この規格ページの目次
4
C 5925-3 : 2011
表2−シングルモード光ファイバピッグテール形C/Lバンド WDMデバイスの光学特性試験
項目 試験方法 試験条件 要求性能
最小値 最大値
挿入損失 挿入損失及び 波長範囲は,1 5301 564 nm及び1 5741 625 nmとする。 − 0.8 dB
反射減衰量の 供試品の光ファイバ長は,1.5 m以上とする。
波長依存性測 無偏光光源を用いる。
定(IEC 光源のスペクトル幅は,1 nm以下とし,波長可変光源とす
61300-3-7) ることが望ましい。
動作波長における光源の光出力安定性は,測定時間内で
±0.05 dB以内とする。
アイソレ 挿入損失及び 試験条件は,挿入損失と同様とする。 25 dB(Lバンド), −
ーション 反射減衰量の かつ,12 dB(Cバン
波長依存性測 ド),
定(IEC 又は,
61300-3-7) 25 dB(Cバンド),
かつ,12 dB(Lバン
ド)
ディレク ディレクティ 40 dB(グレードR)
測定に影響を及ぼさないように,測定に関係のない全ての −
ティビテ ビティ測定(JIS 50 dB(グレードU)
ポートには,反射が生じないように無反射終端処理を施
ィ C 61300-3-20)す。
ディレクティビティは,入出力ポートの全ての組合せにつ
いて測定する。
その他の試験条件は,挿入損失と同様とする。
反射減衰 方法1又は方法2
反射減衰量(JIS 40 dB(グレードR) −
量(RL) C 5901の6.5) 光源の波長範囲は,1 5301 564 nm及び1 5741 625 nm 50 dB(グレードU)
とする。
スペクトル幅は,20 nm以下とする。
OTDRパルス幅は,50 ns以下とする(方法2の場合)。
動作波長における光源の光出力安定性は,測定時間内で
±0.05 dB以内とする。
検出器の最低受光感度は−80 dBm以下とし,かつ,直線
性は±0.05 dB以内とする。
偏光依存 光損失の偏光 方法1,かつ,オプション1 − 0.2 dB
性損失 依存性(JIS C その他の試験条件は,挿入損失と同様とする。
(PDL) 5901の6.3)
波長依存 減衰量の波長 試験条件は,挿入損失と同様とする。 − 0.3 dB
性損失 依存性測定
(IEC
61300-3-7)
波長分散 群遅延及び波 MPS法を推奨する。 − 5 ps/nm
長分散測定 光源の波長範囲は,1 5301 564 nm及び1 5741 625 nm
(IEC/PAS とする。
61300-3-38)
偏波モー モード分散測 JME法又はPSA法とすることが望ましい。 − 0.1 ps
ド分散 定(IEC 光源の波長範囲は,1 5301 564 nm及び1 5741 625 nm
(PMD) 61300-3-32) とする。
――――― [JIS C 5925-3 pdf 6] ―――――
5
C 5925-3 : 2011
表2−シングルモード光ファイバピッグテール形C/Lバンド WDMデバイスの光学特性試験(続き)
項目 試験方法 試験条件 要求性能
最小値 最大値
光パワー 最大入力光パ 最大入力光パワー : 20 dBm 試験中及び試験前後の挿入損
損傷しき ワー 光パワー増加量 : 5 dBm 失は,この表に規定する最大値
い値 (JIS C 光パワー保持時間 : 30分間 以下とし,かつ,周囲条件下で
5901の8.8) 初期値の±0.3 dB以内とする。
試験中及び試験前後のアイソ
挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量の試験条件
レーションは,この表に規定す
は,それぞれの特性項目で記載されている試験条件とす
る。 る最小値以上とする。
試験中及び試験前後の反射減
挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験中
及び試験前後に測定し,試験中は,10分間以下の間隔で
衰量は,この表に規定する該当
測定する。 する波長及びグレードの最小
値以上とする。
6 環境及び耐久性特性
屋内環境条件で使用するための環境及び耐久性特性の試験方法,試験条件及び要求性能は,表3による。
表3−シングルモード光ファイバピッグテール形C/Lバンド WDMデバイスの環境及び耐久性特性
項目 試験方法 試験条件 要求性能
耐寒性 低温試験 温度 : 0 ℃±2 ℃ 試験前後の挿入損失は,表2に
(JIS C 暴露時間 : 96 時間 規定する最大値以下とし,かつ,
61300-2- 周囲条件下で初期値の±0.3 dB
17) 以内とする。
挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前後に
測定する。 試験前後のアイソレーション
は,表2に規定する最小値以上
とする。
試験前後の反射減衰量は,表2
に規定する該当する波長及びグ
レードの最小値以上とする。
耐熱性 高温試験 温度 : 60 ℃±2 ℃ 試験前後の挿入損失は,表2に
