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C 5381-31 : 2020 (IEC 61643-31 : 2018)
表11−材料グループとクラス分類との関係
材料グループ 比較トラッキング指数(CTI)a)
材料グループI 600≦CTI
材料グループII 400≦CTI<600
材料グループIIIa 175≦CTI<400
材料グループIIIb 100≦CTI<175
注a) 材料グループとクラス分類との関係は,JIS C
2134による(溶液AによるCTI値)。
測定は,製造業者が指定する最大断面積の導体がある場合,及び導体なしでも実施する。上部が円形で
ないナット及びねじは,最も好ましくない締付け位置にあるとみなす。
隔壁が存在する場合,空間距離は隔壁を横断して測定する。ここで隔壁が互いに連結していない二つの
部分で構成する場合,空間距離は隔壁間の間隙を含めて測定する。絶縁材からなる外部部品の溝又は孔に
よる距離は,触れることができる表面の金属はくに対して測定する。この目的で,この金属はくは,孔の
中に押し込まない。標準試験指(JIS C 0920:2003参照)を用いて,金属はくを隅又は同様のものに,押し
入れる。
沿面距離の途中に孔がある場合は,その幅が1 mm以上あるときその輪郭だけを考慮する。1 mmよりも
小さい孔は,その幅だけを考慮する。
互いに接着していない二つの部分で構成する隔壁がある場合,沿面距離は,分離している空隙の間を測
定する。充電部分と取付け表面のある隔壁との間の空間距離が1 mmよりも小さい場合,分離している表
面間の距離だけを考慮する。これを沿面距離とみなす。そうでない場合,全距離,すなわち空隙と分離し
ている表面との間の距離の総和を,空間距離と考える。金属部品が2 mm以上の厚さの自己硬化樹脂で覆
われているか,又は7.4.5に規定する試験電圧に耐える絶縁体で覆われている場合,沿面距離及び空間距
離は必要ない。
注型材料又は樹脂は,孔の縁を覆ってはならない。また,これらは,孔の壁面及びその中の金属部品に
強力に接着する。
試験は,工具を用いないで注型材料又は樹脂を引き離す検査を実施する。
7.6 環境及び材料試験
7.6.1 高温高湿条件下での寿命試験
この試験は,JIS C 60068-2-78に従って実施し,供試品の各防護モードに適用する。
供試品を,温度(40±2)℃及び相対湿度(93±3)%に調整した気候室内に500時間±1時間放置する。
試験中各防護モードを,UCPVに調整した少なくとも100 mAのIPをもつ試験電源に接続する。
7.6.2 合格基準
気候室から供試品を取出し室温放置(1時間±10分間)後,表5に規定する合格基準C,合格基準E及
び合格基準Gを適用する。
7.7 特定設計のSPDに対する追加試験
7.7.1 分離した入出力端子付1ポートSPDに対する試験
7.7.1.1 定格負荷電流(IL)
IL試験のための試験導体を,表12に示す。
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表12に規定する公称断面積のケーブルを用いて,常温で電圧UCPV − %をSPDに印加する。試験では,
温度的に安定に達するまでILを抵抗負荷に通電する。SPDへの付加的な冷却は認めない。
――――― [JIS C 5381-31 pdf 36] ―――――
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表12−IL試験のための試験導体
試験電流 断面積
A mm2 AWG
8以下 1.0 17
8を超え 12以下 1.5 16
12を超え 15以下 2.5 16
15を超え 20以下 2.5 14
20を超え 25以下 4.0 12
25を超え 32以下 6.0 10
32を超え 50以下 10 8
50を超え 65以下 16 6
65を超え 85以下 25 4
85を超え 100以下 35 2
100を超え 115以下 35 2
115を超え 130以下 50 1/0
130を超え 150以下 50 1/0
150を超え 175以下 70 2/0
175を超え 200以下 95 3/0
200を超え 225以下 95 3/0
225を超え 250以下 120 4/0
250を超え 275以下 150 300 MCM
275を超え 300以下 185 350 MCM
300を超え 350以下 185 350 MCM
350を超え 400以下 240 500 MCM
特定の国で他の標準化した断面積のケーブルを用いる場合は,
最も近い断面積のケーブルで試験を行うことが望ましい。
7.7.1.2 合格基準
表5に規定する合格基準C,合格基準F及び合格基準G並びに次の追加の合格基準を適用する。
試験中,通常使用でアクセス可能なSPDの表面の温度上昇は,JIS C 5381-11:2014の附属書Gに示す値
を超えてはならない。
7.7.2 屋外用SPDの環境試験
JIS C 5381-11:2014の附属書Fを参照する。これらの試験又は他の適切な試験手順の適用は,製造業者
と使用者との間の合意で実施する。
7.7.3 主回路と分離した回路をもつSPDの試験
主回路と分離した回路との間の絶縁抵抗は,JIS C 5381-11:2014の8.3.6に規定する試験を実施する。
主回路と分離した回路との間の耐電圧試験は,次に従って試験する。
・ 分離した回路が直流用に適合している場合は,7.4.5に規定する耐電圧試験を実施する。
・ 分離した回路が交流に適合している場合は,JIS C 5381-11:2014の8.3.7に規定する耐電圧試験を実施
