JIS C 60068-2-7:1993 環境試験方法―電気・電子―加速度（定常）試験方法 | ページ 2

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C 0045-1993 (IEC 68-2-7 : 1983)
体の場所によって相当異なるという事実を考慮しなければならない。ある種の部品,とりわけ半導体部品
では,非常に高い加速度を加えることによって構造完全性(完全な機械的組立て)を確認する。そのよう
なレベルは,現実の使用状態と相関関係はないけれども,大きなストレスを加えて,構造上の欠陥を示す
簡単な方法としてこの試験が用いられている。
  部品又は回転部品を含む機器,例えば,ジャイロスコープを試験する場合,遠心加速機を用いると,部
品の回転と遠心加速機の回転間との結合に起因して,何らかの問題が生じる。そのような場合,製品規格
に適切な試験方法を規定し,適切な機能状態及び試験中の供試品の機能に対する許容範囲が受入可能なも
のとして変更することの必要性を示すことが望ましい。

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                                附属書B      指針(補追)
B.1 試験の目的
加速度試験の目的は,回転体,発射体,移動体及び特に宇宙飛行体におかれたときに生じる加速度効果と
同様な状態を,部品又は機器に与えることにある。
  また,この試験は,構造の完全性に関して,部品の設計及び製造が問題ないことを確認する方法として
も適用できる。
  供試品について,試験中動作させるか,又は単なる加速状態にするかは製品規格に明記しなければなら
ない。製品規格には,本体の6.4で記述しているように,供試品が正常か異常かという機能上の許容範囲
又は許容変化量について明記することが望ましい。
B.2 試験の厳しさの選択[本体の4.,6及び本体の8.(d),(g)参照]
加速試験のレベルについては,附属書AのA.2を参照。
  この試験を製品規格に規定する場合には,製品規格にすべての内容が含まれるように,本体の8.を参照
しなければならない。供試品に加わる試験のレベルは,できる限り輸送中又は動作中に加わる状態にする。
想定できる状態を考慮する場合,適切な厳しさとして,本体の4.に示す値から選択する。環境の厳しさが
規定できない場合には,最適な厳しさとして,種々の用途を考えて示した附属書B表Iから選び,製品規
格に規定しなければならない。
    備考 IEC 721 : Classification of Environmental Conditionsを参照するとよい。
            IEC 721では,実環境と同等の効果を与えるような試験の値を標準化しているのに対し,こ
          の規格 (JIS C 0045) は,実際に起こる定加速度の値を示している。
                          表I 種々の用途での代表的な試験の厳しさの例
                 この表は,強制的なものではないが,代表値をリストしたものである。
                 したがって,実際の厳しさと表の値とが異なることがある。
                   加速度                            用途
                    m/s2
                  30≦a≦100   供試品を航空機に搭載したときのレベル
                  50≦a≦200   航空機に搭載された供試品及び取付方法の破壊安全性に耐
                               える構造的又は究極的レベル
                 100≦a≦1 000 宇宙飛行物体での一般試験
                   5 000≦a    半導体部品,集積回路などでの構造の完全性試験
B.3 要求許容差(本体の3.1.2及び本体の3.1.4参照)
  この試験方法は,直線的な長さが短い供試品,例えば,10cm以下の場合,再現性が高い。大きな供試品
では再現性が低く,供試品と遠心加速機との相対的寸法(位置)に依存する。

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C 0045-1993 (IEC 68-2-7 : 1983)
                             環境試験方法JIS原案作成委員会 構成表
                                      氏名                        所属
        (委員長)          * 森 川 貞 重       財団法人日本電子部品信頼性センター
        (幹事)            * 高 久      清     工業技術院電子技術総合研究所
                            * 青 園 隆 司       タバイエスペック株式会社
                               池 田 順 一       財団法人日本規格協会
                               石 川 安 男       防衛庁
                               石 田 定 男       日本電気計器検定所
                            * 伊 藤      昭     伊藤精機株式会社
                            * 磯 野 昌 雄
                            * 岩 田      武      日本特殊印刷工業株式会社
                            * 柿 本 光 敏        シャープ株式会社
                            * 加 藤 敏 男        横河電機株式会社
                               児 島 幸次郎       財団法人日本写真機光学機器検査協会
                               後 藤 恒 人        財団法人機械電子検査協会
                            * 佐 藤      博      日本電信電話株式会社
                               清 水 英 範        社団法人日本電機工業会
                            * 鈴 木 俊 雄        財団法人日本電気用品試験所
                            * 武 田 克 巳        株式会社三菱電機サービスセンター
                               立 川      明      社団法人日本電子機械工業会
                            * 辻 本      治      財団法人機械電子検査検定協会
                               中 村 英 夫        財団法人鉄道総合技術研究所
                            * 西 山 和 夫        日本開閉器工業株式会社
                            * 畠 中 正 人        工業技術院電気規格課
                            * 羽 田 善 英        株式会社村田製作所
                               福 島      彰      財団法人日本船舶標準協会
                            * 三 上 和 正        東京都立工業技術センター
                            * 矢 部 邦 敏        株式会社東芝
                            * 山 本 圭 一        進工業株式会社
        (事務局)             鳴 神 長 昭        財団法人日本電子部品信頼性センター
                               備考 *印は小委員会委員を兼任