(JIS C 暴露時間 : 96 時間 規定する最大値以下とし,かつ,
61300-2- 周囲条件下で初期値の±0.3 dB
18) 以内とする。
挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前後に
測定する。 試験前後のアイソレーション
は,表2に規定する最小値以上
とする。
試験前後の反射減衰量は,表2
に規定する該当する波長及びグ
レードの最小値以上とする。
耐湿性 高温高湿 温度 : 30 ℃±2 ℃ 試験前後の挿入損失は,表2に
(定常 試験 相対湿度 : (85±2)% 規定する最大値以下とし,かつ,
状態) (JIS C 暴露時間 : 96 時間 周囲条件下で初期値の±0.3 dB
61300-2- 以内とする。
19) 試験前後のアイソレーション
挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前後に
測定する。 は,表2に規定する最小値以上
とする。
試験前後の反射減衰量は,表2
に規定する該当する波長及びグ
レードの最小値以上とする。
――――― [JIS C 5925-3 pdf 7] ―――――
6
C 5925-3 : 2011
表3−シングルモード光ファイバピッグテール形C/Lバンド WDMデバイスの環境及び耐久性特性
(続き)
項目 試験方法 試験条件 要求性能
温度サ 温度サイ 高温 : 60 ℃±2 ℃ 試験中及び試験前後の挿入損失
イクル クル 低温 : 0 ℃±2 ℃ は,表2に規定する最大値以下
(JIS C 放置時間 : 1時間以上 とし,かつ,周囲条件下で初期
5901 の 温度変化の割合 : 1 ℃/min 値の±0.3 dB以内とする。
8.2) サイクル数 : 5 試験中及び試験前後のアイソレ
ーションは,表2に規定する最
小値以上とする。
挿入損失及びアイソレーションは,試験中及び試験前後に測
定し,試験中は,10分間以下の間隔で測定する。 試験前後の反射減衰量は,表2
反射減衰量は,試験前後に測定する。 に規定する該当する波長及びグ
レードの最小値以上とする。
前処理 : 試験前,供試品は,室温環境中に2時間放置する。
後処理 : 試験後,供試品は,室温環境中に2時間放置する。
耐振性 耐振性 振動範囲 : 10 Hz55 Hz 試験前後の挿入損失は,表2に
(JIS C 試験時間 : 1 オクターブ/分 規定する最大値以下とし,かつ,
5901 の 振動軸 : 直交3軸 周囲条件下で初期値の±0.3 dB
7.1) 掃引サイクル数(10 Hz−55 Hz−10 Hz) : 15 以内とする。
振動振幅 : 0.75 mm 試験前後のアイソレーション
は,表2に規定する最小値以上
とする。
挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前後に
測定する。 試験前後の反射減衰量は,表2
に規定する該当する波長及びグ
取付方法 : 供試品は,アセンブリングカセット又はオーガナ
イザで取付具と強固に固定する。 レードの最小値以上とする。
光ファ 光ファイ 試験前後の挿入損失は,表2に
引張力 : 強化ケーブルに対して5 N/sの変化率で10 N±1 N
イバク バコード セカンダリ光ファイバに対して0.5 N/sの変化率で5 N±0.5 N
規定する最大値以下とし,かつ,
ランプ クランプ 周囲条件下で初期値の±0.3 dB
プライマリ光ファイバに対して0.5 N/sの変化率で2 N±0.2 N
強 度 強度(軸 引張力を加える位置 : 供試品の端から0.3 m 以内とする。
(軸方 方向引張 引張力持続時間 : 10 Nの場合120秒,5 N及び2 Nの場合60
試験前後のアイソレーション
向引張 り) 秒 は,表2に規定する最小値以上
り) (JIS C とする。
サンプリングレート(測定頻度) : 挿入損失は,負荷が最大に
5901 の 達してから30秒以下の間隔で測定する。 試験前後の反射減衰量は,表2
7.5) に規定する該当する波長及びグ
レードの最小値以上とする。
挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前後に
測定する。
耐衝撃 耐衝撃性 ピーク加速度 : 4 900 m/s2(500 g) 試験前後の挿入損失は,表2に
性 (JIS C パルス作用時間 : 1 ms,正弦半波 規定する最大値以下とし,かつ,
5901 の 軸数 : 3軸各2方向 周囲条件下で初期値の±0.3 dB
7.2) 衝撃回数 : 2 衝撃/軸,総数12 以内とする。
試験前後のアイソレーション
は,表2に規定する最小値以上
挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前後に
測定する。 とする。
試験前後の反射減衰量は,表2
に規定する該当する波長及びグ
レードの最小値以上とする。
――――― [JIS C 5925-3 pdf 8] ―――――
7
C 5925-3 : 2011