する。
8 ルーチン試験及び受入試験
8.1 ルーチン試験
SPDがその性能に合致しているかを検証するために,SPDの製造中に適切な試験を実施する。製造業者
は,試験方法を指定する。
――――― [JIS C 5381-31 pdf 37] ―――――
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8.2 受入試験
受入試験は,製造業者と購入者との間の合意によって実施する。購入者が購入契約書で受入試験を指定
する場合には,次の試験を,供給するSPDの数量の3乗根を整数に切り下げた値の数量で実施する。供試
品の数量又は試験の内容の変更は,製造業者と購入者との間で協議する。
特に規定がない場合,次の試験を受入試験として規定する。
− 6.1.1に規定する検査による識別の確認。
− 6.1.2に規定する検査による表示の確認。
− 関係する箇条による電気的パラメータの確認(例えば,JIS C 5381-11:2014の8.3.3に規定する測定制
限電圧)。
――――― [JIS C 5381-31 pdf 38] ―――――
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附属書A
(規定)
電圧スイッチング部品の有無及び
SPDの続流の大きさを判断するための試験
A.1 一般
これらの試験は,6.1.1.5のa)及び/又は6.1.1.5のb)並びに7.2.3.2に規定する要求情報を提供するため
に製造業者によって実施する。
A.2 電圧スイッチング部品の有無を特定する試験
この試験は,SPDの内部設計が不明の場合にだけ実行する。この試験には,新しいサンプルを用いる。
この試験では,クラスI及びクラスII試験対応SPDは製造業者が指定するIn又はIimpの波高値をもつ標
準の8/20電流インパルスを用いる。クラスIII試験対応SPDは,コンビネーション発生器にて,製造業者
が指定したUOCに等しい開放電圧で用いる。
SPDに1回のインパルスを印加する。SPD端子間の電圧をオシロスコープで記録する。
記録した電圧波形が電流印加中に急激に低下した場合,SPD内部にスイッチング(クローバ)部品を含
むとみなす。
スイッチング部品の動作はJIS C 5381-12:2014の3.1.27の図3を参照する。
A.3 SPDの続流の大きさを判断する試験
この試験は,続流の波高値が5 A以上かどうかを判断することを目的とする。
SPDの内部設計及び続流の波高値が既知の場合,この試験は必要ない。
試験は次による。
a) 試験は,新しい供試品で実施する。
b) 電源の種類は線形直流電源を用いる。
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c) Pは100 A + %とする。試験回路は,100 μH以上のインダクタンスをもっていなければならない。
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d) PDの端子間で測定した電圧は,UCPV − %と等しくなければならない。
e) 続流は,インパルス電流8/20又はコンビネーション波形をトリガとして印加して測定する。
f) 試験インパルスの波高値は,In又はIimp又はUOCに対応する。
g) インパルスの極性は,電源電圧極性と一致しなければならない。
h) 続流のピーク値を測定及び記録する。
――――― [JIS C 5381-31 pdf 39] ―――――
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附属書B
(参考)
太陽電池試験電源の過渡的な動作
B.1 7.2.3.1に規定する太陽電池試験電源の過渡特性
動作責務試験中及び故障モード試験中に用いる太陽電池試験電源が比較可能な試験結果をもたらすこと
を確認するために,試験電源の動作を正確に定義するための手順を理解しておく必要がある。
太陽電池試験電源の過渡的なI/U特性は,動作中断時間tOFFに依存し,同じ開回路電圧及び短絡電流を
もつ線形電源のI/U特性とは異なる。
B.2 半導体スイッチを用いて太陽電池試験電源の過渡特性を決定する試験設定
半導体スイッチを用いて太陽電池試験電源の過渡動作を決定する試験設定を,図B.1に示す。
スイッチング時間調整可能な
駆動回路 例えばIGBTのような
高速スイッチ 太陽電池電源
プラス
電流(A)
C
駆動回路 I
V
電圧(V)
接地
A
図B.1−半導体スイッチを用いて太陽電池試験電源の過渡動作を決定する試験設定
太陽電池試験電源ISC=4 A,開回路電圧=640 Vにおける半導体スイッチの動作中断時間中の電圧及び電
流の時間的な挙動を,図B.2に示す。
半導体スイッチは,太陽電池試験電源が50 μs100 μs以内にスイッチオフするように調整する(図B.2
参照)。
図B.2−太陽電池試験電源ISC=4 A,開回路電圧=640 Vにおける
半導体スイッチの動作中断時間中の電圧及び電流の時間的な挙動
――――― [JIS C 5381-31 pdf 40] ―――――
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- IEC 61643-31:2018(IDT)
JIS C 5381-31:2020の国際規格 ICS 分類一覧
- 29 : 電気工学 > 29.240 : 送電及び配電網 > 29.240.10 : 変電所設備.サージ防止装置
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