JIS C 5940:1997 光伝送用半導体レーザ通則 | ページ 3

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C 5940 : 1997
    附属書2(参考) 光伝送用半導体レーザ環境試験及び耐久性試験用
                                      個別規格の様式
1. 環境試験及び耐久性試験 環境試験及び耐久性試験は,附属書2表1による。
                              附属書2表1 環境試験及び耐久性試験
            項目                試験条件             適用(1)   抜取方式       測定方法
                                                            検査水準 AQL     JIS C 7021
       はんだ耐熱性  温度260±5℃                                               A-1
       温度サイクル  低温_℃,高温_℃                                         A-4
                     保持時間_min,
                     移動時間_mim,回数_回
       熱衝撃        高温_℃,保持時間_min,                                  A-3
                     低温_℃,保持時間_min,
                     移動時間_s,回数_回
       温湿度サイク  高温_℃,高温側相対湿度_%,                              A-5
       ル            保持時間_min,
                     低温_℃,低温側相対湿度_%,
                     保持時間_min,
                     移動時間_s,回数_回
       気密性        加圧圧力Pa,                                            A-6 方法I
                     加圧時間_h(必要がある場合)
       自然落下(2)   高さ_cm,回数3回_                                        A-8
       衝撃(2)       方向_,最高加速度_ (m/s2) ,                             A-7
                     パルス幅_ms,回数_回
       定加速度      方向_,加速度_m/s2,                                     A-9
                     パルス幅_ms,回数_回,
                     周波数__Hz
       振動          全振幅又は加速度_,                                       A-10
                     方向_,時間_min
       端子強度      荷重_N,回数_回                                       A-11方法III
       塩水噴霧      時間_h                                                    A-12
       高温保存      温度_℃,時間_h                                          B-10
       動作寿命      ケース温度(又は周囲温度)_℃,
                     定光出力動作 光出力mW,
                     時間_h
       耐湿性        温度_℃,相対湿度_%,                                    B-11
                     時間_h
       注(1) 合否判定基準を適用する項目に○印を記入する。
         (2) 自然落下又は衝撃のいずれかを規定する。

――――― [JIS C 5940 pdf 11] ―――――

                                                                                             11
                                                                                   C 5940 : 1997
2. 合否判定基準 合否判定基準は附属書2表2による。
                                   附属書2表2 合否判定基準
              項目                     測定条件              許容値      単位    測定方法
                                                          最小値 最大値         JIS C 5941
      半導体レーザしきい値電算出方法_                                   mA
      流
      半導体レーザ動作電流(3)   o=_mW                                   mA
      半導体レーザ光出力(3)   op=_mA                                    mW
      モニタ用フォトダイオー Po=_mW                                      
      ド出力電流(4)         Vrd_V
      モニタ用フォトダイオー Vrd_V                                        
      ド暗電流(4)
      注(3) 動作電流又は光出力のいずれか一方を適用する。
        (4) モニタ用フォトダイオード内蔵形に適用する。
      備考 試験条件での記号の説明
             Vrd : モニタ用フォトダイオードの逆電圧

――――― [JIS C 5940 pdf 12] ―――――

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C 5940 : 1997
       附属書3(参考)        静電気破壊のおそれがあるデバイスへの表示
  静電気によって破壊するおそれがあり,取扱い上注意を必要とするデバイスであることを表示する記号
は次による。
1. 記号の使用 実用上適している内装が可能ならばデバイス上に表示する。データシート上,保管容器,
特別な防護用の包みなどに表示する。
  附属書3図2は,デバイス上に縮小して使用する場合に簡略化した記号である。
2. 記号の色 記号の色は次による。
          記号の種類                   色
         附属書3図1 下地は識別できれば単一色で何色でもよい。主に印刷によって表示する。
         附属書3図2 ただし,赤色は除く。
         附属書3図3 下地は黄色とする。文字及び記号は黒色とす主にラベルによって表示する。
                     る。
                                       付属書3図1 記号
                           附属書3図2 縮小する場合の簡略化した記号

――――― [JIS C 5940 pdf 13] ―――――

                                                                                             13
                                                                                   C 5940 : 1997
                              附属書3図3 文字と組み合わせた記号
関連規格 JIS C 7021 個別半導体デバイスの環境試験方法及び耐久性試験方法
                                光能動部品標準化委員会 構成表
                                          氏名                    所属
              (委員長)            福 田 光 男       日本電信電話株式会社
                                    井 沢     浩      三菱電機株式会社
                                    北相模 博 夫      富士通株式会社
                                    北 原 知 之       株式会社日立製作所
                                    城 野 順 吉       アンリツ株式会社
                                    堀 川 英 明       沖電気工業株式会社
                                    本 田 和 生       ソニー株式会社
                                    御神村 泰 樹      住友電気工業株式会社
                                    宮 島 博 文       浜松ホトニクス株式会社
                                    本 舘 淳 哉       株式会社東芝
                                    竹 川     浩      シャープ株式会社
                                    加 山 英 男       財団法人日本規格協会
                                    兼 谷 明 男       通商産業省
                                    増 田 岳 夫       財団法人光産業技術振興協会
              (事務局)            山 田 康 之       財団法人光産業技術振興協会