表3−シングルモード光ファイバピッグテール形C/Lバンド WDMデバイスの環境及び耐久性特性
(続き)
項目 試験方法 試験条件 要求性能
コネク コネクタ 荷重力及び保持時間 : 強化ケーブルに対して1 Nで1時間試験前後の挿入損失は,表2に
タの横 の横荷重 セカンダリ光ファイバに対して0.2 Nで5分間。 規定する最大値以下とし,かつ,
荷重 試験 荷重方向 : 互いに直交する2方向。 周囲条件下で初期値の±0.3 dB
(IEC 以内とする。
61300-2- 試験前後のアイソレーション
挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前後に
42) 測定する。 は,表2に規定する最小値以上
とする。
試験前後の反射減衰量は,表2
に規定する該当する波長及びグ
レードの最小値以上とする。
ストレ ストレイ 荷重力 : 強化ケーブルに対して2 N 試験前後の挿入損失は,表2に
インリ ンリリー 曲げ角度 : ±90° 規定する最大値以下とし,かつ,
リーフ フ曲げ試 サイクル数 : 30 周囲条件下で初期値の±0.3 dB
強度 験 以内とする。
(IEC 試験前後のアイソレーション
挿入損失,アイソレーション及び反射減衰量は,試験前後に
61300-2- 測定する。 は,表2に規定する最小値以上
44) とする。
試験前後の反射減衰量は,表2
に規定する該当する波長及びグ
レードの最小値以上とする。
7 試料
試料は,IEC 60793-2-50のタイプB1.1に基づくシングルモード光ファイバに接続できなければならない。
8 試験報告書
製造業者又は販売業者は,試験報告書及びそれを裏付ける証拠を使用者又は購入業者に提供し,試験を
実施し合格した証拠として使用者又は購入業者が受入検査に利用することができるようにしなければなら
ない。
試験報告書には,光学特性については試験条件及び性能値を,環境及び耐久性特性については試験条件,
試料数及び合格判定数を記載する。
9 表示
シングルモード光ファイバピッグテール形C/Lバンド WDMデバイスには,次の項目を表示しなけれ
ばならない。ただし,個々のシングルモード光ファイバピッグテール形C/Lバンド WDMデバイスに表
示することが困難な場合は,包装に表示してもよい。
a) 形名(製造業者の指定による。)
b) 製造業者名又はその略号
c) 製造年月若しくは製造ロット番号又はそれらの略号
――――― [JIS C 5925-3 pdf 9] ―――――
8
C 5925-3 : 2011
10 包装
包装は,輸送中及び保管中に,振動,衝撃などによる製品の破損又は品質の低下のおそれがないように
行う。また,短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には,安全管理及び保管環境条件に関する注
意及び要求事項とともに,有効期限を包装に表示する。
11 安全
光伝送システム又は装置に用いる場合,人体へ影響を及ぼす出射端子からの光の放射があり得る。その
ため,製造業者は,システム設計者及び使用者に対して,安全性に関する十分な情報及び確実な使用方法
を明示しなければならない。
――――― [JIS C 5925-3 pdf 10] ―――――
次のページ PDF 11
JIS C 5925-3:2011の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61753-083-2:2007(MOD)
JIS C 5925-3:2011の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 5925-3:2011の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5900:2019
- 光伝送用受動部品通則
- JISC5901:2001
- 光伝送用受動部品試験方法
- JISC61300-2-17:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-17:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-18:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-18部:高温試験
- JISC61300-2-19:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験(定常状態)
- JISC61300-2-19:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験―定常状態
- JISC61300-3-20:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-20部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定