JIS C 5201-8:2014 電子機器用固定抵抗器―第8部:品種別通則:表面実装用固定抵抗器 | ページ 7

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C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-1:2007,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold
(IDT)
JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 :
B)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-2:2007,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry
heat(IDT)
JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc:
Vibration (sinusoidal)(IDT)
JIS C 60068-2-13 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-13:1983,Environmental testing−Part 2: Tests. Test M: Low air
pressure(IDT)
JIS C 60068-2-14 環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14:1984,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N:
Change of temperature及びAmendment 1:1986(IDT)
JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U:
Robustness of terminations and integral mounting devices(IDT)
JIS C 60068-2-30 環境試験方法−電気・電子−第2-30部 : 温湿度サイクル(12+12時間サイ
クル)試験方法(試験記号 : Db)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-30:2005,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db:
Damp heat, cyclic (12 h + 12 h cycle)(IDT)
JIS C 60068-2-45 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-45:1980,Environmental testing−Part 2: Tests−Test XA and
guidance: Immersion in cleaning solvents及びAmendment 1:1993(IDT)
JIS C 60068-2-78 環境試験方法−電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-78:2001,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab:
Damp heat, steady state(IDT)
JIS C 60695-11-5 耐火性試験−電気・電子−第11-5部 : 試験炎−ニードルフレーム(注射針
バーナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針
注記 対応国際規格 : IEC 60695-11-5:2004,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−
Needle-flame test method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)
IEC 60027-1,Letter symbols to be used in electrical technology−Part 1: General
IEC 60060-1,High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements
IEC 60195,Method of measurement of current noise generated in fixed resistors
IEC 60410,Sampling plans and procedures for inspection by attributes
IEC 60440,Method of measurement of non-linearity in resistors
IECQ 01,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ System)−Basic Rules
IECQ 001002-3:2005,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Rules of
procedure−Part 3: Approval procedures

JIS C 5201-8:2014の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60115-8:2009(IDT)

JIS C 5201-8:2014の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5201-8:2014の関連規格と引用規格一覧