JIS C 5201-8:2014 電子機器用固定抵抗器―第８部：品種別通則：表面実装用固定抵抗器

                                                                C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 一般事項・・・・[1]
•  1.1 適用範囲・・・・[1]
•  1.2 目的・・・・[1]
•  1.3 引用規格・・・・[1]
•  1.4 個別規格に規定する事項・・・・[2]
•  1.5 抵抗器の用途による性能分類・・・・[4]
•  2 推奨特性,定格及び試験の厳しさ・・・・[4]
•  2.1 推奨特性・・・・[4]
•  2.2 推奨定格値・・・・[8]
•  2.3 推奨する試験の厳しさ・・・・[9]
•  2.4 供試品の準備・・・・[12]
•  3 品質評価手順・・・・[14]
•  3.1 一般事項・・・・[14]
•  3.2 定義・・・・[14]
•  3.3 検査ロットの構成・・・・[15]
•  3.4 品質認証試験・・・・[15]
•  3.5 品質確認検査・・・・[16]
•  3.6 技術認証手順・・・・[16]
•  3.7 長期保管後の出荷・・・・[16]
•  附属書A(規定)ジャンパー(0 Ω)抵抗器・・・・[25]
•  附属書B(参考)文字記号及び略語・・・・[27]

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――――― [JIS C 5201-8 pdf 1] ―――――

C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子
情報技術産業協会(JEITA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申出があり,日
本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 5201-8:1998は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5201の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5201-1   第1部 : 品目別通則
    JIS C 5201-2   第2部 : 品種別通則 : 低電力非巻線固定抵抗器
    JIS C 5201-2-1 第2部 : ブランク個別規格 : 低電力非巻線固定抵抗器 評価水準E
    JIS C 5201-2-2 第2部 : ブランク個別規格 : 低電力非巻線固定抵抗器 評価水準F
    JIS C 5201-4   第4部 : 品種別通則 : 電力形固定抵抗器
    JIS C 5201-4-1 第4部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器 評価水準E
    JIS C 5201-4-2 第4部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器 評価水準F
    JIS C 5201-4-3 第4部 : ブランク個別規格 : 電力形固定抵抗器,ヒートシンク付き 評価水準H
    JIS C 5201-5   第5部 : 品種別通則 : 精密級固定抵抗器
    JIS C 5201-5-1 第5部 : ブランク個別規格 : 精密級固定抵抗器 評価水準E
    JIS C 5201-5-2 第5部 : ブランク個別規格 : 精密級固定抵抗器 評価水準F
    JIS C 5201-6   第6部 : 品種別通則 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器
    JIS C 5201-6-1 第6部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 同一抵抗値及
        び同一定格電力 評価水準E
    JIS C 5201-6-2 第6部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 異種抵抗値又
        は異種定格電力 評価水準E
    JIS C 5201-8   第8部 : 品種別通則 : 表面実装用固定抵抗器
    JIS C 5201-8-1 第8部 : ブランク個別規格 : チップ固定抵抗器 評価水準E
    JIS C 5201-9   第9部 : 品種別通則 : 個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器
    JIS C 5201-9-1 第9-1部 : ブランク個別規格 : 個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器−
        評価水準EZ

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――――― [JIS C 5201-8 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 5201-8 : 2014
                                                                          (IEC 60115-8 : 2009)

電子機器用固定抵抗器−第8部 : 品種別通則 : 表面実装用固定抵抗器

Fixed resistors for use in electronic equipment- Part 8: Sectional specification-Fixed surface mount resistors

序文

  この規格は,2009年に第2版として発行されたIEC 60115-8を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 一般事項

1.1 適用範囲

  この規格は,電子機器用表面実装用固定抵抗器について規定する。
  この規格は,JIS C 5201-1を品目別通則とする電子機器用表面実装用固定抵抗器(以下,抵抗器という。)
の品種別通則である。
  これらの抵抗器は,通常,品種(異なる形状)及び形式(異なる寸法)によって記述し,外部との電気
的接続を得るための電極をもち,主としてプリント配線板に直接取り付けて用いる。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60115-8:2009,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 8: Sectional specification−
              Fixed surface mount resistors(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

1.2 目的

  この規格の目的は,推奨定格及び推奨特性を規定し,JIS C 5201-1から適切な品質評価手順,試験及び
測定方法を選択し,この品種の抵抗器の一般的要求性能を規定することである。
  この規格に基づく個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格の要求性能と同等以上の
水準とする。

1.3 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
        の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
      注記 対応国際規格 : IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of

