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C 5533-2 : 2008 (IEC 61606-2 : 2003)
2) 入力切替器を測定信号源に設定し,入力信号を選択チャネルに与え,出力信号を記録媒体に記録す
る。
3) 記録した信号を標準デジタル再生装置で再生して選択チャネルの出力信号レベルを測定し,A dBと
する。
4) 選択チャネルの入力端子を基準信号源入力インピーダンスで終端する。
5) 他のチャネルの入力端子に同じレベルで入力信号を与える。
6) 選択チャネルの出力信号を記録媒体に記録する。
7) 記録した信号を標準デジタル再生装置で再生して選択チャネルの出力レベルを測定し,B dBとする。
8) 供試装置がマルチチャネル機器の場合,入力信号をその他の入力端子に切り替えて4)7)の測定を
繰り返す。
9) 必要に応じて,他の周波数で同様に測定を繰り返す。
10) チャネルセパレーションNCH (dB) を,次の式で計算する。
NCH A B
6.4 ひずみ特性
6.4.1 入出力直線性
6.4.1.1 測定の方法
a) 供試装置がデジタル出力端子をもつ場合,次による。
供試装置及び測定機器を,図31のとおり構成する。
アナログ 供 試 狭帯域通過 デジタル
信号発生器 装 置 フィルタ レベルメータ
アナログ帯域内電圧計 デジタル波形モニタ
図31−装置のブロック図
b) 供試装置がデジタル出力端子をもたない場合,次による。
供試装置及び測定機器を,図32のとおり構成する。
アナログ 供 試 標準デジタル デジタル
信号発生器 装 置 再生装置 レベルメータ
アナログ帯域内電圧計 狭帯域通過フィルタ
記録媒体
図32−装置のブロック図
――――― [JIS C 5533-2 pdf 26] ―――――
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C 5533-2 : 2008 (IEC 61606-2 : 2003)
6.4.1.1.1 入力信号
入力信号の設定は,次による。
− 周波数 : 997 Hz又はJIS C 5533-1の表1に規定する他の周波数。
− 信号レベル : 表1による。信号語長は,16,20及び24ビットとする。
6.4.1.1.2 測定手順
a) 供試装置がデジタル出力端子をもつ場合,次による。
1) 供試装置を4.4の標準設定にする。
2) 表1の各信号レベルに対する出力信号レベルを測定する。
3) 基準測定電圧を基準にして,各入力信号電圧に対する出力レベルの偏差を記録する。この偏差を,
入出力直線性とする。
b) 供試装置がデジタル出力端子をもたない場合,次による。
1) 供試装置を4.4の標準設定にする。
2) 表1の各信号レベルに対する出力信号レベルを記録媒体に記録する。
3) 記録した信号を標準デジタル再生装置で再生し,各入力信号レベルに対する出力信号レベルを測定
する。
4) 基準測定電圧を基準にして,各入力電圧に対する出力レベルの偏差を記録する。この偏差を,入出
力直線性とする。
6.4.2 総合ひずみ率 (THD+N)
6.4.2.1 測定の方法
a) 供試装置がデジタル出力端子をもつ場合,次による。
供試装置及び測定機器を,図33のとおり構成する。
アナログ 供 試 デジタル
信号発生器 装 置 ひずみ率計
帯域内電圧計
図33−装置のブロック図
b) 供試装置がデジタル出力端子をもたない場合,次による。
供試装置及び測定機器を,図34のとおり構成する。
アナログ 供 試 標準デジタル デジタル
信号発生器 装 置 再生装置 ひずみ率計
帯域内電圧計 記録媒体
図34−装置のブロック図
――――― [JIS C 5533-2 pdf 27] ―――――
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C 5533-2 : 2008 (IEC 61606-2 : 2003)
6.4.2.1.1 入力信号
入力信号の設定は,次による。
− 周波数 : JIS C 5533-1の表1による。
− 信号電圧 : アナログフルスケール電圧
6.4.2.1.2 測定手順
a) 供試装置がデジタル出力端子をもつ場合,次による。
1) 供試装置を4.4に示す標準設定にする。
2) 供試装置に入力信号を与える。
3) 必要に応じて,入力信号レベルをアナログフルスケール電圧値の上下3 dB以内で変化させてもよい。
4) 出力信号のひずみ率をデジタルひずみ率計で測定する。
b) 供試装置がデジタル出力端子をもたない場合,次による。
1) 供試装置を4.4に示す標準設定にする。
2) 入力信号を供試装置に与え,出力信号を記録媒体に記録する。
3) 記録した信号を標準デジタル再生装置で再生する。出力信号のひずみ率をデジタルひずみ率計で測
定する。
二つ以上の入力信号を記録した場合,幾つかの値が得られることがある。このようにして得られたどの
値も,供試装置の総合ひずみ率としてもよい。
6.4.3 混変調ひずみ率
6.4.3.1 測定の方法
a) 供試装置がデジタル出力端子をもつ場合,次による。
供試装置及び測定機器を,図35のとおり構成する。
アナログ 供 試 混変調
信号発生器 装 置 ひずみ率計
デジタル
スペクトラムアナライザ
図35−装置のブロック図
b) 供試装置がデジタル出力端子をもたない場合,次による。
供試装置及び測定機器を,図36のとおり構成する。
アナログ 供 試 標準デジタル 混変調
信号発生器 装 置 再生装置 ひずみ率計
デジタル
記録媒体 スペクトルアナライザ
図36−装置のブロック図
――――― [JIS C 5533-2 pdf 28] ―――――
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C 5533-2 : 2008 (IEC 61606-2 : 2003)
6.4.3.1.1 入力信号
JIS C 5533-1の4.6.1.2に規定する信号を用いる。
6.4.3.1.2 測定手順
a) 供試装置がデジタル出力端子をもつ場合,次による。
1) 供試装置を4.4に示す標準設定にする。
2) 入力信号を供試装置に与え,混変調ひずみ率計で出力信号の混変調ひずみを測定する。
b) 供試装置がデジタル出力端子をもたない場合,次による。
1) 供試装置を4.4に示す標準設定にする。
2) 入力信号を供試装置に与え,出力信号を記録媒体に記録する。
3) 記録した信号を標準デジタル再生装置で再生し,混変調ひずみ率計で出力信号の混変調ひずみ率を
測定する。
JIS C 5533-2:2008の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61606-2:2003(IDT)
JIS C 5533-2:2008の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.160 : オーディオ,ビデオ及びAV技術 > 33.160.01 : オーディオ,ビデオ及びAV技術一般
JIS C 5533-2:2008の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5533-1:2008
- オーディオ機器及びオーディオビジュアル機器―デジタルオーディオ部―音響特性の基本測定方法―第1部:一般事項