JIS C 5402-1-4:2002 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－４部：一般検査―試験１ｄ：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ）

C 5402-1-4 : 2002 (IEC 60512-1-4 : 1997)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) か
ら,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,
経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするため,IEC 60512-1-4 : 1997, Electromechanical
components for electronic equipment−Basic testing procedures and measuring methods−Part 1 : General−Section
4 : Test 1d : Contact protection effectiveness (scoop-proof) を基礎として用いた。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402の規格群は,JIS C 5402-1-100の試験一覧による。

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS C 5402-1-4 pdf 1] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                       C 5402-1-4 : 2002
                                                                        (IEC 60512-1-4 : 1997)

電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-4部 : 一般検査−試験1d : コンタクトの保護効果(スクーププルーフ)

Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 1-4 : General examination−Test 1d : Contact protection effectiveness(scoop-proof)

序文 この規格は,1997年に第1版として発行されたIEC 60512-1-4, Electromechanical components for
electronic equipment−Basic testing procedures and measuring methods−Part 1 : General−Section 4 : Test 1d :
Contact protection effectiveness (scoop-proof) を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作
成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲及び目的 この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)を試験するために用
いる。この試験は,個別規格に規定がある場合には,類似の部品にも使用してよい。
  この試験の目的は,結合する相手コネクタの先端が当該コネクタのコンタクトに偶然接触することを防
止する能力を検証するために,標準の試験方法を規定することである。この試験は,主にスクーププルー
フを要求する丸形多極コネクタに適用することを意図している。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 60512-1-4 : 1997 Electromechanical components for electronic equipment−Basic testing
              procedures and measuring methods−Part 1 : General−Section 4 : Test 1d : Contact protection
              effectiveness (scoop-proof) (IDT)
2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。この引用規格は,記載の年の版だけがこの規格の規定を構成するものであって,その後の改正版・追
補には適用しない。
    IEC 60512-4-1* : 200x Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 4-1 : Voltage
        stress tests−Test 4a : Voltage proof

――――― [JIS C 5402-1-4 pdf 2] ―――――

2
C 5402-1-4 : 2002 (IEC 60512-1-4 : 1997)
    参考 IEC規格番号に*が付いているものは,この規格の発効年時点で,IEC規格の審議中のもので
          あることを示す。
3. 試料の準備 コネクタにはすべてのコンタクトを取り付ける。それらを個別規格に従って配線する。
4. 試験方法
4.1   手順 導通を検出するために適した装置,例えば,オーム計を可動形コネクタのハウジング(シェ
ル)と固定形コネクタ内で互いに結線されたすべてのコンタクトとの間に接続する。
4.2   方法A 図1に図解するとおり,いろいろな角度及び回転で,めすコンタクトを取り付けた可動形
コネクタをおすコンタクトを取り付けた固定形コネクタに誤結合させることを試みている間,導通の形跡
を記録する。試験は,その後おすコンタクトを取り付けた可動形コネクタとめすコンタクトを取り付けた
可動形コネクタとの組合せで繰り返す。
                                 図1 方法A : 丸形コネクタの例
4.3   方法B おすコンタクトを各々もつ可動形コネクタと固定形コネクタとを結合する(図2参照)。

――――― [JIS C 5402-1-4 pdf 3] ―――――

                                                                                              3
                                                             C 5402-1-4 : 2002 (IEC 60512-1-4 : 1997)
          図2 方法B : おすコンタクトを各々もつ可動形コネクタと固定形コネクタとの結合
  コネクタは,IEC 60512-4-1*(旧IEC 60512-2)に従って規定の試験電圧で試験4a,耐電圧を行う。可動
形コネクタ内のすべてのコンタクトが互いに接続されたもので構成する第1グループと固定形コネクタ内
のすべてのコンタクトとが互いに接続された第2グループの各々のコンタクト間に試験電圧を印加する。
5. 要求事項
5.1   方法A 誤結合を試みている間,ハウジング(金属シェル)とおすコンタクトとの間で導通の形跡
があってはならない。
5.2   方法B 電圧破壊又はフラッシュオーバがあってはならない。
6. 個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
a) 配線の詳細を含む試料の準備
b) 方法Bの試験電圧
c) この試験方法との相違

――――― [JIS C 5402-1-4 pdf 4] ―――――

4
C 5402-1-4 : 2002 (IEC 60512-1-4 : 1997)
                               電子部品JIS原案作成委員会 構成表
                                   氏名                           所属
     (委員長)             平 山 宏 之       東京都立科学技術大学
     (委員)               吉 田 裕 道       東京都立産業技術研究所
                            寺 岡 憲 吾       防衛庁
                            藤 倉 秀 美       財団法人電気安全環境研究所
                            佐々木 喜 七      財団法人日本電子部品信頼性センター
                            村 岡 桂次郎
                            曽我部 浩 二
                            町 野 俊 明
                            橋 本     進      財団法人日本規格協会
                            福 原     隆      沖電気工業株式会社
                            村 上 昭 次       株式会社ケンウッド
                            山 本 克 巳       ソニー株式会社
                            西 林 和 男       株式会社東芝
                            新 井 謙 一       日本電気株式会社
                            小 林     弘      日本電気ファクトリエンジニアリング株式会社
                            中 野     武      松下通信工業株式会社
                            三 宅 敏 明       松下電器産業株式会社
                            伊 高 篤 己       三菱電機株式会社
                            三 宅 邦 彦       松尾電機株式会社
                            高 木 裕 司       アルプス電気株式会社
                            石 井     勝      第一電子工業株式会社
                            山 本 圭 一       進工業株式会社
                            尾 村 博 幸       日本ケミコン株式会社
                            大 島     寛      ニチコン株式会社
                            柴 田 一 寛       株式会社村田製作所
                            大 西 浩 司       本多通信工業株式会社
                            前 田 太 門       ヒロセ電機株式会社
                            八 木     誠      日本航空電子工業株式会社
                            小 島 槇 雄
                            窪 田     明      経済産業省
                            八 田     勲      経済産業省
     (事務局)             塚 田 潤 二       社団法人電子情報技術産業協会
                            中 山 正 美       社団法人電子情報技術産業協会

――――― [JIS C 5402-1-4 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6