,情報としてだ
け取り扱う。)
群D検査
(定期的)
――――― [JIS C 5201-6-1 pdf 9] ―――――
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C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び合 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
副群D1 D 12 12 1
4.24 高温高湿(定常) JIS C 5201-6の2.3.8[高
温高湿(定常)]を参照
外観 外観の損傷がなく,表示
は明りょうである。
抵抗値 圀
(...%R+...
抵抗素子間絶縁抵抗 R≧1G 圀
(適用する場合)JIS C
5201-6の2.3.6を参照
抵抗素子間耐電圧(適 絶縁破壊フラッシュオー
用する場合)JIS C 5201-6 バがない。
の2.3.7を参照
副群D2 D 36 10 1
4.4.3 寸法(詳細) この規格の表Iによる。
4.25.3 カテゴリ 時間 : 1 000h
上限温度での耐久性 48h, 500h及び1 000hでの
検査 :
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 圀
(...%R+...
1 000hでの検査 :
抵抗素子間絶縁抵抗 R≧1G 圀
(適用する場合)JIS C
5201-6の2.3.6を参照
――――― [JIS C 5201-6-1 pdf 10] ―――――
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JIS C 5201-6-1:1999の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-6-1:1983(IDT)
JIS C 5201-6-1:1999の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-6-1:1999の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5201-1:2011
- 電子機器用固定抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5201-6:1999
- 電子機器用固定抵抗器―第6部:品種別通則:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器
- JISZ9015:1980
- 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)