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C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)
             sampling plans for inspection of electronic components and packages(IDT)
    JIS C 5062 抵抗器及びコンデンサの表示記号
      注記 対応国際規格 : IEC 60062:2004,Marking codes for resistors and capacitors(MOD)
    JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
      注記 対応国際規格 : IEC 60063:1963,Preferred number series for resistors and capacitors,Amendment
             1:1967及びAmendment 2:1977(IDT)
    JIS C 5201-1:2011 電子機器用固定抵抗器−第1部 : 品目別通則
      注記 対応国際規格 : IEC 60115-1:2008,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 1: Generic
             specification(MOD)
    JIS C 60068-1:1993 環境試験方法−電気・電子−通則
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1: General and guidance及び
             Amendment 1:1992(IDT)
    JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ
        付け性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
             methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)
    JIS C 60068-2-58:2006 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の
        はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test
             methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface
             mounting devices (SMD)(MOD)
    JIS C 61340-3-1 静電気−第3-1部 : 静電気の影響をシミュレーションする方法−人体モデル(HBM)
        の静電気放電試験波形
      注記 対応国際規格 : IEC 61340-3-1,Electrostatics−Part 3-1: Methods for simulation of electrostatic
             effects−Human body model (HBM)   lectrostatic discharge test waveforms(IDT)
    IEC 61760-1:2006,Surface mounting technology−Part 1: Standard method for the specification of surface
        mounting components (SMDs)

1.4 個別規格に規定する事項

  個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。
  個別規格は,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求事項よりも低い要求事項を規定して
はならない。より厳しい要求事項を規定する場合は,その内容を個別規格の項目に記載し,例えば,注記
などで試験計画の中に明示する。
  個別規格には,次の事項を規定し,それぞれの規格値は,この規格の該当する項目から選択することが
望ましい。
1.4.1  外形図
  識別を容易にし,その他の抵抗器との比較のために,抵抗器を図示する。
1.4.2  形式及び寸法
  形式及び寸法は,2.1.1による。
  互換性及び取付けに影響する,寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。

――――― [JIS C 5201-8 pdf 4] ―――――

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                                                                C 5201-8 : 2014 (IEC 60115-8 : 2009)
1.4.3  推奨耐候性カテゴリ
  推奨耐候性カテゴリは,2.1.2による。
1.4.4  試験後の抵抗値変化の限界
  試験後の抵抗値変化の限界は,2.1.4による。
1.4.5  公称抵抗値範囲
  公称抵抗値範囲は,2.2.1による。
    注記 IECQの品質認証制度によって個別規格で認証を受けた製品と,この規格の公称抵抗値範囲と
          が異なる場合には,次の文章を追加することが望ましい。
            “各形式に有効な公称抵抗値範囲は,公称抵抗値の許容差及び抵抗温度係数とともに,IEC
          のウェブサイト(http://certificates.iecq.org/)の例に従う。”
1.4.6  公称抵抗値の許容差
  公称抵抗値の許容差は,2.2.2による。
1.4.7  抵抗温度係数
  抵抗温度係数は,2.1.3による。
1.4.8  定格電力
  定格電力は,2.2.3による。
  取付け条件は,2.4.2に示す。
  個別規格には,70 ℃以外の温度での最高許容電力を,図解又は記述様式のいずれかによる軽減曲線によ
って規定する。全ての折れ点(break point)を試験によって確認する。
1.4.9  素子最高電圧
  素子最高電圧は,2.2.4による。
1.4.10 絶縁電圧
  絶縁形抵抗器だけに適用する。
  絶縁電圧は,2.2.6及びJIS C 5201-1の2.2.10(絶縁電圧)による。
  JIS C 5201-1の4.6(絶縁抵抗)に示す試験ジグの寸法が適切でない小形の抵抗器については,個別規格
で規定する。
1.4.11 絶縁抵抗
  絶縁形抵抗器だけに適用する。
  絶縁抵抗は,2.2.5による。
  JIS C 5201-1の4.6に示す試験ジグの寸法が適切でない小形の抵抗器については,個別規格で規定する。
1.4.12 表示
  一般に,表面実装用抵抗器本体表面への表示をしない。ただし,抵抗器に表示をする場合には,JIS C 5062
の箇条3(固定抵抗器の色による表示)に従って抵抗値及びJIS C 5201-1の2.4(表示)に規定する残りの
事項を表示する。抵抗器の包装容器には,要求する全ての事項を表示する。
1.4.13 発注情報
  個別規格には,抵抗器を発注する場合に必要となる次の事項を規定する。
− 個別規格の番号及び形式
− JIS C 5062による公称抵抗値,公称抵抗値の許容差及び抵抗温度係数
1.4.14 取付け
  個別規格には,IEC 61760-1の箇条5(Specification of assembly process conditions)の実装工程条件に基づ

――――― [JIS C 5201-8 pdf 5] ―――――

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