JIS C 61000-4-11:2021 電磁両立性―第４－１１部：試験及び測定技術―電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験（１相当たりの入力電流が１６Ａ以下の機器）

                                                          C 61000-4-11 : 2021 (IEC 61000-4-11 : 2020)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 一般事項・・・・[3]
•  5 試験レベル・・・・[4]
•  5.1 一般事項・・・・[4]
•  5.2 電圧ディップ及び短時間停電・・・・[4]
•  5.3 電圧変動(オプション)・・・・[5]
•  6 試験装置・・・・[9]
•  6.1 試験電圧発生器・・・・[9]
•  6.2 電源・・・・[11]
•  7 試験セットアップ・・・・[11]
•  8 試験手順・・・・[12]
•  8.1 一般事項・・・・[12]
•  8.2 試験室の基準条件・・・・[12]
•  8.3 試験の実施・・・・[13]
•  9 試験結果の評価・・・・[14]
•  10 試験報告書・・・・[14]
•  附属書A(規定)試験回路の詳細・・・・[16]
•  附属書B(参考)電磁環境クラス・・・・[19]
•  附属書C(参考)試験装置・・・・[20]
•  附属書D(参考)電圧の立ち上がり時間及び立ち下がり時間,並びにピーク電流供給能力に関する試験電圧発生器の仕様の根拠 23参考文献・・・・[26]

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――――― [JIS C 61000-4-11 pdf 1] ―――――

           C 61000-4-11 : 2021 (IEC 61000-4-11 : 2020)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第14条第1項の規定に基づき,認定産業標準
作成機関である一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準の案を添えて日本産業規格を改正すべ
きとの申出があり,経済産業大臣が改正した日本産業規格である。これによって,JIS C 61000-4-11:2008
は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実用新案権について,責任
はもたない。

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――――― [JIS C 61000-4-11 pdf 2] ―――――

                                      日本産業規格                            JIS
                                                                     C 61000-4-11 : 2021
                                                                      (IEC 61000-4-11 : 2020)

電磁両立性−第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験(1相当たりの入力電流が16 A以下の機器)

Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-11: Testing and measuring techniques-Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests forequipment with input current up to 16 A per phase

序文

  この規格は,2020年に第3版として発行されたIEC 61000-4-11を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対して,低圧電力系統に接続する電気·電子機
器のイミュニティ試験方法及び適切な試験レベルの範囲について規定する。
  この規格は,50 Hz又は60 Hzの交流系統に接続する,1相当たり16 A以下の定格入力電流をもつ電気·
電子機器に適用する。
  この規格は,400 Hzの交流回路に接続する電気·電子機器には適用しない。これらに対する試験は,将
来のJISで取り扱う。
  この規格の目的は,電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティを評価するための一
般的な基準を確立することにある。
  注記1 低振幅電圧変動のイミュニティ試験は,IEC 61000-4-14で規定している。
  この規格は,機器のイミュニティを評価するための矛盾がない方法,又は定義する現象に対する体系を
規定する。
  注記2 この規格は,IEC Guide 107で記載しているように,製品規格を作成するときに用いる基本EMC
          規格である。また,製品規格委員会は,このイミュニティ試験規格を適用すべきかどうかを決
          定する責任をもつ。さらに,適用する場合,適切な試験レベル及び性能評価基準を決める責任

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           2
C 61000-4-11 : 2021 (IEC 61000-4-11 : 2020)
          がある。基本EMC規格作成委員会は,それらの製品に対する特定のイミュニティ試験値の評
          価について,製品規格委員会と協力する用意がある。
  注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 61000-4-11:2020,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing and measurement
              techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment
              with input current up to 16 A per phase(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21に基づき,“一致している”こと
          を示す。

2 引用規格

  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,その一部又は全部がこの規格の要求事項
を構成している。この引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    IEC TR 61000-2-8 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 2-8: Environment−Voltage dips and short
        interruptions on public electric power supply systems with statistical measurement results

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
イミュニティ(妨害に対する)[immunity (to a disturbance)]
  電磁妨害が存在する環境で,機器,装置又はシステムが性能劣化せずに動作することができる能力
  (出典 : JIS C 60050-161:1997の161-01-20)
3.2
電圧ディップ(voltage dip)
  電力系統のある地点において発生し,短時間で復帰する,規定の電圧ディップしきい値以下への突然の
電圧低下
  注釈1 一般的に,電圧ディップは,系統又は系統に接続する設備における,回路の短絡又はその他の
          急激な電流増加の発生及び終了によって発生する。
  注釈2 電圧ディップは,そのレベルが電圧及び時間(継続時間)によって決まる二次元の電磁妨害で
          ある。
3.3
短時間停電(short interruption)
  電力系統のある地点において発生し,短時間で復帰する,規定の短時間停電しきい値以下への全ての相
の突然の電圧低下
  注釈1 一般的に,短時間停電は,系統又は系統に接続する設備における,短絡の発生及び終了に関連
          した遮断器の動作によって発生する。
3.4
残存電圧(residual voltage)
  電圧ディップ又は短時間停電の最中に記録された,実効値電圧の最小値

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                                                          C 61000-4-11 : 2021 (IEC 61000-4-11 : 2020)
  注釈1 残存電圧は,電圧値(ボルト),又は基準電圧の百分率若しくはPU値のいずれかで表現するこ
          ともある
3.5
誤動作(malfunction)
  機器が想定する動作を実行できなくなる状態,又は想定しない動作を実行する状態
3.6
校正(calibration)
  測定機器が仕様に適合していることを証明する作業
  注釈1 この規格の目的として,校正は試験電圧発生器に適用される。
3.7
検証(verification)
  試験システム(例えば,試験電圧発生器と相互接続しているケーブル)を確認し,この試験システムが
箇条6に規定する仕様の範囲内で機能していることを証明するために用いる一連の操作
  注釈1 検証のために用いる方法は,校正のために用いる方法と異なることもある。
  注釈2 6.1.3の検証手順は,意図する波形を供試機器(EUT)に印加するための試験セットアップを構
          成する試験電圧発生器,及びほかの構成機器の正しい動作を保証するための指針としての意味
          をもつ。
3.8
立ち上がり時間(rise time)
  電圧変化の瞬時値が最初に規定した下限値に到達し,その後規定された上限値に到達するまでの時間間
隔
  注釈1 下限値及び上限値は,電圧変化の開始から終了までの値の10 %及び90 %に固定されている(図
          1,図2及び図3参照)。
  (出典 : JIS C 60050-161:1997の161-02-05を一部変更)
3.9
立ち下がり時間(fall time)
  電圧変化の瞬時値が最初に規定した上限値に到達し,その後規定された下限値に到達するまでの時間間
隔
  注釈1 下限値及び上限値は,電圧変化の開始から終了までの値の10 %及び90 %に固定されている(図
          1,図2及び図3参照)。
  注釈2 この定義は,JIS C 60050-161:1997の161-02-05を基にしている。

4 一般事項

  電気·電子機器は,電力系統の電圧ディップ,短時間停電又は電圧変動によって影響を受けることがあ
る。
  電圧ディップ及び短時間停電は,(商用又は需要家構内の)電力系統における故障,又は設備内の負荷の
大きな急変によって発生する。ある状況では,2回以上連続した電圧ディップ又は短時間停電が発生する
ことがある。電圧変動は,電力系統に接続した連続的に変化する負荷によって発生する。

――――― [JIS C 61000-4-11 pdf 5] ―――――

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