JIS C 5402-14-6:2016 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１４－６部：封止（気密性）試験―試験１４ｆ：インタフェーシャルシーリング

                                                           C 5402-14-6 : 2016 (IEC 60512-14-6 : 2006)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 準備・・・・[2]
•  4.1 試料の準備・・・・[2]
•  4.2 装置・・・・[2]
•  4.3 潤滑剤又は封止材・・・・[2]
•  4.4 取付け・・・・[2]
•  5 試験方法・・・・[2]
•  6 個別規格に規定する事項・・・・[2]

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――――― [JIS C 5402-14-6 pdf 1] ―――――

C 5402-14-6 : 2016 (IEC 60512-14-6 : 2006)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402規格群の部編成は,JIS C 5402-1-100(第1-100部 : 一般−試験方法規格一覧)による。

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――――― [JIS C 5402-14-6 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 5402-14-6 : 2016
                                                                      (IEC 60512-14-6 : 2006)

電子機器用コネクタ−試験及び測定−第14-6部 : 封止(気密性)試験−試験14f : インタフェーシャルシーリング

Connectors for electronic equipment-Tests and measurements- Part 14-6: Sealing tests-Test 14f: Interfacial sealing

序文

  この規格は,2006年に第1版として発行されたIEC 60512-14-6を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1 適用範囲

  この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)に適用する。個別規格に規定がある場合に
は,類似の部品にも用いてよい。特に,引抜き可能なコンタクトをもつコネクタに適しているが,これに
限定しない。
  この規格は,塩水に浸せきする間,低い気圧にさらされることによる水の浸入に対するコネクタのイン
タフェーシャルシーリングの有効性を評価するための標準の試験方法について規定する。この試験の目的
は,コネクタのインタフェーシャルシーリング手段の効果を評価することである。さらに,電線又はコン
タクトのいずれも取り付けられていない場合,コネクタのある一つのキャビティから他のキャビティのシ
ーリングを評価する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60512-14-6:2006,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 14-6:
              Sealing tests−Test 14f: Interfacial sealing(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5402-14-5 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第14-5部 : 封止(気密性)試験−試験14e : 
        浸せき(減圧)
      注記 対応国際規格 : IEC 60512-14-5,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
             Part 14-5: Sealing tests−Test 14e: Immersion at low air pressure(IDT)

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C 5402-14-6 : 2016 (IEC 60512-14-6 : 2006)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
インタフェーシャルシーリング(interfacial sealing)
  一対のコネクタが結合したとき,湿気又は汚染物質の浸入を防ぐために結合面に設けたシールによる封
止。
3.2
フィラープラグ(filler plug)
  コネクタのグロメット孔を塞ぐために用いるアクセサリ。
3.3
グロメット(grommet)
  電線又はケーブルの入口部においてそれらを支持及び保護するために用いる部品又はアクセサリの一部。
また,それは湿気又は汚染物質の浸入を防ぐ場合がある。

4 準備

4.1 試料の準備

  試料は,ターミネーションをもつ結合した一対のコネクタとし,個別規格に規定するとおり結線する。
一方のコネクタの一つのコンタクトキャビティ,及び相手側コネクタの対応するコンタクトキャビティに
コンタクトを取り付けてはならない。また,その配線孔にもフィラープラグを取り付けてはならない。他
の配線していない孔は,フィラープラグを取り付ける。結線部を保護しないコネクタの場合(例えば,は
んだ付コンタクト),保護手段はグロメットに類するものを準備する。

4.2 装置

  装置は,JIS C 5402-14-5の規定による。

4.3 潤滑剤又は封止材

  個別規格で要求する場合,規定する潤滑剤又は封止材を,個別規格に規定する方法で適用する。

4.4 取付け

  試料の取付けは,適用する場合,個別規格による。

5 試験方法

  試験は,JIS C 5402-14-5の規定による。

6 個別規格に規定する事項

  個別規格には,次の事項を規定する。
    注記1 この事項は,JIS C 5402-14-5の規定と異なる場合がある。
a) 前処理(要求がある場合)
b) 電線又はケーブルのサイズ及びタイプを含む試料の結線
c) 適用する封止材及び/又は潤滑剤並びにその手段及び量,又は“封止材及び/又は潤滑剤は適用しな
    い。”旨の記載
d) 試験後の絶縁抵抗の最小値及び方法(A,B又はC)
e) 耐電圧及び最大許容漏えい電流

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                                                           C 5402-14-6 : 2016 (IEC 60512-14-6 : 2006)
    注記2 d) 及びe) の値は,この試験後の要求事項としている場合があるが,試験前の試料に要求す
            る値と同一でない場合がある。測定点は,個別規格で示すことが望ましい。
f)  この規格に規定する試験方法との相違