JIS C 5945:2005 光伝送用半導体レーザモジュール測定方法 | ページ 7

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        C 5945 : 2005
          2.引用規格  JIS C 0617           IEC62007-2   2      IEC規格には引用規格は  MOD/追                              JISでは本規格の補充を行っており,提案を
                                                                                    IEC規格では,図記号や計器に
          JIS C 1102-1                             無いと記述されている。 加                                  図る。
                                                                                    ついては触れていないが,JIS
          JIS C 5944                                                                では本規格の補充を行ってい
                                                                                    る。
          3.定義      本規格で用いる用語の −           −     −                     MOD/追    用語の定義がJISC5944(光伝JISでは本規格の補充を行っており,提案を
          定義について規定して                     (IECには規定なし)    加        送用半導体レーザモジュール図る。
          いる。                                                                    通則)に記載してあることを追
                                                                                    加。
          4.測定の状                       −
          測定状態(標準状態,基            −     −                     MOD/追    測定状態を追加。          本規格の対象であるレーザモジュールで通
          態          準状態,判定状態)につ                                          加                                  常広く行われているため追加する。
          いて規定している。                                                                                  (IEC60749 Chapter 1, Section 4の項を変更
                                                                                                              して設定)。IECへ提案を図る。
          5.測定用機  測定に使用する電源や −           −     −                     MOD/追                              本規格の対照であるレーザモジュールで一
                                                                                    測定用機器の精度,装置及び図
          器,装置,図 その他の測定器及び参                                            加        記号の参照規格を追加。    般的に配慮されているため追加する。
          記号及び単  照している図記号,単位                                                                               (IEC60749 Chapter 7, Section 1.2.1の項を
          位          についての注意事項に                                                                                変更して設定)。IECへ提案を図る。
          ついて記載している。
          6.測定方法  6.1順電流            IEC62007-2   3.1    順電流/光ファイバ端出 IDT       −
                                                   力測定
          6.2順電圧                                                       MOD/追    順電圧を追加              国内外で広く一般的に使用されており,商習
                                                                          加                                  慣上必要。IECへ提案する。
          6.3逆電圧                                                       MOD/追    逆電圧を追加
                                                                          加
          6.4光ファイバ端出力               3.1    順電流/光ファイバ端出 IDT       −
                                                   力測定
          6.5しきい値電流                   3.4    しきい値電流測定       IDT       −
          6.6しきい値光出力                                               MOD/追    しきい値光出力を追加      国内外で広く一般的に使用されており,商習
                                                                          加                                  慣上必要。IECへ提案する。
          6.7スロープ効率                   3.16   微分量子効率測定       IDT       −
          6.8縦モード間隔及び縦                                           MOD/追    縦モート゛間隔を追加
          モード数                                                        加
          6.9ピーク発振波長                 3.13   中心発振波長測定       MOD/追    ヒ゜ーク発振波長を追加
                                                                          加
          6.10中心波長,スペクト                                          IDT       −
          ル幅,スペクトル半値幅
          6.11変調時スペクトル                                            MOD/追    変調時スペクトルを追加    国内外で広く一般的に使用されており,商習
                                                                          加                                  慣上必要。IECへ提案する。

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          6.12 波長チャープ                                               MOD/追    波長チャープを追加。
                                                                          加
          6.13 サイドモード抑圧                                           MOD/追    サイドモード抑圧比を追加。
          比                                                              加
          6.14スペクトル線幅                3.10   スペクトル線幅測定     IDT       −
          6.15上昇時間,下降時              3.6    立ち上がり,立ち下がり時
          間,ターンオン時間,タ                   間測定
          ーンオフ時間,ターンオ
          ン遅延時間,ターンオフ
          遅延時間
          6.16遮断周波数                    3.3                           IDT
                                                   小信号変調帯域幅(遮断周
                                                   波数)測定
          6.17相対強度雑音                  3.5    相対強度雑音測定       IDT       −
          6.18高調波ひずみ
          6.18.1 複合2次,3次ひ            3.14   複合2次,3次ひずみ測定IDT       −
          ずみ測定
          6.18.2 2次,3次相互変            3.15   2次,3次相互変調ひずみIDT       −
          調ひずみ測定                             測定
          6.19信号対雑音強度比              3.7    信号対雑音強度比(CNR)  MOD/削    パワーメータによるCNR測定 スペクトラムアナライザによる方法が一般
                                                   測定                   除        を削除。                  的なため。
                                            3.18   アナログ用信号対雑音強 IDT       −
                                                   度比(CNR)測定
          6.20変調度                        3.19   変調度測定             IDT       −
          6.21トラッキングエラ                     トラッキングエラー測定 IDT       −
          ー
                                            3.2    IEC規格では,光伝送用半MOD/削    光伝送用半導体レーザモジュ削除した部分は別のJISとして制定済み又は
                                            3.8    導体レーザモジュール以 除        ール以外の記載内容を削除。制定予定である。
                                            3.11   外にも、LED、 pin-FET
                                            3.12                                                              制定済み : 
                                                   モジュールなどの光能動
                                            3.17
                                                   部品に適用する測定方法                                     JIS C 5941(光伝送用半導体レーザ)、JIS C
                                            4.1
                                            4.2    も規定されている。                                         5951(光伝送用発光ダイオード)、JIS C 5991
                                            4.3                                                               (光伝送用フォトダイオード)
                                            4.4                                                               制定予定 : 
                                            4.5                                                               光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュー

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        C 5945 : 2005
                                            4.6                                                               ル・pin-FETモジュール・光変調器モジュー
                                            4.7                                                               ル・デュプレクサモジュール
                                            4.8
                                            4.9
                                            4.10
                                            4.11
          JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : MOD
          備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
   ― IDT·················· 技術的差異がない。
   ― MOD/削除········· 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
   ― MOD/追加········· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
   ― MOD/変更········· 国際規格の規定内容を変更している。
   ― MOD/選択········· 国際規格の規定内容と別の選択肢がある。
   ― NEQ··············· 技術的差異があり,かつ,それがはっきりと識別され説明されていない。
 2.   JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
   ― IDT·················· 国際規格と一致している。
   ― MOD··············· 国際規格を修正している。
   ― NEQ··············· 技術的内容及び構成において,国際規格と同等でない。