JIS C 5402-1-1:2005 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－１部：一般試験―試験１ａ：外観

                                                             C 5402-1-1 : 2004 (IEC 60512-1-1 : 2002)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,
工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経
済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-1-1:2002,Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1: General examination - Test 1a: Visual examinationを基礎
として用いた。
  この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402の規格群は,JIS C 5402-1-100 : 試験一覧による。

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――――― [JIS C 5402-1-1 pdf 1] ―――――

C 5402-1-1 : 2004 (IEC 60512-1-1 : 2002)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 一般・・・・[1]
•  3. 試験する項目・・・・[1]
•  4. 外観試験の方法・・・・[2]
•  5. 個別規格に規定する事項・・・・[2]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 5402-1-1 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                        C 5402-1-1 : 2004
                                                                        (IEC 60512-1-1 : 2002)

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-1部 : 一般試験―試験1a : 外観

Connectors for electronic equipment -Tests and measurements - Part 1-1: General examination -Test 1a: Visual examination

序文

 この規格は,2002年に第1版として発行されたIEC 60512-1-1,Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 1-1: General examination - Test 1a: Visual examinationを翻訳し,技術的内容及び
規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1. 適用範囲

 この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の外観試験のための試験方法
について規定する。この試験方法は,類似の部品に用いてもよい。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 60512-1-1:2002,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1: General
              examination - Test 1a: Visual examination (IDT)

2. 一般

 外観試験は,関連規格におけるコネクタの識別表示,外観,出来栄え及び仕上がりを確認する。
外観試験は,ある範囲に対しては主観的な方法である。公正な判定が行われるように注意しなければなら
ない。欠陥,該当する標準との相違又はストレスによる変化は,それらの重要性によって注意深く区別し
なければならない。

3. 試験する項目

 次の項目を試験する。
a) 出来栄え及び仕上がり
b) 表示
c) 材料
d) 表面仕上げ
    例 −腐食のこん跡
        −色(適用する色標準又は色見本との比較)
        −光沢の度合[適用する光沢標準,例 : ボールズスケール(Boll's scale)又は見本との比較]
        −粗さ,溝,起伏,かききず,しわ,孔,細孔,くぼみ,隆起,うろこ,ひび割れ,ばりなど

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2
C 5402-1-1 : 2004 (IEC 60512-1-1 : 2002)
        −表面上及びその内部の異物
e) 半透明材料の内部状態,例えば,空洞,ガス状の含有物,及びフローライン(異物の含有を含む。)
f)  潤滑油の状態及び場所(目視で確認できる範囲内で)
g) 緩んだ部品及び離脱した部品(特にストレス後)

4. 外観試験の方法

 外観試験は,次のいずれかの方法による。
a) 裸眼(最適な観察距離及び照明の下で正常な視力,正常な色の識別能力をもつ裸眼)
b) 拡大鏡(規定する場合)
  この規格の目的上,特別な方法,例えば,偏光(材料内の内部応力観察用)又は他の計器(内部の材料
割れ又は細孔観察用)の使用は,個別規格で明確に要求しない限り,認めない。

5. 個別規格に規定する事項

 個別規格には,次の事項を規定する。
a) 試験する事項
b) 確認する特徴
c) 欠陥の基準
d) 拡大鏡の倍率(規定する場合)
e) この試験方法との相違

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